一种LED芯片功能测试设备制造技术

本发明专利技术属于LED芯片测试技术领域，具体的说是一种LED芯片功能测试设备，包括蒸汽实验箱；所述蒸汽实验箱侧壁开设有测试仓；所述蒸汽实验箱外部侧壁位于测试仓所在位置转动连接有箱门；所述测试仓内部侧壁固接有一对导轨；一对所述导轨中部滑动连接有支撑板；所述支撑板表面设有多组硅胶板；通过利用硅胶板自身可形变性，可以针对不同型号的芯片进行相对应的位置改变，对LED芯片进行位置限制，保持在测试过程中芯片自身位置的稳定，减少芯片之间距离较近，在出现位置时造成芯片混合情况的发生。生。生。

【技术实现步骤摘要】
一种LED芯片功能测试设备


[0001]本专利技术属于LED芯片测试
，具体的说是一种LED芯片功能测试设备。

技术介绍

[0002]LED芯片是现代社会中一种半导体器件，是LED灯组的核心元器件，可以通过将电能转化为光能，产生光亮，LED灯组的出现可以通过自身更好的亮度、寿命，对传统白炽灯、钨丝灯等光源进行替换。
[0003]目前现有技术中，LED芯片在生产过程中，往往需要通过多种测试，其中PCT高压加速老化测试便是其中重要一环，可以通过高度蒸汽或压力锅蒸煮对LED芯片进行测试。
[0004]在使用中，在LED芯片进行测试的过程中，现有芯片测试往往为同组型号进行测试，在测试芯片较多时，来回替换操作较为繁琐，同时在不同型号进行同时测试时，因高温对LED芯片内部元器件的影响，存在LED芯片爆裂情况，导致芯片位移出现混合，因此，针对上述问题提出一种LED芯片功能测试设备。

技术实现思路

[0005]为了弥补现有技术的不足，解决
技术介绍
中所提出的至少一个技术问题。
[0006]本专利技术解决其技术问题所采本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED芯片功能测试设备，包括蒸汽实验箱(1)；所述蒸汽实验箱(1)侧壁开设有测试仓(12)；所述蒸汽实验箱(1)外部侧壁位于测试仓(12)所在位置转动连接有箱门(11)；其特征在于：所述测试仓(12)内部侧壁固接有一对导轨(13)；一对所述导轨(13)中部滑动连接有支撑板(14)；所述支撑板(14)表面设有多组硅胶板(15)。2.根据权利要求1所述的一种LED芯片功能测试设备，其特征在于：所述支撑板(14)顶部位于多组硅胶板(15)所在位置开设有底座一号滑槽(2)；所述一号滑槽(2)中部固接有定位板(21)；所述定位板(21)上方滑动连接有按压板(22)；所述定位板(21)和按压板(22)之间通过弹簧进行连接；所述按压板(22)端部滑动在支撑板(14)顶面位于多组硅胶板(15)之间；所述一号滑槽(2)顶部侧壁固接有限位板(23)；所述硅胶板(15)套设在限位板(23)上；所述硅胶板(15)侧壁和测试仓(12)侧壁之间连接有弹簧；所述按压板(22)侧壁固接有一号连接带(24)的一端；所述一号连接带(24)另一端固接在硅胶板(15)侧壁。3.根据权利要求2所述的一种LED芯片功能测试设备，其特征在于：所述按压板(22)顶部固接有放置板(3)；所述放置板(3)顶面开设有多组二号滑槽(32)；所述二号滑槽(32)内部固接有多组定位桩(31)；所述定位桩(31)顶面固接有锥形柱(33)。4.根据权利要求2所述的一种LED芯片功能测试设备，其特征在于：所述一号滑槽(2)底部侧壁位于一号连接带(24)下方固接有多组碰撞板(4)；所述一号连接带(24)侧壁固接有二号连接带(42)的一端；所述二号连接带(42)的另一端固接有碰撞柱(41)；所述碰撞柱(41)和放置板(3...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙彦峰，黄瑶瑶，
申请(专利权)人：山东乾元半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：