System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种提高AR+AF膜耐磨性和寿命的工艺方法技术_技高网

一种提高AR+AF膜耐磨性和寿命的工艺方法技术

技术编号:41175654 阅读:4 留言:0更新日期:2024-05-07 22:11
本发明专利技术公开了一种提高AR+AF膜耐磨性和寿命的工艺方法,首先进行刻蚀,在离子源区通入惰性气体、刻蚀气体和O<subgt;2</subgt;,将镀有AR膜的基片送入所述离子源区,离化后的气体对AR表面进行刻蚀处理,然后进行后处理,在离子源区通入惰性气体和O<subgt;2</subgt;,最后在AR膜表面镀AF膜。本发明专利技术先通过对AR膜层表面的微刻蚀对AR膜层表面进行处理,改善AR表面形貌,再通过ICP后处理,改善AR表面的羟基数,增加脱水缩合性能,提高AR和后续AF膜的附着性能;AR+AF的耐磨水平提高到20000次大于100度的水准,提高了AR+AF膜的耐磨性和使用寿命,且不影响膜的光学性能,适用于不同基材的最外层为SiO<subgt;2</subgt;的各种材质各种厚度的AR。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于镀膜,具体为一种提高ar+af膜耐磨性和寿命的工艺方法。


技术介绍

1、由于节能和减反射的各种需求,在以玻璃,pc、pet、pmma等有机基片,金属,陶瓷等各种基片上,也有了镀制各种ar的不同需求,ar减反射膜需求量越来越大,如为了降低能耗和减少手机盖板玻璃在户外时的反射,许多手机前盖视窗玻璃上要求镀ar膜。还有汽车中控盖板玻璃上镀制ar的需求量也越来越大。目前在手机盖板和车载中控屏幕上ar基本都与af搭配使用,形成ar+af膜,以达到产品同时减反增透,又具备防指纹防污易清洁的功能。

2、为了实现各种减反射和光学需求,ar的膜厚和层数也在随着相应的需求会有变化,会变得更厚、层数更多。随着ar膜层的厚度变化,ar表面的粗糙度和表面形貌会变得更加复杂,一般来说当膜厚越厚、层数越多时,ar表面的粗糙度也会呈现变大的趋势,ar表面的形貌会呈现出各种不可控,比如呈现出各种异常尖端等。ar表面形貌和粗糙度的不可控,在ar工序后续的af工艺上会变得更加复杂,ar+af的表面相关性能,如耐摩擦、寿命等会受到极大的影响。所以需要在ar表面进行ar后处理。

3、常规的ar后处理包括plasma、线性离子源处理、rf离子源处理、霍尔离子源处理、icp处理等,但是上述处理基本浮于表面,仅能对表面进行轻微的轰击,处理效果不佳。目前行业内ar+af整体耐摩擦水平为:在一个常规条件(耐磨条件为1kg 0000#钢丝绒,频率60次/min行程50mm)的情况下,2000次耐磨后,水滴角一般都小于100度,大部分维持在70~90度的水平。目前尝试用各种常用的后处理工艺,水滴角也很难稳定在2000次耐磨后大于100,基本也是处于一个80~100度的水平。


技术实现思路

1、针对现有技术存在的上述问题,本专利技术的目的是提供一种提高ar+af膜耐磨性和寿命的工艺方法,先通过对ar膜层表面的微刻蚀对ar膜层表面进行处理,使ar表面由许多不规则的凸起和尖峰被处理为规则一致的表面,改善ar表面形貌,再通过icp后处理,施与一定的离子轰击和加温表面处理,改善ar表面的羟基数,增加脱水缩合性能,提高ar和后续af膜的附着性能;经过ar表面微刻蚀叠加icp后处理,ar+af的耐磨水平提高到20000次大于100度的水准,提高了ar+af膜的耐磨性和使用寿命,且不影响膜的光学性能,适用于不同基材的最外层为sio2的各种材质各种厚度的ar。

2、为了实现上述目的,本专利技术所采用的技术方案是:

3、一种提高ar+af膜耐磨性和寿命的工艺方法,首先进行刻蚀,在离子源区通入惰性气体、刻蚀气体和o2,将镀有ar膜的基片送入所述离子源区,离化后的气体对ar表面进行刻蚀处理,然后进行后处理,在离子源区通入惰性气体和o2,最后在ar膜表面镀af膜。

4、作为上述技术方案的进一步改进:

5、所述惰性气体为ar,所述离子源为icp离子源,所述icp的电源为rf电源,所述后处理为icp后处理。

6、所述刻蚀气体为cf4、sf6、chf3、nf3、c2f6、bcl3中的一种。

7、刻蚀时通过控制气体流量、rf功率和刻蚀时间实现对所述ar膜层表面的不同厚度的刻蚀处理,当刻蚀后的ar膜的光谱反射率和水滴角达到设定范围即完成刻蚀;icp后处理时通过控制气体流量、rf功率和处理时间实现对ar膜层表面的不同程度的处理,当水滴角达到设定值即完成icp后处理。

8、刻蚀时,rf功率为0.5~12千瓦,ar气体流量为50~1000sccm,刻蚀气体流量范围10~5000sccm,o2流量为10~2000sccm,刻蚀处理时间为0~30min。

