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测量脉冲型射线能谱的系统及方法技术方案

技术编号:4160484 阅读:191 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了测量脉冲型射线能谱的系统及方法。该系统包括用于测量脉冲型射线散射谱的装置,包括散射体前准直器、散射体、包括谱仪探测器和用于记录来自谱仪探测器的信号的谱仪主机的能谱仪、谱仪探测器置于其内的开孔中的该谱仪屏蔽体、位于散射体和谱仪探测器之间的至少一个准直器,其中所述脉冲型射线经过散射体前准直器后到达散射体,一散射角处的散射线由所述至少一个准直器准直后进入谱仪探测器。该系统还包括能量响应矩阵计算器、散射概率矩阵计算器、原始谱计算器、输入装置、以及显示装置。采用本发明专利技术,能实现对电子直线加速器打靶输出的X射线能谱的测量。

System and method for measuring pulse type ray energy spectrum

The present invention provides a system and method for measuring pulsed ray energy spectra. The system includes a device for measuring pulse type X-ray scattering spectrum, including scattering, scattering, collimator including spectrometer detector and opening for spectrometer and spectrometer detector is arranged in the spectrometer host record signal from the spectrometer detector in the spectrometer shield, in scattering the body and between the spectrometer detector at least one collimator, wherein the pulse type X-ray scattering through the front collimator after the arrival of the scattering, scattering line angle scattering by the at least one collimator after entering the spectrometer detector. The system also includes an energy response matrix calculator, a scattering probability matrix calculator, an original spectrum calculator, an input device, and a display device. The invention can realize the measurement of the X ray energy spectrum of the target output of the electron linear accelerator.

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于脉冲型射线的散射谱测量装置,包括: 散射体前准直器(2); 散射体(3); 能谱仪,包括谱仪探测器(7)和用于记录来自谱仪探测器(7)的信号的谱仪主机(8); 谱仪屏蔽体(6),谱仪探测器(7)置于该谱仪屏蔽 体(6)内的开孔中; 位于散射体(3)和谱仪探测器(7)之间的至少一个准直器, 其中所述脉冲型射线经过散射体前准直器(2)后到达散射体(3),一散射角处的散射线由所述至少一个准直器准直后进入谱仪探测器(7)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李君利阮明明申金邓艳丽曹艳峰王兵侯利娜李鹏宇刘星朱国平
申请(专利权)人:清华大学同方威视技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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