单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及轴承测量装置领域，具体涉及一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置及测量方法，包括：安装座、标准环、负载组件以及测量仪，安装座设置在工作台上，且安装座负载组件设置在安装座正上方，工作台上还设置有支撑组件，通过支撑组件将测量仪悬空设置，且测量仪的测量头与负载组件顶部接触。本装置利用标准环对装置进行校准，然后利用校准后的装置对轴承的每列外圈的高度进行测量，从而在节能的前提下，保证测量精度。保证测量精度。保证测量精度。

【技术实现步骤摘要】
单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置及测量方法


[0001]本专利技术涉及轴承测量装置领域，具体涉及一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置及测量方法。

技术介绍

[0002]角接触球轴承按照结构分为单列和双列角接触轴承，按照要求组配后使用，其拥有一定的刚度和较高的旋转精度，能够有效提高系统的稳定性和旋转精度，广泛应用于精密机床主轴、高速电主轴等高精度轴系。
[0003]由于单列角接触轴承一般配对后成对使用，而双列角接触轴承分为单内圈、双外圈结构和单外圈双内圈结构，自身内圈或外圈进行组配后使用，成对使用的角接触球轴承，组配之后凸出量的大小直接影响到成对轴承的预载大小，从而影响到轴系的旋转精度、振动以及产生的噪音大小。
[0004]尤其是对于单内圈、双列外圈、外隔圈结构的背对背组配微型角接触球轴承，其在装配时，要求两外圈之间要留有间隙，即通过在间隙中放置于间隙尺寸相同的外隔圈达到预紧的目的，并通过调整隔圈与间隙的高度，达到组配预紧要求，因此，两外圈间隙的测量直接影响外隔圈修配尺寸以及组配后的轴承性能，故需要对双列背对背角接触轴承间隙进行测量。
[0005]现有技术中通过利用测量轴承凸出量的仪器来进行间隙的测量，然而该仪器采用气动加载方式，故其受气源压力波动影响，尤其是在测量微型轴承的凸出量，气源压力波动，会导致测量结果存在误差。
[0006]因此，需要提供一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置及测量方法以解决上述问题。

