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本发明公开了一种基于测试结果数据的测试指标优化方法，属于固态硬盘测试领域。方法包括步骤：准备待测试的SSD产品，设置第一测试参数集；将部分SSD产品设定为样本组，启动第一计时器；根据RDT测试策略和第一测试参数集对样本组进行RDT测试；识别...
该专利属于韶关朗科半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过韶关朗科半导体有限公司授权不得商用。

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