【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电容式双测杆对接平整度检测仪，尤其适用于各种曲面、平面、回 转体等结构件对接过程中对接平齐度的检测。
技术介绍
目前大多对接平整度检测采用靠模检测法，即工人用平齐度较高的直板，比对接 在一起的板材是否在同一平面上。这种检测方法无法保证精度，劳动强度大，费时费力，也 不利于自动化生产。另一种用的较多的方法是用百分表等单测杆的量具分别测两块板材距 固定的测量装置的距离。这种方法操作过程繁琐，效率较低。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服已有技术中的不足之处，提供一种对接平齐度检测的精度， 加快检测速度，利于自动化生产的电容式双测杆对接平整度检测仪。本专利技术的电容式双测杆对接平整度检测仪，包括壳体、设在壳体顶部的上盖，壳体 内对称设有头部伸出壳体底板的左右两个测杆，左右两个测杆的头部分别设有测头，壳体 内左右两个测杆的外侧分别设有固定于壳体内壁上的导轨，左右两个测杆的内侧对称设有 两块构成接入电容信号处理器的电容极板，两块电容极板固定在绝缘块中部，绝缘块两侧 分别固定在左右两个测杆上，左右两个测杆上分别设有沿导轨移动的滑块，滑块的底部设 有弹簧，壳体的上端部固定有穿套左右两个测杆的定位板，上盖上设有与接线头相连的采 集、处理两个测杆相对位移信号的信号处理器。所述的壳体底部设有分别引导左右两个测杆下部导向的下导向套；所述的定位板 上设有分别引导左右两个测杆上部导向的上导向套；有益效果本专利技术采用双测杆结构，可同时测量对接的两块结构件；将结构件检 测表面的高度差转化为电容值的大小；通过电容信号处理芯片将电容值变化转化为电压信 号的大小；通过电压...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
一种电容式双测杆对接平整度检测仪，其特征在于它包括壳体(3)、设在壳体(3)顶部的上盖(7)，壳体(3)内对称设有头部伸出壳体底板的左右两个测杆(9)，左右两个测杆(9)的头部分别设有测头(2)，壳体(3)内左右两个测杆(9)的外侧分别设有固定于壳体(3)内壁上的导轨(11)，左右两个测杆(9)的内侧对称设有两块构成接入电容信号处理器的电容极板(5)，两块电容极板(5)固定在绝缘块(10)中部，绝缘块(10)两侧分别固定在左右两个测杆(9)上，左右两个测杆(9)上分别设有沿导轨(11)移动的滑块(4)，滑块(4)的底部设有弹簧(12)，壳体(3)的上端部固定有穿套左右两个测杆(9)的定位板(15)，上盖(7)上设有与接线头(6)相连的采集、处理两个...
【专利技术属性】
技术研发人员：张磊，姚群海，朱真才，马孝直，杨根喜，刘刚，王道强，李清民，李宾，
申请(专利权)人：中天仕名徐州重型机械有限公司，中国矿业大学，
类型：发明
国别省市：32
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