【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及固态硬盘测试领域，具体是一种基于测试结果数据的测试指标优化方法。
技术介绍
1、在固态硬盘的测试过程中，通常采用rdt测试，通过持续高强度的工作负载来加速固态硬盘的使用，以模拟ssd的长期使用条件，从而揭示潜在的失效模式和推断产品的长期可靠性性能。然而，传统的rdt测试方法中通常缺少对敏感参数高效识别和优化的机制。敏感参数是指那些对测试结果影响较大的参数，例如某项极端条件或任意极端条件的结合。传统的rdt测试方案对这些数据的利用往往不够有效，未能迅速定位潜在的失效问题，导致rdt测试过程的效率较低。
2、此外，常温老化测试在产品批量装配前评估和保证产品可靠性的关键步骤，但是确定最佳的老化测试时间通常依赖于经验而非精确的数据分析，这可能导致测试时间设置不准确：如果设置过短，可能无法发现早期的失效模式，危及产品质量；如果设置过长，会增加测试成本并浪费资源。
技术实现思路
1、为解决上述
技术介绍
中存在的问题，本专利技术采用以下技术方案：
2、一种基于测试结果...
【技术保护点】
1.一种基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：包括步骤：
2.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述步骤S6还包括：
3.根据权利要求2所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述平均故障间隔时间表示为：
4.根据权利要求3所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述加速因子表示为：
5.根据权利要求4所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述测试参数切换次数表示为：
6.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化...
【技术特征摘要】
1.一种基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：包括步骤：
2.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述步骤s6还包括：
3.根据权利要求2所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述平均故障间隔时间表示为：
4.根据权利要求3所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述加速因子表示为：
5.根据权利要求4所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述测试参数切换次数表示为：
6.根据权利要求1所述的基于测试结果数据的测试指标优化方法，其特征在于：所述第一测试参数集还包括断电...
【专利技术属性】
技术研发人员：周福池，谢兴，叶元彬，彭伟华，周旺英，张学义，
申请(专利权)人：韶关朗科半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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