9、icp后处理时,rf功率为0.5~12kw,ar流量为10~1000sccm,o2流量为0~2000sccm,处理时间为0~30min。

10、基片上所述ar膜层的最外层为sio2。

11、所述处理方法在镀膜设备中进行,所述镀膜设备包括依次布置的三个腔室:第一腔室、第二腔室和第三腔室,所述第二腔室中设有基片架,为一个圆桶式的鼓,基片固定在圆桶式的鼓的侧面,鼓围绕圆桶中心轴转动,基片围绕所述中心轴公转。

12、所述第二腔室中设有靶区和离子源区,所述靶区设有多个靶材,当所述基片经过所述靶区时,多个靶材依次溅射沉积在基片上,形成需要的ar膜层,基片转动时依次经过所述靶区和所述离子源区。

13、ar膜表面镀af膜在第三腔室中完成。

14、本专利技术的有益效果是:先通过对ar膜层表面的微刻蚀对ar膜层表面进行处理,使ar表面由许多不规则的凸起和尖峰被处理为规则一致的表面,改善ar表面形貌,再通过icp后处理,施与一定的离子轰击和加温表面处理,改善ar表面的羟基数,增加脱水缩合性能,提高ar和后续af膜的附着性能;经过ar表面微刻蚀叠加icp后处理,ar+af的耐磨水平提高到20000次大于100度的水准,提高了ar+af膜的耐磨性和使用寿命,且不影响膜的光学性能,适用于不同基材的最外层为sio2的各种材质各种厚度的ar。

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【技术保护点】

1.一种提高AR+AF膜耐磨性和寿命的工艺方法,其特征在于,首先进行刻蚀,在离子源区通入惰性气体、刻蚀气体和O2,将镀有AR膜的基片送入所述离子源区,离化后的气体对AR表面进行刻蚀处理,然后进行后处理,在离子源区通入惰性气体和O2,最后在AR膜表面镀AF膜。

2.根据权利要求1所述的工艺方法,其特征在于:所述惰性气体为Ar,所述离子源为ICP离子源,所述ICP的电源为RF电源,所述后处理为ICP后处理。

3.根据权利要求2所述的工艺方法,其特征在于:所述刻蚀气体为CF4、SF6、CHF3、NF3、C2F6、BCl3中的一种。

4.根据权利要求3所述的工艺方法,其特征在于:刻蚀时通过控制气体流量、RF功率和刻蚀时间实现对所述AR膜层表面的不同厚度的刻蚀处理,当刻蚀后的AR膜的光谱反射率和水滴角达到设定范围即完成刻蚀;ICP后处理时通过控制气体流量、RF功率和处理时间实现对AR膜层表面的不同程度的处理,当水滴角达到设定值即完成ICP后处理。

5.根据权利要求3所述的工艺方法,其特征在于:刻蚀时,RF功率为0.5~12千瓦,Ar气体流量为50~1000sccm,刻蚀气体流量范围10~5000sccm,O2流量为10~2000sccm,刻蚀处理时间为0~30min。

6.根据权利要求3所述的工艺方法,其特征在于:ICP后处理时,RF功率为0.5~12kw,Ar流量为10~1000sccm,O2流量为0~2000sccm,处理时间为0~30min。

7.根据权利要求1所述的工艺方法,其特征在于:基片上所述AR膜层的最外层为SiO2。

8.根据权利要求1所述的工艺方法,其特征在于:所述处理方法在镀膜设备中进行,所述镀膜设备包括依次布置的三个腔室:第一腔室、第二腔室和第三腔室,所述第二腔室中设有基片架,为一个圆桶式的鼓,基片固定在圆桶式的鼓的侧面,鼓围绕圆桶中心轴转动,基片围绕所述中心轴公转。

9.根据权利要求8所述的工艺方法,其特征在于:所述第二腔室中设有靶区和离子源区,所述靶区设有多个靶材,当所述基片经过所述靶区时,多个靶材依次溅射沉积在基片上,形成需要的AR膜层,基片转动时依次经过所述靶区和所述离子源区。

10.根据权利要求8所述的工艺方法,其特征在于:AR膜表面镀AF膜在第三腔室中完成。

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【技术特征摘要】

1.一种提高ar+af膜耐磨性和寿命的工艺方法,其特征在于,首先进行刻蚀,在离子源区通入惰性气体、刻蚀气体和o2,将镀有ar膜的基片送入所述离子源区,离化后的气体对ar表面进行刻蚀处理,然后进行后处理,在离子源区通入惰性气体和o2,最后在ar膜表面镀af膜。

2.根据权利要求1所述的工艺方法,其特征在于:所述惰性气体为ar,所述离子源为icp离子源,所述icp的电源为rf电源,所述后处理为icp后处理。

3.根据权利要求2所述的工艺方法,其特征在于:所述刻蚀气体为cf4、sf6、chf3、nf3、c2f6、bcl3中的一种。

4.根据权利要求3所述的工艺方法,其特征在于:刻蚀时通过控制气体流量、rf功率和刻蚀时间实现对所述ar膜层表面的不同厚度的刻蚀处理,当刻蚀后的ar膜的光谱反射率和水滴角达到设定范围即完成刻蚀;icp后处理时通过控制气体流量、rf功率和处理时间实现对ar膜层表面的不同程度的处理,当水滴角达到设定值即完成icp后处理。

5.根据权利要求3所述的工艺方法,其特征在于:刻蚀时,rf功率为0.5~12千瓦,ar气体流量为50~1000sc...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈立郑学军李新栓李俊杰寇立贺楚才孙桂红黄乐薛闯
申请(专利权)人:湘潭宏大真空技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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