System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法技术_技高网

一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法技术

技术编号:40556079 阅读:9 留言:0更新日期:2024-03-05 19:17
本发明专利技术涉及芯片技术领域,具体地说是一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法。包括如下步骤:S1,将熔融玻璃制作成母版玻璃基板;S2,将母板玻璃基板送至加热炉,使其充分软化,再将通过锻压成薄玻璃基板胚;S3,对薄玻璃基板胚表面进行研磨,研磨至所需厚度,得到初玻璃基板;S4,对初玻璃基板胚溅射一层SiN涂层。同现有技术相比,通过制作玻璃芯基板增加了纳米TiO2颗粒,可以制作出高Tg高强度的基板,基板的极限将有现有的130um降低到50~60um,同时也增强了玻璃芯开槽底部的应力强度,保证能承受住叠层芯片的重量和压力。玻璃芯基板表面增加了SiN镀层提升了平整度。玻璃芯基板中间增加开槽,更降低减薄了芯片封装体的厚度,可降低20~30um的芯片厚度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片,具体地说是一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法


技术介绍

1、当前存储芯片的封装基板表面为水平的,存储芯片就是通过daf把多层芯片一层一层粘结叠加来增加存储容量,而封装芯片的垂直方向上的叠加势必会增加芯片的厚度,此种3d封装技术由于芯片累计层数较多导致封装体厚度较厚,难于满足现在电子产品和存储体轻小薄的需求。由于芯片容量和芯片厚度之间存在着反相关关系,既要满足大容量大存储,又要满足芯片厚度减薄,这使得封装和设计公司会面临技术的瓶颈无法突破。现行薄基板由于受到弯翘翘曲以及刚性不足的问题,导致薄基板厚度停留在80~90um的极限上难有突破。


技术实现思路

1、本专利技术为克服现有技术的不足,提供一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法。

2、为实现上述目的,设计一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:包括如下步骤:

3、s1,制作母版玻璃基板:将熔融玻璃制作成母版玻璃基板;

4、s2,锻压:将母板玻璃基板送至加热炉,使其充分软化,再将通过锻压成薄玻璃基板胚;

5、s3,研磨:对薄玻璃基板胚表面进行研磨,研磨至所需厚度,得到初玻璃基板;

6、s4,溅射涂层:对初玻璃基板胚溅射一层sin涂层,得到玻璃芯基板;

7、所述的步骤s1的方法具体包括如下步骤:

8、s11,在模具内的经向和纬向分别穿入超细玻璃纤维;

9、s12,向模具内加入经研磨过的纳米颗粒材料;

10、s13,在1200~1600℃的高温熔融8~10小时,在熔融的过程中添加纳米tio2、有机分散剂;

11、s14,熔融结束后,排气并收缩成型,得到母版玻璃基板。

12、所述的超细玻璃纤维选用直径小于4um的玻璃纤维。

13、所述的纳米颗粒材料为二氧化硅、氧化硼以及不含碱金属的氧化物的混合物;不含碱金属的氧化物选用coo,co2o3,seo中的一种。

14、所述的步骤s13中,纳米tio2颗粒直径为10~20nm,添加比例0.2%~1%,有机分散剂选用不含氮类化合物,添加比例20%~30%,不含氮类化合物选用聚乙二醇200或聚乙二醇400。

15、所述的步骤s2中得到的薄玻璃基板胚厚度60um~80um,步骤s3中研磨厚度20~40um,将薄玻璃基板胚减薄到30~40um。

16、所述的步骤s4中,涂层厚度2~3um,表面平整度满足3um以内。

17、在步骤s14得到的母版玻璃基板上封装芯片,还包括如下步骤:

18、s5,形成导电线路:对玻璃芯基板进行镭射打孔和开槽,再进行电镀导通、sap工艺形成需求的导电线路;

19、s6,形成绝缘阻焊层:通过涂布或压膜形成绝缘阻焊层,并电镀后形成finger手指;

20、s7,玻璃芯基板背面采用通用osp-pad设计,在玻璃芯基板完成生产后成型捞条,形成总厚度60um的薄基板;

