The invention relates to a micro electro spin fluorescence measurement system, which is characterized in that: a micro Raman spectrometer, including a wide wave band linear polarizer and a wide band of four points, micro Raman spectroscopy and wide band linear polarizer and wave plate of the wide band 1/4 and a predetermined distance. In the same light path; a magnet system; a digital voltage source, the digital voltage source table and the magnet system in parallel; a long distance microscope, the long working distance is four points wide band microobjective wave plate and magnet system, and in the same light path.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体光学性质测试技术和磁性材料磁学性质测试
,特别涉铁磁性金属向半导体注入自旋效率的测量技术;提供一种测 量电致自旋荧光的显微测量系统。
技术介绍
现代信息技术利用电子的电荷自由度来进行信息处理,而用磁性材料 的自旋自由度来存储信息。自旋电子学这个新兴的领域同时利用电子的这 两个自由度来产生新的功能,这可能引起未来的信息技术的革新。但是, 到目前为止室温下半导体中自旋极化率仍然很低,所以自旋注入效率是目 前自旋电子学一个研究热点。通常研究自旋注入效率的方法是测量自旋发 光二极管的圆偏振光极化率为一种手段。为此,我们专利技术一种利用显微拉曼光谱仪MRS,结合宽波段线偏振片 LPR以及宽波段四分之一波片QWP搭建了一套测量电致发光光谱的方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测量电致自旋荧光的显微测量系统,利用 这套系统,可以对研究铁磁材料向半导体注入自旋效率。本专利技术一种测量电致自旋荧光的显微测量系统,其特征在于,包括一显微拉曼光谱仪、 一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片,所 述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定 距离,且位于同一光路上;一磁体系统;一数字电压源表,该数字电压源表与磁体系统并联;3一超长工作距离显微物镜,该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分 之一波片和磁体系统之间,且在同一光路上。其中利用显微拉曼光谱仪发出的激光,调整宽波段线偏振片和宽波段 四分之一波片光轴之间成45度夹角,使得圆偏振光通过宽波段四分之一波 片后的线偏振光可以用宽波段线偏振片检偏。其中所述的数字电压源表给样品加偏 ...
【技术保护点】
一种测量电致自旋荧光的显微测量系统,其特征在于,包括: 一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片,所述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距离,且位于同一光路上; 一磁体系统; 一数字电压源表,该数字电压源表与磁体系统并联; 一超长工作距离显微物镜,该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分之一波片和磁体系统之间,且在同一光路上。
【技术特征摘要】
1、一种测量电致自旋荧光的显微测量系统,其特征在于,包括一显微拉曼光谱仪、一宽波段线偏振片和一宽波段四分之一波片,所述的显微拉曼光谱仪、宽波段线偏振片和宽波段四分之一波片相距一预定距离,且位于同一光路上;一磁体系统;一数字电压源表,该数字电压源表与磁体系统并联;一超长工作距离显微物镜,该超长工作距离显微物镜位于宽波段四分之一波片和磁体系统之间,且在同一光路上。2、 根据权利要求1所述的测量电致自旋荧光的显微测量系统,其特 征在于,其中利用显微拉...
【专利技术属性】
技术研发人员:肖文波,郑厚植,徐萍,鲁军,刘剑,李桂荣,谭平恒,赵建华,章昊,朱汇,甘华东,李蕴慧,朱科,吴昊,张泉,袁思芃,罗晶,申超,李科,
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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