【技术实现步骤摘要】
本技术涉及pcb模组老化测试，具体而言，涉及一种老化测试装置。
技术介绍
1、pcb模组的使用越来越广泛，在pcb模组生产完成后需要进行持续点亮测试，即pcb模组老化测试。在对pcb模组进行老化测试时，需要使用老化测试装置。
2、在相关技术中，pcb模组老化测试装置只能实现对单一尺寸的pcb模组进行老化测试，不能对多个尺寸的pcb模组进行老化测试，因此pcb模组老化测试装置的通用性差。
技术实现思路
1、本技术的主要目的在于提供一种老化测试装置，以解决相关技术中的因pcb模组老化测试装置只能对单一尺寸的pcb模组进行老化测试而导致的老化测试装置通用性差的问题。
2、为了实现上述目的，本技术提供了一种老化测试装置，包括：基架；承载框，安装在基架上；至少一个第一支撑梁，第一支撑梁的两端分别通过一个第一滑动连接结构与承载框连接，以使第一支撑梁的两端沿预设方向可移动地设置在承载框上；多个第二支撑梁，每个第二支撑梁的两端分别通过一个第二滑动连接结构与承载框连接，以使第二支撑梁的两端沿预设方向可移动地设置在承载框上，相邻的两个第二支撑梁之间设置有一个第一支撑梁；其中，预设方向为承载框的长度方向或者宽度方向。
3、进一步地，每个第一滑动连接结构均包括磁吸配合的第一磁性件和第一磁吸件，第一磁性件和第一磁吸件中的一个设置在承载框上，第一磁性件和第一磁吸件中的另一个设置在第一支撑梁朝向承载框的一侧。
4、进一步地，每个第二滑动连接结构均包括磁吸配合的第二
5、进一步地，承载框的第一侧边沿其长度方向设置有第一安装槽部，承载框的第二侧边设置有第二安装槽部，第一支撑梁的两端分别安装在第一安装槽部和第二安装槽部内，第一滑动连接结构设置在第一安装槽部和第一支撑梁的端部之间以及第二安装槽部和第一支撑梁的端部之间，第二滑动连接结构设置在第一安装槽部和第二支撑梁的端部之间以及第二安装槽部和第二支撑梁的端部之间。
6、进一步地，第一安装槽部的内部设置有沿其长度方向延伸的第一避让部，第二安装槽部的内部设置有沿其长度方向延伸的第二避让部，第一磁性件设置在第一支撑梁上，第一磁性件插入至第一避让部内和第二避让部内，第一侧边的部分结构和第二侧边的部分结构形成第一磁吸件；第二磁性件设置在第二支撑梁上，第二磁性件插入至第一避让部内和第二避让部内，第一侧边的部分结构和第二侧边形成第二磁吸件。
7、进一步地，第一支撑梁包括第一支撑板和设置在第一支撑板上的挡板，挡板朝向被测试件的一侧延伸，第一支撑板的两端朝向承载框的一侧设置有第一内凹部，第一磁性件设置在第一内凹部内，第一内凹部和第一安装槽部配合。
8、进一步地，第二支撑梁包括第二支撑板，第二支撑板的两端朝向承载框的一侧设置有第二内凹部，第二磁性件设置在第二内凹部内，第二内凹部和第二安装槽部配合。
9、进一步地，老化测试装置还包括多个转接件，第二支撑板的中部设置有镂空区，多个转接件沿镂空区的长度方向间隔地设置在镂空区内。
10、进一步地，第二支撑梁还包括压板和连接结构，压板通过连接结构连接在第二支撑板上并压设在多个转接件的两端。
11、进一步地，压板位于第二支撑板的两侧，连接结构包括第三磁性件和第三磁吸件，第三磁性件和第三磁吸件中的一个设置在第二支撑板上，第三磁性件和第三磁吸件中的另一个设置在压板上。
12、进一步地，承载框倾斜设置，承载框与水平方向的夹角在15°至80°的范围内。
13、进一步地，老化测试装置还包括电源和控制板，控制板连接在电源和转接件之间。
14、进一步地，老化测试装置还包括框体，基架、承载框、第一支撑梁、第二支撑梁以及转接件形成一个测试单元，测试单元为多个，多个测试单元沿高度方向依次设置，多个测试单元均设置在框体内。
