System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 检测设备的调试方法、检测设备以及计算机可读存储介质技术_技高网

检测设备的调试方法、检测设备以及计算机可读存储介质技术

技术编号:40953218 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-18 20:28
本发明专利技术公开了一种检测设备的调试方法、检测设备及计算机可读存储介质,检测设备包括:基板、第一检测台、第二检测台、观测组件,基板具有样品孔,第一检测台限定出与样品孔连通的腔室,第二检测台包括探头,观测组件朝向样品孔设置且用于显示观测像,调试方法包括:向腔室充入气体,以使样品孔处的膜朝向探头鼓起;驱动探头靠近膜移动至观测像中出现牛顿环;获取牛顿环的中心点,根据牛顿环的中心点在观测像中的位置驱动探头运动,以使牛顿环的中心点与观测像的中心点重合。由此,通过本申请调试方法,能够可靠的调整探头与膜的平行度,确保膜和探头的贴合从膜的中心发生,降低探头与膜过度贴合的情况发生的概率,有利于保证检测过程的顺利进行。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测设备,尤其是涉及一种检测设备的调试方法、检测设备以及计算机可读存储介质


技术介绍

1、qdm成像(quantum diamond microscope)是一种生物成像技术,利用磁珠(impeticbead)进行标记并贴合nv色心(钻石中的氮-空位(nv)色心发光缺陷可以被微波场和静磁场引发电子自旋共振,其可通过激光读出),测量被测样品周围的磁场或微波场分布,可实现定量无损的微观磁场成像,具有空间分辨率高、视野范围大、可探测磁场动态范围大、成像速度快等特点进行成像。

2、在实际检测过程中,需要使金刚石的nv色心与样品多孔腔鼓起的薄膜进行贴合,以进行测量,然而,测量时对金刚石与薄膜的平行度要求较高,否则会出现金刚石与薄膜的贴合点偏移、贴合点不在视野范围内的情况,从而容易造成过度贴合导致薄膜破碎,严重影响测量的进行。


技术实现思路

1、本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本专利技术的一个目的在于提出一种检测设备的调试方法,该检测设备的调试方法能够确保膜和探头的贴合从膜的中心发生,降低探头与膜过度贴合的情况发生的概率。

2、本专利技术进一步地提出了一种检测设备。

3、本专利技术进一步地提出了一种计算机可读存储介质。

4、根据本专利技术的检测设备的调试方法,所述检测设备包括:基板、第一检测台、第二检测台、观测组件,所述基板具有样品孔,所述样品孔处设有膜,所述第一检测台位于所述基板的一侧且限定出与所述样品孔连通的腔室,所述第二检测台位于所述基板的另一侧,所述第二检测台包括探头,所述观测组件朝向所述样品孔设置且用于显示观测像,所述调试方法包括:向所述腔室充入气体,以使所述样品孔处的所述膜朝向所述探头鼓起;驱动所述探头靠近所述膜移动至所述观测像中出现牛顿环;获取所述牛顿环的中心点,根据所述牛顿环的中心点在所述观测像中的位置驱动所述探头运动,以使所述牛顿环的中心点与所述观测像的中心点重合。

5、根据本专利技术的检测设备的调试方法,能够可靠的调整探头与膜的平行度,确保膜和探头的贴合从膜的中心发生,降低探头与膜过度贴合的情况发生的概率,有利于保证检测过程的顺利进行。

6、在本专利技术的一些示例中,所述获取所述牛顿环的中心点包括:通过椭圆检测算法获取所述牛顿环的中心点。

7、在本专利技术的一些示例中,所述根据所述牛顿环的中心点在所述观测像中的位置控制所述探头运动包括:获取所述牛顿环的中心点距离所述观测像中直角坐标系的第一轴的第一距离a,根据所述第一距离a和所述膜的曲率半径h的关系控制所述探头运动。

8、在本专利技术的一些示例中,所述根据所述第一距离a和所述膜的曲率半径h的关系控制所述探头运动包括:根据公式sinθ=a/h获取第一转动角度θ,并驱动所述探头转动第一转动角度θ。

9、在本专利技术的一些示例中,所述根据所述第一距离a和所述膜的曲率半径h的关系控制所述探头运动还包括:根据公式d1=h*sin(θ/2)获取第一移动距离d1,并驱动所述探头移动第一移动距离d1。

10、在本专利技术的一些示例中,所述根据所述牛顿环的中心点在所述观测像中的位置控制所述探头运动包括:获取所述牛顿环的中心点距离所述观测像中直角坐标系的第二轴的第二距离b,根据所述第二距离b和所述膜的曲率半径h的关系控制所述探头运动。

11、在本专利技术的一些示例中,所述根据所述第二距离b和所述膜的曲率半径h的关系控制所述探头运动包括:根据公式sinα=b/h获取第二转动角度α,并驱动所述探头转动第二转动角度α。

12、在本专利技术的一些示例中,所述根据所述第二距离b和所述膜的曲率半径h的关系控制所述探头运动还包括:根据公式d2=h*sin(α/2)获取第二移动距离d2,并驱动所述探头移动第二移动距离d2。