21、s8,最后玻璃芯基板通过贴装芯片、wb打线、塑封、植球、切割后得到芯片封装结构。

22、所述的步骤s8得到的芯片封装结构包括玻璃芯基板、存储芯片、控制芯片,位于玻璃芯基板上表面设有凹槽,凹槽内设有若干存储芯片,玻璃芯基板两侧设有sin涂层,sin涂层外侧设有铜层,玻璃芯基板上侧的部分铜层外侧设有电镀镍金层,玻璃芯基板下侧的部分铜层外侧连接锡球,其余铜层外侧设有防焊油墨层,玻璃芯基板上侧的防焊油墨层上设有控制芯片,存储芯片、控制芯片均通过金线与电镀镍金层电连接。

23、若干存储芯片呈阶梯型布置,相邻存储芯片之间通过金线电连接。

24、所述的芯片封装结构外侧设有塑封层。

25、本专利技术同现有技术相比,具有以下有益效果:

26、1.通过制作玻璃芯基板增加了纳米tio2颗粒,可以制作出高tg高强度的基板,基板的极限将有现有的130um降低到50~60um,同时也增强了玻璃芯开槽底部的应力强度,保证能承受住叠层芯片的重量和压力。

27、2. 玻璃芯基板表面增加了sin镀层提升了平整度。

28、3. 玻璃芯基板中间增加开槽,更降低减薄了芯片封装体的厚度,可降低20~30um的芯片厚度。

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【技术保护点】

1.一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:所述的超细玻璃纤维(12)选用直径小于4um的玻璃纤维。

3.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:所述的纳米颗粒材料为二氧化硅、氧化硼以及不含碱金属的氧化物的混合物;不含碱金属的氧化物选用CoO,Co2O3,SeO中的一种。

4.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:所述的步骤S13中,纳米TiO2颗粒直径为10~20nm,添加比例0.2%~1%,有机分散剂选用不含氮类化合物,添加比例20%~30%,不含氮类化合物选用聚乙二醇200或聚乙二醇400。

5.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:所述的步骤S2中得到的薄玻璃基板胚厚度60um~80um,步骤S3中研磨厚度20~40um,将薄玻璃基板胚减薄到30~40um。

6.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板封的制作方法,其特征在于:所述的步骤S4中,涂层厚度2~3um,表面平整度满足3um以内。

7.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板封的制作方法,其特征在于:在步骤S14得到的母版玻璃基板上封装芯片,还包括如下步骤:

8.根据权利要求7所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板封的制作方法,其特征在于:所述的步骤S8得到的芯片封装结构包括玻璃芯基板(1)、存储芯片(9)、控制芯片(6),位于玻璃芯基板(1)上表面设有凹槽,凹槽内设有若干存储芯片(9),玻璃芯基板(1)两侧设有SIN涂层(2),SIN涂层(2)外侧设有铜层(3),玻璃芯基板(1)上侧的部分铜层(3)外侧设有电镀镍金层(5),玻璃芯基板(1)下侧的部分铜层(3)外侧连接锡球(7),其余铜层(3)外侧设有防焊油墨层(8),玻璃芯基板(1)上侧的防焊油墨层(8)上设有控制芯片(6),存储芯片(9)、控制芯片(6)均通过金线(5)与电镀镍金层(5)电连接。

9.根据权利要求8所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板封的制作方法,其特征在于:若干存储芯片(9)呈阶梯型布置,相邻存储芯片(9)之间通过金线(5)电连接。

10.根据权利要求8所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板封的制作方法,其特征在于:所述的芯片封装结构外侧设有塑封层(10)。

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【技术特征摘要】

1.一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:所述的超细玻璃纤维(12)选用直径小于4um的玻璃纤维。

3.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:所述的纳米颗粒材料为二氧化硅、氧化硼以及不含碱金属的氧化物的混合物;不含碱金属的氧化物选用coo,co2o3,seo中的一种。

4.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:所述的步骤s13中,纳米tio2颗粒直径为10~20nm,添加比例0.2%~1%,有机分散剂选用不含氮类化合物,添加比例20%~30%,不含氮类化合物选用聚乙二醇200或聚乙二醇400。

5.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板的制作方法,其特征在于:所述的步骤s2中得到的薄玻璃基板胚厚度60um~80um,步骤s3中研磨厚度20~40um,将薄玻璃基板胚减薄到30~40um。

6.根据权利要求1所述的一种可减薄封装厚度的玻璃芯基板封的制作方法,其特征在于:所述的步骤s4中,涂层厚度2~3um,表面平整度满足3...

【专利技术属性】
技术研发人员:肖俊徐刚邵滋人付永朝
申请(专利权)人:宏茂微电子上海有限公司
类型:发明
国别省市:

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