15、应用本技术的技术方案，承载框安装在基架上。第一支撑梁的两端与承载框分别通过一个第一滑动连接结构连接，第一支撑梁的两端沿预设方向可移动地设置在承载框上。第二支撑梁的两端与承载框分别通过一个第二滑动连接结构连接，第二支撑梁的两端沿预设方向可移动地设置在承载框上。相邻的两个第二支撑梁之间设置有一个第一支撑梁。通过上述的设置，基架为承载框提供了安装位置，使得在测试过程中，承载框的位置可以固定，避免了承载框位置偏移影响测试过程。第一支撑梁与承载框之间是通过第一滑动连接结构连接的，即第一支撑梁在承载框上的位置是可以沿预设方向改变的。第二支撑梁与承载框之间是通过第二滑动连接结构连接的，即第二支撑梁在承载框上的位置也是可以沿预设方向改变的。预设方向为承载框的长度方向或者宽度方向。在第一支撑梁的两侧均设置有一个第二支撑梁，由于第一支撑梁和第二支撑梁的位置是可以沿预设方向改变的，通过第一滑动连接结构和第二滑动连接结构能够改变第一支撑梁和第二支撑梁之间的距离，即第一支撑梁和第二支撑梁能够相互靠近或者相互远离，这样使得老化测试装置能够固定不同尺寸的被测试件，进而使得老化测试装置的通用性更好。因此本实施例的技术方案有效地解决了因pcb模组老化测试装置只能对单一尺寸的pcb模组进行老化测试而导致的老化测试装置通用性差的问题。
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1.一种老化测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，每个所述第一滑动连接结构(40)均包括磁吸配合的第一磁性件(41)和第一磁吸件(42)，所述第一磁性件(41)和所述第一磁吸件(42)中的一个设置在所述承载框(20)上，所述第一磁性件(41)和所述第一磁吸件(42)中的另一个设置在所述第一支撑梁(30)朝向所述承载框(20)的一侧。
3.根据权利要求2所述的老化测试装置，其特征在于，每个所述第二滑动连接结构(60)均包括磁吸配合的第二磁性件(61)和第二磁吸件(62)，所述第二磁性件(61)和所述第二磁吸件(62)中的一个设置在所述承载框(20)上，所述第二磁性件(61)和所述第二磁吸件(62)中的另一个设置在所述第二支撑梁(50)朝向所述承载框(20)的一侧。
4.根据权利要求3所述的老化测试装置，其特征在于，所述承载框(20)的第一侧边(21)沿其长度方向设置有第一安装槽部(211)，所述承载框(20)的第二侧边(22)设置有第二安装槽部(221)，所述第一支撑梁(30)的两端分别安装在所述第一安装
5.根据权利要求4所述的老化测试装置，其特征在于，所述第一安装槽部(211)的内部设置有沿其长度方向延伸的第一避让部(2111)，所述第二安装槽部(221)的内部设置有沿其长度方向延伸的第二避让部(2211)，所述第一磁性件(41)设置在所述第一支撑梁(30)上，所述第一磁性件(41)插入至所述第一避让部(2111)内和所述第二避让部(2211)内，所述第一侧边(21)的部分结构和第二侧边(22)的部分结构形成所述第一磁吸件(42)；所述第二磁性件(61)设置在所述第二支撑梁(50)上，所述第二磁性件(61)插入至所述第一避让部(2111)内和所述第二避让部(2211)内，所述第一侧边(21)的部分结构和所述第二侧边(22)形成所述第二磁吸件(62)。
6.根据权利要求4所述的老化测试装置，其特征在于，所述第一支撑梁(30)包括第一支撑板(31)和设置在所述第一支撑板(31)上的挡板(32)，所述挡板(32)朝向被测试件的一侧延伸，所述第一支撑板(31)的两端朝向所述承载框(20)的一侧设置有第一内凹部(311)，所述第一磁性件(41)设置在所述第一内凹部(311)内，所述第一内凹部(311)和所述第一安装槽部(211)配合。
7.根据权利要求4所述的老化测试装置，其特征在于，所述第二支撑梁(50)包括第二支撑板(51)，所述第二支撑板(51)的两端朝向所述承载框(20)的一侧设置有第二内凹部(511)，所述第二磁性件(61)设置在所述第二内凹部(511)内，所述第二内凹部(511)和所述第二安装槽部(221)配合。
8.根据权利要求7所述的老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置还包括多个转接件(70)，所述第二支撑板(51)的中部设置有镂空区(52)，多个所述转接件(70)沿所述镂空区(52)的长度方向间隔地设置在所述镂空区(52)内。
