用于检测平板显示器的探针单元制造技术

本发明专利技术涉及一种用于检测平板显示器的探针单元，能根据基板上形成的电路图受到的温度及光的影响，测量电气特征的变化。该探针单元包括：接纳基板的平台；设有探针并与基板上形成的电路图电连接的探头；将探头在平台上移动的线性驱动设备；用于测量平台上温度的参考温度测量部；安装在探头上，通过加热或冷却位于探针和电路图之间的接触部分从而提供特定温度条件的热流喷射设备；设置在平台上的多个背光模块，通过将光照射在基板的背面而将光量提供给电路图；用于提供电力的电源；控制热流喷射设备及背光模块而将特定的温度和光量同时施加到电路图上的控制器，控制器计算出参考温度与的特定温度的相关性，输出用于测量基板温度的有效时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于检测平板显示器的探针单元，尤其是涉及能根据与平板显示器的基板上形成的电路图相关的温度和光的影响，测量电气特征的变化来检测平板显示器的探 针单元。
技术介绍
如现有技术中公知的，现已大规模开发平板显示器将其作为阴极射线管的替代显 示器。这种平板显示器典型地包括液晶显示器(LCD)，等离子显示面板(PDP)，场致发射显 示器(FED)，真空管荧光显示器(VFD)等。这种平板显示器通常是由以下一系列步骤制成的，所述步骤包括制造上下基板的 步骤，将上下基板粘结的步骤，以及诸如此类的步骤。更具体地，为了制造下基板，在玻璃板 上形成多个单元。然后，在每个单元内设置多条横向线和纵向线，其按照矩阵方式相互交 叉。在横向线和纵向线的每一个交叉部上形成具有透明像素电极的像素单元。上述像素单 元由薄膜晶体管(TFT)形成，与横向线和纵向线以及像素电极连接。在划线步骤中将玻璃 板上形成的多个单元切割出，所述划线步骤紧跟在检查步骤之后。按照这种方式从玻璃板 上切割出多个单元，即，分别将下基板粘结到在上基板单独制造步骤中完成的上基板上。然 后，将用于驱动像素单元的驱动电路和其它元件装配到上下基板上，继而制成一个平板显 不器。同时，在平板显示器的制造过程中，对玻璃板上形成的多个单元进行检测的步 骤是通过采用探针单元将电测试信号应用于电路图上完成的，从而检查电路的状态。这 种探针单元的其中之一，例如最近的探针检测单元的典型实例，已在由本申请的同一申 请人提交的韩国专利公开号NO. 10-2007-0024938 (，938专利技术)或者韩国专利登记号 No. 10-0768912 (，912 专利)中公开。如图1中所示，，938专利技术在探头124的一侧设有热气鼓风机130。因此，，938发 明设计为基于玻璃112上的温度影响检测电路的耐用性及电气特征，对玻璃的温度影响是 通过将热气或冷气喷射到位于探针122与玻璃112之间的接触点上实现的。同时，如图2中所示，，912专利具有多个背光模块160以将光照射到基板300的 背面，其能够调节照射在基板300的背面上的光量，从而根据光量的影响来检查电路的耐 用性及电气特征。上述探针检测单元只考虑了温度或者光量的影响，分别对电路的耐用性及电气特 征进行检测。因此，它们具有这样的缺点，即在同时考虑温度和光量的情况下，无法对电路 的耐用性及电气特征进行检测。虽然’912专利的背光模块160具有加热线圈，能根据热效应，即温度，检测上述特 征，但其具有这样的缺点，即不能对基板300的所有部分的特征进行精确地检测。其原因是 因为背光模块160是按照预定间隔间歇地设置在基板300的背面，这样仅将热量作用于特 定位置处的电路部分。
技术实现思路
因此，本专利技术是为了解决现有技术中出现的上述问题，且本专利技术的目的在于提供一种用于检测平板显示器的探针单元，当需检测平板显示器的耐用性及电气特征时，依据 与基板上形成的整个电路图相关的光(光量)和热(温度)的协同变化，能精确检查出电 气特征的变化。为了实现上述目的，这里提供了一种用于检测平板显示器的探针单元，包括平 台，用于接纳平板显示器的基板；探头，所述探头与基板上形成的电路图电连接，并在探头 上设有探针，用于检查电路图的特征；线性驱动设备，用于将探头在平台上沿着X轴和Y轴 的方向移动；参考温度测量部，用于测量平台上提供的参考温度测量点的温度；热流喷射 设备，其安装在探头上，通过加热或冷却位于探针和电路图之间的接触部分从而提供特定 的温度条件；多个背光模块，其设置在平台上，通过将光照射在基板的背面而将光量提供给 电路图；电源，用于为热流喷射设备和背光模块提供电力；控制器，用于控制热流喷射设备 及背光模块，从而可以将特定的温度和光量同时施加到电路图上，其中控制器计算出参考 温度测量点的参考温度与通过热流喷射设备的特定温度的相关性，从而输出用于测量基板 温度的有效时间。