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样品对比检测时的标样参数调整方法、装置及检测设备制造方法及图纸

技术编号:40548431 阅读:7 留言:0更新日期:2024-03-05 19:06
本公开是关于一种样品对比检测时的标样参数调整方法、样品对比检测时的标样参数调整装置、存储介质及检测设备。该样品对比检测时的标样参数调整方法在进行样品对比检测时可根据提前建立的标准样品的多种检测位置与吸收峰的特征参数间的映射关系,及标准样品与目标样品进行样品对比检测时标准样品需要达到的目标特征参数,来灵活调整标准样品在EPR仪器中的检测位置,以调整标准样品在EPR仪器中扫描确定出的特征参数,使得标准样品在EPR仪器中扫描达到的特征参数满足用于与目标样品进行样品对比检测的检测要求,从而有利于标准样品与目标样品进行样品对比检测,进而提高对比检测效率与质量。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及电子顺磁,尤其涉及一种样品对比检测时的标样参数样品对比检测时的标样参数调整方法、样品对比检测时的标样参数样品对比检测时的标样参数调整装置、存储介质及检测设备。


技术介绍

1、电子顺磁共振技术可用于探测样品中的未成对电子。在epr实验中,微波激励会导致样品中的电子从低能级跃迁到高能级,发生共振吸收,从而产生明显的epr信号。对比定量方法通过引入一个标样来获取一系列样品的未成对电子数目。该方法已被广泛应用到化学、材料、工业等领域。但在对比检测过程中,当样品检测状态不变时,需要对标样检测状态进行调整,以便于对比检测。


技术实现思路

1、有鉴于此,本公开实施例期望提供一种样品对比检测时的标样参数样品对比检测时的标样参数调整方法、样品对比检测时的标样参数样品对比检测时的标样参数调整装置、存储介质及检测设备。

2、本公开的技术方案是这样实现的:

3、第一方面,本公开提供一种样品对比检测时的标样参数样品对比检测时的标样参数调整方法。

4、本公开实施例提供的样品对比检测时的标样参数样品对比检测时的标样参数调整方法,应用于epr仪器以对目标样品进行检测,包括:

5、通过所述epr仪器对处于预定检测位置的标准样品进行扫描,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的epr谱数据;

6、对所述epr谱数据进行吸收峰的特征参数提取,得到所述标准样品在多种检测位置时产生的吸收峰的特征参数;

7、建立所述标准样品的多种检测位置与所述吸收峰的特征参数间的映射关系;其中,每一个检测位置均对应有在所述检测位置对所述标准样品进行扫描确定出的特征参数;

8、基于所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品的吸收峰需要达到的目标特征参数,及所述标准样品的多种检测位置与所述epr谱数据中特征参数间的映射关系,调整所述标准样品在所述epr仪器中的检测位置,以调整所述标准样品在所述epr仪器中进行扫描时吸收峰的当前特征参数。

9、在一些实施例中,所述标准样品在所述epr仪器中的检测位置包括所述标准样品在所述epr仪器中的插入深度及所述标准样品在所述epr仪器中的自旋转角度;

10、所述通过所述epr仪器对处于预定检测位置的标准样品进行扫描,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的epr谱数据,包括:

11、通过改变所述标准样品在所述epr仪器中的插入深度及所述标准样品在所述epr仪器中的自旋转角度,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的epr谱数据。

12、在一些实施例中,所述特征参数包括每个自旋转角度所对应吸收峰在所述epr谱中的出峰位置和去峰位置、每个出峰位置所产生吸收峰的峰强度、每个出峰位置所产生吸收峰的峰面积及每个出峰位置所产生吸收峰的峰宽度;

13、所述建立所述标准样品的多种检测位置与所述吸收峰的特征参数间的映射关系,包括:

14、建立所述标准样品的每个检测位置与在所述检测位置得到的吸收峰在所述epr谱中的出峰位置、吸收峰的峰强度、吸收峰的峰面积及吸收峰的峰宽度间的映射关系;其中,一个自旋转角度下产生的epr谱中包含有多个出峰位置。

15、在一些实施例中,所述基于所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品的吸收峰需要达到的目标特征参数,及所述标准样品的多种检测位置与所述epr谱数据中特征参数间的映射关系,调整所述标准样品在所述epr仪器中的检测位置,包括:

16、基于所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品的吸收峰需要达到的目标特征参数,及所述标准样品的多种检测位置与所述epr谱数据中特征参数间的映射关系,确定出所述标准样品在所述epr仪器中进行扫描时得到所述目标特征参数所需要调至的目标检测位置;

17、调整所述标准样品在所述epr仪器中的检测位置至所述目标检测位置。

18、在一些实施例中,所述通过所述epr仪器对处于预定检测位置的标准样品进行扫描,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的epr谱数据前,所述方法包括:

19、根据对比检测需要,选择覆盖待检测样品的未成对电子体系的样品作为所述标准样品;其中,所述标准样品包括具有不同自由基或过渡金属离子的化合物。

20、在一些实施例中,所述通过所述epr仪器对处于预定检测位置的标准样品进行扫描,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的epr谱数据前,所述方法包括:

21、根据epr仪器的要求设置扫描参数;所述扫描参数包括:

