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制冷红外芯片的制作方法及制冷红外芯片技术

技术编号:41234016 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-09 23:49
本发明专利技术提供一种制冷红外芯片的制作方法,包括步骤:将碲锌镉晶圆作为衬底;在碲锌镉衬底上依次生长碲镉汞与钝化层;在芯片顶部匀上光刻胶;对碲锌镉衬底进行减薄;去除光刻胶并进行清洗。本发明专利技术通过对碲锌镉衬底进行减薄,减小了填胶烘烤产生的热应力,降低了铟柱因为应力而导致脱落或断裂的可能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及红外探测领域,尤其涉及一种制冷红外芯片的制作方法及制冷红外芯片


技术介绍

1、红外焦平面探测器是现代红外成像系统的关键核心部件。铟因具有非常高的量子效率和电子迁移率,使得采用铟制作探测器表现出极高的灵敏度。因此,在中波红外、单色探测领域,综合考虑生产成本、像元均匀性和一致性等因素,采用铟制作的红外焦平面探测器优势显著,被广泛应用于航空航天红外遥感、国防、气象和科学仪器等领域。在此类芯片加工中,目前最常用的是倒装式混合结构,采用铟柱倒焊技术的互连方法,探测器阵列和硅多路传输器这两个芯片通过的铟柱对接,将探测器阵列的每个探测元与多路传输器一对一地对准配接起来;但在加工过程中,该类芯片中的铟柱断裂的现象经常出现,严重降低了其最终的成品率。


技术实现思路

1、对于现有技术存在的技术问题,本专利技术提供一种制冷红外芯片的制作方法,包括步骤:

2、将碲锌镉晶圆作为衬底;

3、在碲锌镉衬底上依次生长碲镉汞与钝化层;

4、在芯片顶部匀上光刻胶;

5、对碲锌镉衬底进行减薄;

6、去除光刻胶并进行清洗。

7、可选的,该制作方法还包括步骤:在进行减薄并清洗后的芯片钝化层上进行开孔,并在开孔处生长金属电极;在金属电极上光刻出铟柱孔,并进行铟柱孔内生长铟柱;对芯片进行剥离清洗;根据切割道进行划片;与读出电路进行倒焊连接;将调配好的胶水点灌到倒焊好的芯片与读出电路的缝隙之间,并进行高温烘烤固化。

8、可选的,所述碲锌镉减薄后的厚度为300um~700um。

9、可选的,所述减薄为机械研磨。

10、可选的,所述机械研磨为使用砂轮进行物理机械研磨。

11、可选的,所述砂轮转速为500~3000rpm。

12、可选的,所述胶水为ab胶。

13、本专利技术还提供一种制冷红外芯片,其碲锌镉衬底厚度为300um~700um。

14、本专利技术通过对碲锌镉衬底进行减薄,减小了填胶烘烤产生的热应力,降低了铟柱因为应力而导致脱落或断裂的可能;同时,在铟光刻之前进行减薄,可以让芯片衬底更加平整,有利于光刻加工,也有利于镀膜长铟;碲锌镉衬底通过减薄,有了更高的平整度,去掉了不平整的地方,能使倒焊更好的控制垂向精度,提升倒焊良率。

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【技术保护点】

1.一种制冷红外芯片的制作方法,其特征在于,包括步骤:

2.根据权利要求1所述的芯片制作方法,其特征在于,还包括步骤:

3.根据权利要求1所述的芯片制作方法,其特征在于,所述碲锌镉减薄后的厚度为300um~700um。

4.根据权利要求1所述的芯片制作方法,其特征在于,所述减薄为机械研磨。

5.根据权利要求4所述的芯片制作方法,其特征在于,所述机械研磨为使用砂轮进行物理机械研磨。

6.根据权利要求5所述的芯片制作方法,其特征在于,所述砂轮转速为500~3000rpm。

7.根据权利要求2所述的芯片制作方法,其特征在于,所述胶水为AB胶。

8.一种利用权利要求1的方法形成的制冷红外芯片,其特征在于,其碲锌镉衬底厚度为300um~700um。

【技术特征摘要】

1.一种制冷红外芯片的制作方法,其特征在于,包括步骤:

2.根据权利要求1所述的芯片制作方法,其特征在于,还包括步骤:

3.根据权利要求1所述的芯片制作方法,其特征在于,所述碲锌镉减薄后的厚度为300um~700um。

4.根据权利要求1所述的芯片制作方法,其特征在于,所述减薄为机械研磨。

5.根据权利要求4所述的芯...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐志敏谭必松李伟伟毛剑宏姚佳静江益坤张国锋
申请(专利权)人:浙江珏芯微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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