【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储器验证,尤其是涉及一种存储器验证系统。
技术介绍
1、存储器,又称为半导体存储芯片,是一种用来存储程度和数据信息的记忆部件;而存储器作为一种芯片,难免会存在失效的情况,因此在使用存储器之前对存储器进行检测和功能验证是必不可少的。
2、传统的存储器验证方式是通过ate设备进行验证,这种方式成本较高,并且只能对单芯片进行验证,时间长,效率低;还可以通过编程器软件对存储器进行验证,这种方式成本虽然较低,但是同样只能对单芯片进行验证;因此,开发一种能够同时对多个存储器进行验证的方式是很有必要的。
技术实现思路
1、为了实现同时对多个存储器进行验证,本申请提供一种存储器验证系统。
2、本申请提供的一种存储器验证系统采用如下的技术方案:
3、一种存储器验证系统,包括控制模块、器件检测模块、验证模块、指示模块和电源模块;
4、所述控制模块连接存储器芯片,用于接发信号以及处理数据;
5、所述器件检测模块连接所述控制模块,用于对存储器
...【技术保护点】
1.一种存储器验证系统,其特征在于,包括控制模块(1)、器件检测模块(2)、验证模块(3)、指示模块(4)和电源模块(5);
2.根据权利要求1所述的存储器验证系统,其特征在于:所述控制模块(1)的型号为STM32F407VGT6;所述存储器芯片(10)的型号为S29GL01;所述控制模块(1)的IO管脚PD0-PD15连接所述存储器芯片(10)的管脚DQ0-DQ15;所述控制模块(1)的IO管脚PB0-PB15连接所述存储器芯片(10)的管脚A0-A15;所述控制模块(1)的IO管脚PC0-PC19连接所述存储器芯片(10)的管脚A16-A25,用于发送
...【技术特征摘要】
1.一种存储器验证系统,其特征在于,包括控制模块(1)、器件检测模块(2)、验证模块(3)、指示模块(4)和电源模块(5);
2.根据权利要求1所述的存储器验证系统,其特征在于:所述控制模块(1)的型号为stm32f407vgt6;所述存储器芯片(10)的型号为s29gl01;所述控制模块(1)的io管脚pd0-pd15连接所述存储器芯片(10)的管脚dq0-dq15;所述控制模块(1)的io管脚pb0-pb15连接所述存储器芯片(10)的管脚a0-a15;所述控制模块(1)的io管脚pc0-pc19连接所述存储器芯片(10)的管脚a16-a25,用于发送地址信号;所述控制模块(1)的管脚pc12连接所述存储器芯片(10)的管脚we#;所述控制模块(1)的管脚pc10连接所述存储器芯片(10)的管脚oe#;所述控制模块(1)的管脚pa0-pa7连接所述存储器芯片(10)的使能端管脚;所述控制模块(1)的管脚pe0-pe15连接所述存储器芯片(10)的管脚ry/by#。
3.根据权利要求2所述的存储器验证系统,其特征在于:所述器件检测模块(2)连接至所述控制模块(1)的pa11管脚;
4.根据权利要求2所述的存储器验证系统,其特征在于:所述验证模块(3)包括擦除单元(31)、烧录单元(32)和查空单元(33);
5.根据权利要求2所述的存储器验证系统,其特征在于:所述指示模块(4)包括状态指示单元(41)和结果指示单...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵杰,李涛,李品,黄振东,
申请(专利权)人:北京京瀚禹电子工程技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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