基于光弹调制器的波长数据处理方法技术

本申请涉及光学测量技术领域，揭示了基于光弹调制器的波长数据处理方法

【技术实现步骤摘要】
基于光弹调制器的波长数据处理方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及光学测量
，特别地，涉及基于光弹调制器的波长数据处理方法
、
装置
、
设备及介质
。

技术介绍

[0002]目前多通道光弹调制器波长修正主要采用多项式拟合算法来实现
。
多通道光弹调制器测量系统通常由光学测量模块和信号处理模块两部分组成，其中光学测量模块由光源
、
起偏器
、
光弹调制器
、
检偏器组成，共同完成对入射光偏振态的调制；信号处理模块由光电探测器
、
光弹调制器控制器和计算机组成
。
其基本原理是使光弹调制器工作在稳定状态下，对激光器产生的入射信号光进行调制，然后通过光强探测器所测得的调制光强信号
,
获取所需信号参数后，利用光学模型对相位延迟进行校正，在控制电压为固定值的情况下，选择最小波长为参考波长，确定其实际相位延迟量，根据多项式拟合算法修正其他波长所对应的相位延时
。
[0003本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基于光弹调制器的波长数据处理方法，其特征在于，所述光弹调制器包括光弹晶体，所述方法包括：获取光的参考波长，以及所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；计算所述参考波长的标准相位延迟量，作为参考相位延迟量；获取光的待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数，所述待修正波长为除所述参考波长之外的波长；根据所述参考波长
、
所述第一压力光学系数
、
所述参考相位延迟量
、
所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量；获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过如下公式计算所述参考波长的标准相位延迟量：其中，
δ0表示所述参考波长的标准相位延迟量；
d
表示所述光弹晶体的厚度；
λ0表示参考波长；
C(
λ0)
表示所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数
。3.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述待修正波长的标准相位延迟量，包括：通过最小二乘算法模型计算所述待修正波长的标准相位延迟量
。4.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述最小二乘算法模型，包括：其中，
δ
表示所述待修正波长的标准相位延迟量；
δ0表示所述参考波长的标准相位延迟量；
λ0表示参考波长；
C(
λ0)
表示所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；
λ
表示待修正波长；
C(
λ
)
表示所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数
。5.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量，包括：基于所述理论相位延迟量和所述实际相位延迟量，计算所述待修正波长的相...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈学周，熊伟，欧立杨，李超波，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：