【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于芯片检测领域，尤其涉及一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统。
技术介绍
1、随着半导体行业的快速发张，芯片被广泛使用，芯片生产速度随之不断加快，每天都会有大量的芯片需要通过测试座进行筛选检测，在芯片的筛选测试环节中，由操作人员进行器件方向识别和外观缺陷识别，并放置到测试座内进行测试，长期重复性工作容易出现器件放置方向错误或者外观缺陷识别错误的现象，而操作人员未察觉直接通电，则会导致器件被烧坏。
技术实现思路
1、有鉴于现有技术的上述缺陷，本专利技术提出一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，本专利技术设计的技术方案包括：
2、图像采集模块、图像处理模块、图像识别模块和目标芯片测试模块；
3、所述图像采集模块用于获取目标芯片放置位置的图像并传输至图像处理模块；
4、所述图像处理模块用于对图像进行融合操作，输出融合图像并传输至图像识别模块；
5、所述图像识别模块用于对融合图像进行识别，获取目标芯片位置信号和外观信息的识别结果，并根据识别结果发送命令至目标芯片测试模块；
6、目标芯片测试模块用于根据命令控制是否给目标芯片进行通电测试。
7、优选地，所述图像采集模块为bfly-pge-16s2m-cs的黑白像素相机，分辨率为1440×1080，帧率为78fps。
8、具体的，识别结果显示器件信息正确且方向放置无误，进行通电测试，否则，不通电并发出警告，提醒操作人员检查器件信息与放置方向。
...【技术保护点】
1.一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述图像采集模块为BFLY-PGE-16S2M-CS的黑白像素相机，分辨率为1440×1080，帧率为78FPS。
3.根据权利要求1所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述对图像进行融合操作前还对图像进行角度偏差调整，所述角度偏差调整包括：
4.根据权利要求3所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述对图像进行顺时针转正的公式如下：
5.根据权利要求3所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述对图像进行逆时针转正的公式如下：
6.根据权利要求3-5任一项所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述构建图像旋转矩阵的公式如下：
7.根据权利要求1所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述对图像进行融合操作包括以下步骤：
8.根据权利要求7所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测
9.根据权利要求8所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述通过最大的稀疏系数向量得到融合稀疏向量的公式如下：
10.根据权利要求7所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述步骤S40中的将融合低频矩阵和融合全频矩阵进行融合的公式如下：
...【技术特征摘要】
1.一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述图像采集模块为bfly-pge-16s2m-cs的黑白像素相机，分辨率为1440×1080，帧率为78fps。
3.根据权利要求1所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述对图像进行融合操作前还对图像进行角度偏差调整，所述角度偏差调整包括：
4.根据权利要求3所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述对图像进行顺时针转正的公式如下：
5.根据权利要求3所述的一种基于机器视觉的芯片筛选防检测系统，其特征在于，所述对图像进行逆时针转正的公式如下：
6.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：葛亚山，李建强，柳紫微，任丽姣，
申请(专利权)人：北京京瀚禹电子工程技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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