技术实现思路

[0007]本专利技术提供一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置及测量方法，通过标准环对测量装置进行校正，然后利用校正后的装置精确对轴承的每列外圈的高度进行测量，以解决现有的测量轴承凸出量的仪器，在测量微型轴承的凸出量时，由于气源压力波动影响，会导致测量结果存在误差问题。
[0008]本专利技术的一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量方法采用如下技术方案：包括：
[0009]一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量方法，其特征在于，包括：
[0010]步骤1、预制标准环，其中，标准环的内圈与双列背对背角接触轴承的内圈直径相同，标准环的外圈与双列背对背角接触轴承的外圈直径相同，以及标准环的高度与双列背对背角接触轴承的单个外圈的高度相同；
[0011]步骤2、对标准环进行预紧，利用预紧后的标准环对测量仪进行调零；
[0012]步骤3、对双列背对背角接触轴承的每个单列外圈进行预紧，利用调零后的测量
仪，分别测量预紧后的每个单列外圈的高度；
[0013]步骤4、根据双列背对背角接触轴承内圈的高度、双列背对背角接触轴承的每个单列外圈进行高度，获取双列背对背角接触轴承的间隙。
[0014]优选的，测量预紧后的每个单列外圈的高度的步骤为：
[0015]将调零后的测量仪对预紧后的每个单列外圈测量时的读数、标准环的高度之和作为单个外圈的高度。
[0016]优选的，将双列背对背角接触轴承内圈的高度减去双列背对背角接触轴承的每个单列外圈进行高度，得到双列背对背角接触轴承间隙。
[0017]一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置，包括：
[0018]安装座，其设置在工作台上，用于安装标准环或者双列背对背角接触轴承，其中，标准环内圈与双列背对背角接触轴承的内圈直径相同，标准环的外圈与双列背对背角接触轴承的外圈直径相同，以及标准环的高度与双列背对背角接触轴承的单个外圈的高度相同；
[0019]负载组件，设置在安装座正上方，用于对标准环或者双列背对背角接触轴承的单外圈施加载荷，其中，单外圈施加的载荷和双列背对背角接触轴承所要求的预载荷一致；
[0020]以及测量仪，其通过支撑组件悬空架设，且测量仪的测量头与负载组件顶部接触。
[0021]优选的，安装座包括固定座，其固定在工作台上，其顶部设置有引导轴，引导轴用于套设标准环或者双列背对背角接触轴承的单外圈。
[0022]优选的，负载组件为圆柱形件，其底部开设有第一安装槽，第一安装槽用于和标准环或者双列背对背角接触轴承的外圈套装，第一安装槽的内底面开设有第二安装槽，且第一安装槽和第二安装槽之间形成了环形台面，环形台面和标准环或者双列背对背角接触轴承的外圈的顶部接触。
[0023]优选的，在第一安装槽与标准环的外圈套装时、在第一安装槽与双列背对背角接触轴承的外圈套装时、在引导轴与标准环的内圈套装时以及在引导轴与双列背对背角接触轴承的内圈套装时，套装面之间均为滑动连接。
[0024]优选的，在圆柱形件的顶部设置有圆台，圆台与圆柱形件同心，且圆台的中心与测量仪的测量头接触。
[0025]优选的，测量仪为千分表，千分表的测量头竖直朝下，且与负载组件的顶部接触。
[0026]优选的，支撑组件包括竖直设置的支撑杆，其一端与工作台转动连接，其另一端上设置有水平杆，水平杆与千分表的表盘的背面固定连接。
[0027]本专利技术的单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置及测量方法的有益效果是：
[0028]1、通过对双列背对背角接触轴承分析，双列背对背组配的两个轴承的外圈的宽面相对，在背对背装配轴承时载荷作用中心处于两轴承接触面之外，即载荷方向斜向外且与轴承的中心线相交，故轴承的外圈也会由于载荷的作用，使得两个轴承外圈突出(外圈高于内圈)，其外圈的加工有一定尺寸误差，基于此，本专利技术通过设置已知尺寸的标准环高度，来对测量装置进行矫正，然后利用负载组件实现对轴承外圈进行预紧，保证外圈不会高于内圈，进而利用矫正后的测量仪对预紧后的轴承外圈高度进行测量，保证得到准确的外圈高度，从而根据外圈的高度和内圈的高度得到轴承的准确间隙，即根据准确的间隙为后续轴
承的修配提供依据。
[0029]2、其次，本装置测量过程中不需要外接能源，只需要手动进行加载测量，且利用调零后的千分表精确对轴承的每列外圈的高度进行测量，从而在节能的前提下，保证测量精度。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术的一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置的实施例中安装标准环时的结构示意图；
[0032]图2为本专利技术的一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置的实施例中安装双列背对背角接触轴承的单列轴承时的结构示意图；
[0033]图3为本专利技术的实施例中单内圈、双列外圈、外隔圈结构的背对背组配微型角接触球轴承的结构示意图。
[0034]图中：1、工作台；2、安装座；3、标准环；4、负载组件；5、测量仪；6、支撑组件；7、单列轴承。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量方法，其特征在于，包括：步骤1、预制标准环，其中，标准环的内圈与双列背对背角接触轴承的内圈直径相同，标准环的外圈与双列背对背角接触轴承的外圈直径相同，以及标准环的高度与双列背对背角接触轴承的单个外圈的高度相同；步骤2、对标准环进行预紧，利用预紧后的标准环对测量仪进行调零；步骤3、对双列背对背角接触轴承的每个单列外圈进行预紧，利用调零后的测量仪，分别测量预紧后的每个单列外圈的高度；步骤4、根据双列背对背角接触轴承内圈的高度、双列背对背角接触轴承的每个单列外圈进行高度，获取双列背对背角接触轴承的间隙。2.根据权利要求2所述的一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量方法，其特征在于，测量预紧后的每个单列外圈的高度的步骤为：将调零后的测量仪对预紧后的每个单列外圈测量时的读数、标准环的高度之和作为单个外圈的高度。3.根据权利要求2所述的一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量方法，其特征在于，将双列背对背角接触轴承内圈的高度减去双列背对背角接触轴承的每个单列外圈进行高度，得到双列背对背角接触轴承间隙。4.一种单内圈的背对背角接触球轴承的间隙测量装置，其特征在于，包括：安装座，其设置在工作台上，用于安装标准环或者双列背对背角接触轴承，其中，标准环内圈与双列背对背角接触轴承的内圈直径相同，标准环的外圈与双列背对背角接触轴承的外圈直径相同，以及标准环的高度与双列背对背角接触轴承的单个外圈的高度相同；负载组件，设置在所述安装座正上方，用于对所述标准环或者双列背对背角接触轴承的单外圈施加载荷，其中，单外圈施加的所述载荷和所述双列背对背角接触轴承所要求的预载荷一致；以及测量仪，其通过支撑组件悬...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙端端，茹治国，李玉杰，孔彧，申海涛，
申请(专利权)人：洛阳巨创轴承科技有限公司，
类型：发明
国别省市：