9.根据权利要求8所述的老化测试装置，其特征在于，所述第二支撑梁(50)还包括压板(53)和连接结构(54)，所述压板(53)通过所述连接结构(54)连接在所述第二支撑板(51)上并压设在多个所述转接件(70)的两端。
10.根据权利要求9所述的老化测试装置，其特征在于，所述压板(53)位于所述第二支撑板(51)的两侧，所述连接结构(54)包括第三磁性件(541)和第三磁吸件(542)，所述第三磁性件(541)和所述第三磁吸件(542)中的一个设置在所述第二支撑板(51)上，所述第三磁性件(541)和所述第三磁吸件(542)中的另一个设置在所述压板(53)上。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的老化测试装置，其特征在于，所述承载框(20)倾斜设置，所述承载框(20)与水平方向的夹角在15°至80°的范围内。
12.根据权利要求8所述的老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置还包括电源(80)和控制板(90)，所述控制板(90)连接在所述电源(80)和所述转接件(70)之间。
13.根据权利要求8所述的老化测试装置，其特征在于，所述老化测...
【技术特征摘要】
1.一种老化测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，每个所述第一滑动连接结构(40)均包括磁吸配合的第一磁性件(41)和第一磁吸件(42)，所述第一磁性件(41)和所述第一磁吸件(42)中的一个设置在所述承载框(20)上，所述第一磁性件(41)和所述第一磁吸件(42)中的另一个设置在所述第一支撑梁(30)朝向所述承载框(20)的一侧。
3.根据权利要求2所述的老化测试装置，其特征在于，每个所述第二滑动连接结构(60)均包括磁吸配合的第二磁性件(61)和第二磁吸件(62)，所述第二磁性件(61)和所述第二磁吸件(62)中的一个设置在所述承载框(20)上，所述第二磁性件(61)和所述第二磁吸件(62)中的另一个设置在所述第二支撑梁(50)朝向所述承载框(20)的一侧。
4.根据权利要求3所述的老化测试装置，其特征在于，所述承载框(20)的第一侧边(21)沿其长度方向设置有第一安装槽部(211)，所述承载框(20)的第二侧边(22)设置有第二安装槽部(221)，所述第一支撑梁(30)的两端分别安装在所述第一安装槽部(211)和第二安装槽部(221)内，所述第一滑动连接结构(40)设置在所述第一安装槽部(211)和所述第一支撑梁(30)的端部之间以及所述第二安装槽部(221)和所述第一支撑梁(30)的端部之间，所述第二滑动连接结构(60)设置在所述第一安装槽部(211)和所述第二支撑梁(50)的端部之间以及所述第二安装槽部(221)和所述第二支撑梁(50)的端部之间。
5.根据权利要求4所述的老化测试装置，其特征在于，所述第一安装槽部(211)的内部设置有沿其长度方向延伸的第一避让部(2111)，所述第二安装槽部(221)的内部设置有沿其长度方向延伸的第二避让部(2211)，所述第一磁性件(41)设置在所述第一支撑梁(30)上，所述第一磁性件(41)插入至所述第一避让部(2111)内和所述第二避让部(2211)内，所述第一侧边(21)的部分结构和第二侧边(22)的部分结构形成所述第一磁吸件(42)；所述第二磁性件(61)设置在所述第二支撑梁(50)上，所述第二磁性件(61)插入至所述第一避让部(2111)内和所述第二避让部(2211)内，所述第一侧边(21)的部分结构和所述第二侧边(22)形成所述第二磁吸件(62)。
6.根据权利要求4所述的老化测试装置，其特征在于，所述第一支撑梁(30)包括第一支撑板(31)和设置...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭震撼，潘彤，王子翔，刘云杰，王申艳，
申请(专利权)人：利晶微电子技术江苏有限公司，
类型：新型
国别省市：
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