热流喷射设备可以包括加热元件以加热位于探针和电路图之间的接触部分，以及 环境温度测量部，用于测量由加热元件加热的周围的温度。此外，热流喷射设备可以包括热吸收元件以冷却位于探针和电路图之间的接触部 分，以及环境温度测量部，用于测量由热吸收元件冷却的周围的温度。此外，热流喷射设备可以包括阀，以便根据控制器的控制操作引入压缩气体，流速 测量传感器用于测量压缩气体的量，流速调节器用于调节压缩气体的量，以及压力调节器 用于调节压缩气体的压力。同时，背光模块可以包括用于产生光的发光元件，发光管，用于形成发光元件的光 通过的路径，具有扩散板的发光表面，所述扩散板允许来自于发光管的光在基板的背面上 均勻地扩散，以及支架，用于在发光管内支撑发光表面。本专利技术进一步包括亮度计，该亮度计用于测量由背光模块照射的光的亮度。控制 器可以被配置为通过将亮度计的亮度信息与背光模块的亮度信息进行比较，从而将背光模 块的亮度控制在一定水平。更具体地，控制器可以包括接口，用于与亮度计及背光模块通信，以及存储器，用 于存储背光模块的驱动信息。因此，控制器可以被构成为能控制电源的驱动操作，从而利用 提供的亮度信息和驱动信息将背光模块的亮度保持在一定水平，所述提供的亮度信息是由 亮度计和经过接口的背光模块提供的，且所述提供的驱动信息是由存储器提供的。根据上面论述的本专利技术的结构，应注意到，能同时测量平板显示器的基板上温度 和光的影响，而在现有技术中却需要分开测量，这使得有可能根据温度和光的影响精确测 量相关性，而在现有技术中仅是通过推理确定温度和光的影响。此外，应理解为采集数据的 一系列步骤是在测试基板的耐用性的同时，分别测量温度和光的影响，这需要花费较长时 间，而所述一系列步骤是可以省略的，从而，将进行检测的时间减少一半。附图说明随后通过结合附图的具体描述，本专利技术的上述及其他的目的、特征和优点将变得 更加清楚，其中图1是根据韩国专利公开号No. 10-2007-0024938例举的探针检测装置的平面示 意图；图2是根据韩国专利登记号No. 10-0768912例举的探针检测装置的平面示意图；图3是根据本专利技术的优选实施例例举的探针单元的平面示意图；图4是根据本专利技术的优选实施例例举的探针单元的立体图；图5是根据本专利技术的优选实施例例举的对于探针单元控制操作的配置的框图；以 及图6是应用于本专利技术的背光模块的实施例的前视图、左侧正视图、俯视图以及仰 视图。具体实施例方式接下来，将参考附图介绍本专利技术的优选实施例。在接下来的描述和附图中，相同 的引用数字用于表示相同的或相似的部件，而关于相同或相似部件的这种重复描述将被省 略。图3和4是分别根据本专利技术的优选实施例例举的探针单元的平面示意图和立体 图。图5是根据本专利技术的优选实施例例举的对于探针单元控制操作的配置的框图。此外， 图6是应用于本专利技术的背光模块的实施例的前视图、左侧正视图、俯视图以及仰视图。如上述附图所示，根据本专利技术的探针单元包括用于准备接纳形成有电路图的平板 显示器的基板“S”的平台1 ；探头3，该探头具有探针2用于检查电路图的特征；线性驱动设 备4，用于将探头3在平台1上移动；参考温度测量部5，用于测量位于平台1上的参考温度 测量点“P”的温度；热流喷射设备6，用于向位于探针2与电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测平板显示器的探针单元，包括：平台，用于接纳平板显示器的基板；探头，所述探头与基板上形成的电路图电连接，在所述探头上设有探针，用于检查电路图的特征；线性驱动设备，用于将探头在平台上沿着Ｘ轴和Ｙ轴方向移动；参考温度测量部，用于测量平台上提供的参考温度测量点的温度；热流喷射设备，安装在探头上，通过加热或冷却位于探针和电路图之间的接触部分从而提供特定的温度条件；多个背光模块，设置在平台上，通过将光照射在基板的背面而将光量施加到电路图；电源，用于为热流喷射设备和背光模块提供电力；控制器，用于控制热流喷射设备及背光模块，从而能将特定的温度和光量同时施加到电路图上，其中控制器计算出参考温度测量点的参考温度与经由热流喷射设备的特定温度的相关性，从而输出用于测量基板温度的有效时间。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：金钟纹，赵原一，李定珉，李元圭，
申请(专利权)人：阳电子系统株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]