22、微波功率、扫描速度及调制场幅度。

23、在一些实施例中,所述基于所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品的吸收峰需要达到的目标特征参数,及所述标准样品的多种检测位置与所述epr谱数据中特征参数间的映射关系,调整所述标准样品在所述epr仪器中的检测位置前,所述方法包括:

24、获取所述目标样品在所述epr仪器中进行扫描时得到的特征参数;

25、基于所述目标样品在所述epr仪器中进行扫描时得到的特征参数,及所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时需要满足的特征参数比对条件,确定所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品需要达到的目标特征参数。

26、第二方面,本公开提供一种样品对比检测时的标样参数调整装置,应用于epr仪器以对目标样品进行检测,所述装置包括:

27、数据获取模块,用于通过所述epr仪器对处于预定检测位置的标准样品进行扫描,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的epr谱数据;

28、参数提取模块,用于对所述epr谱数据进行吸收峰的特征参数提取,得到所述标准样品在多种检测位置时产生的吸收峰的特征参数;

29、映射关系建立模块,用于建立所述标准样品的多种检测位置与所述吸收峰的特征参数间的映射关系;其中,每一个检测位置均对应有在所述检测位置对所述标准样品进行扫描确定出的特征参数;

30、参数调整模块,用于基于所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品的吸收峰需要达到的目标特征参数,及所述标准样品的多种检测位置与所述epr谱数据中特征参数间的映射关系,调整所述标准样品在所述epr仪器中的检测位置,以调整所述标准样品在所述epr仪器中进行扫描时吸收峰的当前特征参数。

31、第三方面,本公开提供一种计算机可读存储介质,其上存储有样品对比检测时的标样参数调整程序,该样品对比检测时的标样参数调整程序被处理器执行时,实现上述第一方面所述的样品对比检测时的标样参数调整方法。

32、第四方面,本公开提供一种检测设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的样品对比检测时的标样参数调整程序,所述处理器执行所述样品对比检测时的标样参数调整程序时,实现上述第一方面所述的样品对比检测时的标样参数调整方法。

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【技术保护点】

1.一种样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,应用于EPR仪器以对目标样品进行检测,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述标准样品在所述EPR仪器中的检测位置包括所述标准样品在所述EPR仪器中的插入深度及所述标准样品在所述EPR仪器中的自旋转角度;

3.根据权利要求2所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述特征参数包括每个自旋转角度所对应吸收峰在所述EPR谱中的出峰位置和去峰位置、每个出峰位置所产生吸收峰的峰强度、每个出峰位置所产生吸收峰的峰面积及每个出峰位置所产生吸收峰的峰宽度;

4.根据权利要求1-3任一项所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述基于所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品的吸收峰需要达到的目标特征参数,及所述标准样品的多种检测位置与所述EPR谱数据中特征参数间的映射关系,调整所述标准样品在所述EPR仪器中的检测位置,包括:

5.根据权利要求1-3任一项所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述通过所述EPR仪器对处于预定检测位置的标准样品进行扫描,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的EPR谱数据前,所述方法包括:

6.根据权利要求1-3任一项所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述通过所述EPR仪器对处于预定检测位置的标准样品进行扫描,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的EPR谱数据前,所述方法包括:

7.根据权利要求1-3任一项所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述基于所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品的吸收峰需要达到的目标特征参数,及所述标准样品的多种检测位置与所述EPR谱数据中特征参数间的映射关系,调整所述标准样品在所述EPR仪器中的检测位置前,所述方法包括:

8.一种样品对比检测时的标样参数调整装置,其特征在于,应用于EPR仪器以对目标样品进行检测,所述装置包括:

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有样品对比检测时的标样参数调整程序,该样品对比检测时的标样参数调整程序被处理器执行时,实现权利要求1-7中任一项所述的样品对比检测时的标样参数调整方法。

10.一种检测设备,其特征在于,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的样品对比检测时的标样参数调整程序,所述处理器执行所述样品对比检测时的标样参数调整程序时,实现权利要求1-7中任一项所述的样品对比检测时的标样参数调整方法。

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【技术特征摘要】

1.一种样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,应用于epr仪器以对目标样品进行检测,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述标准样品在所述epr仪器中的检测位置包括所述标准样品在所述epr仪器中的插入深度及所述标准样品在所述epr仪器中的自旋转角度;

3.根据权利要求2所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述特征参数包括每个自旋转角度所对应吸收峰在所述epr谱中的出峰位置和去峰位置、每个出峰位置所产生吸收峰的峰强度、每个出峰位置所产生吸收峰的峰面积及每个出峰位置所产生吸收峰的峰宽度;

4.根据权利要求1-3任一项所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述基于所述标准样品与目标样品进行样品对比检测时所述标准样品的吸收峰需要达到的目标特征参数,及所述标准样品的多种检测位置与所述epr谱数据中特征参数间的映射关系,调整所述标准样品在所述epr仪器中的检测位置,包括:

5.根据权利要求1-3任一项所述的样品对比检测时的标样参数调整方法,其特征在于,所述通过所述epr仪器对处于预定检测位置的标准样品进行扫描,获取所述标准样品在多种检测位置时所检测得到的epr谱数据前,所述方法包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:赵新星石致富
申请(专利权)人:国仪量子技术合肥股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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