13、在本专利技术的一些示例中,根据所述牛顿环的中心点在所述直角坐标系中的象限位置确定所述探头的运动方向。

14、在本专利技术的一些示例中,驱动所述探头靠近所述膜移动至所述观测像中出现牛顿环包括:驱动所述探头靠近所述膜移动至所述探头与所述膜之间的间隔距离c满足关系式:0μm<c<预设距离。

15、根据本专利技术的检测设备,包括:基板、第一检测台、第二检测台、观测组件和充气件,所述基板具有样品孔,所述样品孔处设有膜,所述第一检测台位于所述基板的一侧且限定出与所述样品孔连通的腔室,所述第二检测台位于所述基板的另一侧,所述第二检测台包括探头和驱动组件,所述观测组件朝向所述样品孔设置且用于显示观测像;所述充气件能够向所述腔室充入气体,以使所述样品孔处的所述膜朝向所述探头鼓起;所述驱动组件能够驱动所述探头靠近所述膜移动,以使所述观测像中出现牛顿环,并且能够驱动所述探头运动,以使所述牛顿环的中心点与所述观测像的中心点重合。

16、根据本专利技术的检测设备,能够可靠的调整探头与膜的平行度,确保膜和探头的贴合从膜的中心发生,降低探头与膜过度贴合的情况发生的概率,有利于保证检测过程的顺利进行。

17、根据本专利技术的计算机可读存储介质,其上存储有检测设备的调试程序,该检测设备的调试程序被处理器执行时实现上述的检测设备的调试方法。

18、根据本专利技术的计算机可读存储介质,能够可靠的调整探头与膜的平行度,确保膜和探头的贴合从膜的中心发生,降低探头与膜过度贴合的情况发生的概率,有利于保证检测过程的顺利进行。

19、本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本专利技术的实践了解到。

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【技术保护点】

1.一种检测设备的调试方法,其特征在于,所述检测设备包括:基板、第一检测台、第二检测台、观测组件,所述基板具有样品孔,所述样品孔处设有膜,所述第一检测台位于所述基板的一侧且限定出与所述样品孔连通的腔室,所述第二检测台位于所述基板的另一侧,所述第二检测台包括探头,所述观测组件朝向所述样品孔设置且用于显示观测像,所述调试方法包括:

2.根据权利要求1所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述获取所述牛顿环的中心点包括:通过椭圆检测算法获取所述牛顿环的中心点。

3.根据权利要求1所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述牛顿环的中心点在所述观测像中的位置控制所述探头运动包括:

4.根据权利要求3所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述第一距离A和所述膜的曲率半径H的关系控制所述探头运动包括:

5.根据权利要求4所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述第一距离A和所述膜的曲率半径H的关系控制所述探头运动还包括:

6.根据权利要求1所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述牛顿环的中心点在所述观测像中的位置控制所述探头运动包括:

7.根据权利要求6所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述第二距离B和所述膜的曲率半径H的关系控制所述探头运动包括:

8.根据权利要求7所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述第二距离B和所述膜的曲率半径H的关系控制所述探头运动还包括:

9.根据权利要求3-8中任一项所述的检测设备的调试方法,其特征在于,根据所述牛顿环的中心点在所述直角坐标系中的象限位置确定所述探头的运动方向。

10.根据权利要求1-8中任一项所述的检测设备的调试方法,其特征在于,驱动所述探头靠近所述膜移动至所述观测像中出现牛顿环包括:

11.一种检测设备,其特征在于,包括:基板、第一检测台、第二检测台、观测组件和充气件,所述基板具有样品孔,所述样品孔处设有膜,所述第一检测台位于所述基板的一侧且限定出与所述样品孔连通的腔室,所述第二检测台位于所述基板的另一侧,所述第二检测台包括探头和驱动组件,所述观测组件朝向所述样品孔设置且用于显示观测像;

12.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有检测设备的调试程序,该检测设备的调试程序被处理器执行时实现根据权利要求1-10中任一项所述的检测设备的调试方法。

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【技术特征摘要】

1.一种检测设备的调试方法,其特征在于,所述检测设备包括:基板、第一检测台、第二检测台、观测组件,所述基板具有样品孔,所述样品孔处设有膜,所述第一检测台位于所述基板的一侧且限定出与所述样品孔连通的腔室,所述第二检测台位于所述基板的另一侧,所述第二检测台包括探头,所述观测组件朝向所述样品孔设置且用于显示观测像,所述调试方法包括:

2.根据权利要求1所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述获取所述牛顿环的中心点包括:通过椭圆检测算法获取所述牛顿环的中心点。

3.根据权利要求1所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述牛顿环的中心点在所述观测像中的位置控制所述探头运动包括:

4.根据权利要求3所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述第一距离a和所述膜的曲率半径h的关系控制所述探头运动包括:

5.根据权利要求4所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述第一距离a和所述膜的曲率半径h的关系控制所述探头运动还包括:

6.根据权利要求1所述的检测设备的调试方法,其特征在于,所述根据所述牛顿环的中心点在所述观测像中的位置控制所述探头运动包括:

7.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙峰沈锐
申请(专利权)人:国仪量子技术合肥股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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