一种电路板运行测试系统及其测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种电路板运行测试系统及其测试方法。所述系统包括：主控板、屏蔽箱及设置在屏蔽箱内的环境控制模块和支架，电路板固定在支架上，其中：环境控制模块，用于对屏蔽箱内的实验环境参数进行控制和调整，使电路板能够在多种实验环境参数下进行测试；主控板，根据测试要求对环境控制模块发出多种不同实验环境参数的控制指令，使电路板可在不同的测试环境下进行测试。本实施例提供了一种多环境参数可控的硬件测试、调试平台，方便研究电路板在不同环境参数下的状态，能够更加贴近硬件工作的环境来反应硬件的运行结果。作的环境来反应硬件的运行结果。作的环境来反应硬件的运行结果。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板运行测试系统及其测试方法


[0001]本专利技术涉及硬件测试领域，尤其涉及一种电路板运行测试系统及其测试方法。

技术介绍

[0002]当前时代是一个电子技术飞速发展的时代，电子技术的产物也是越来越多样化，除了以性能为评价硬件的指标之外，质量的指标更为重要，硬件的可靠性直接关系着整个产品的质量。产品在研发的过程中时，一般都会进行可靠性测试实验，常见需要进行的实验有高低温运行与存储试验、自身干扰纹波试验、开短路试验以及各种EMC试验等等，在进行这些测试的同时，我们很多试验是无法边做试验边进行验证测试的，例如像高低温运行试验，我们只能将硬件放入恒温箱进行自运行，但是我们无法在恒温箱里面进行调试测试，而且控制的实验环境的变量也是单一的，无法多条件的进行测试，所以这种测试方法是存在缺陷的。

技术实现思路

[0003]鉴于此，本专利技术公开了一种电路板运行测试系统及其测试方法，用以解决现有的硬件运行测试装置其实验环境单一，无法多条件测试的问题。
[0004]本专利技术为实现上述的目标，采用的技术方案是：
[0005]本专利技术第一方面公开了一种电路板运行测试系统，系统包括：主控板、屏蔽箱及设置在屏蔽箱内的环境控制模块和支架，电路板固定在支架上，其中：
[0006]环境控制模块，用于对屏蔽箱内的实验环境参数进行控制和调整，使电路板能够在多种实验环境参数下进行测试；
[0007]主控板，根据测试要求对环境控制模块发出多种不同实验环境参数的控制指令，使电路板可在不同的测试环境下进行测试。
[0008]进一步可选地，环境控制模块包括有温度控制模块和/或湿度控制模块和/或电磁辐射模块；
[0009]主控板与温度控制模块、湿度控制模块和电磁辐射模块均连接，
[0010]温度控制模块使电路板能够在多种温度下进行测试；
[0011]湿度控制模块使电路板能够在多种湿度下进行测试；
[0012]电磁辐射模块使电路板能够在多种辐射强度下进行测试。
[0013]进一步可选地，系统还包括：
[0014]风扇，风扇设置在屏蔽箱内，用于加速屏蔽箱体内空气流动；
[0015]支架，支架可被控制旋转。
[0016]进一步可选地，风扇的转速和/或支架的转速可根据不同的实验环境参数进行适应性调整。
[0017]进一步可选地，屏蔽箱的内底板上设置有吸波材料；
[0018]系统还包括：屏蔽连接线，用于连接主控板与电路板。
[0019]进一步可选地，主控板设有多个接口电路和/或FPGA芯片；
[0020]多个接口电路，用于连接电路板、存储设备以及外围设备；
[0021]FPGA芯片，用于连接电路板。
[0022]进一步可选地，系统还包括：
[0023]外围设备，用于判断电路板在当前环境参数下的运行状态是否正常，外围设备包括显示设备和/或音频设备；
[0024]壳体，主控板设置在壳体内，壳体上设置有接口、显示面板、操作面板，其中，接口与接口电路对应设置，显示面板和操作面板均与主控板连接。
[0025]本专利技术第二方面公开了一种用于第一方面中任一项的电路板运行测试系统的测试方法，测试方法包括：
[0026]根据测试要求对环境控制模块发出多种不同实验环境参数的控制指令；
[0027]环境控制模块响应于控制指令对屏蔽箱内的实验环境参数进行控制和调整，使使电路板可在不同的测试环境下进行测试。
[0028]进一步可选地，测试方法还包括：
[0029]测试时，使所述支架旋转、并使所述屏蔽箱内的风扇转动；
[0030]获取电路板的测试运行数据；
[0031]根据测试运行数据判断电路板在当前环境参数下的运行状态是否正常。
[0032]进一步可选地，根据测试运行数据判断电路板在当前环境参数下的运行状态是否正常包括：
[0033]当测试运行数据为数字信号时，判断数字信号是否为预设数字信号，若是，确定电路板在当前环境参数下的运行状态正常；
[0034]当测试运行数据为模拟数据时，判断模拟数据与预设实际运行数据之间的差值是否在设定范围内；
[0035]当差值在设定范围内时，确定电路板在当前环境参数下的运行状态正常。
[0036]有益效果：本实施例提供了一种多环境参数可控的硬件测试、调试平台，方便研究电路板在不同环境参数下的状态，能够更加贴近硬件工作的环境来反应硬件的运行结果。
附图说明
[0037]通过参照附图详细描述其示例实施例，本专利技术公开的上述和其它目标、特征及优点将变得更加显而易见。下面描述的附图仅仅是本专利技术公开的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1示例性地示出了根据本专利技术一种实施例的电路板运行测试系统的结构示意图。
[0039]图2示例性地示出了根据本专利技术一种实施例的电路板运行测试系统中硬件部分总体框图。
[0040]图3示例性地示出了根据本专利技术一种实施例的电路板运行测试系统的测试流程图。
[0041]其中：10
‑
屏蔽箱，11
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显示面板，12
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控制面板，13
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吸波材料，14支架，15
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屏蔽线，16
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TRS接口，17
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HDMI接口，18
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网口，19
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USB接口。
具体实施方式
[0042]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0043]在本专利技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本专利技术。在本专利技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义，“多种”一般包含至少两种，但是不排除包含至少一种的情况。
[0044]应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0045]还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的商品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种商品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板运行测试系统，其特征在于，所述系统包括：主控板、屏蔽箱及设置在所述屏蔽箱内的环境控制模块和支架，电路板固定在所述支架上，其中：所述环境控制模块，用于对所述屏蔽箱内的实验环境参数进行控制和调整，使所述电路板能够在多种实验环境参数下进行测试；所述主控板，根据测试要求对所述环境控制模块发出多种不同实验环境参数的控制指令，使所述电路板可在不同的测试环境下进行测试。2.如权利要求1所述的电路板运行测试系统，其特征在于，所述环境控制模块包括有温度控制模块和/或湿度控制模块和/或电磁辐射模块；所述主控板与所述温度控制模块、湿度控制模块和电磁辐射模块均连接，所述温度控制模块使所述电路板能够在多种温度下进行测试；所述湿度控制模块使所述电路板能够在多种湿度下进行测试；所述电磁辐射模块使所述电路板能够在多种辐射强度下进行测试。3.如权利要求1或2所述的电路板运行测试系统，其特征在于，所述系统还包括：风扇，所述风扇设置在所述屏蔽箱内，用于加速屏蔽箱体内空气流动；支架，所述支架可被控制旋转。4.如权利要求3所述的电路板运行测试系统，其特征在于，所述风扇的转速和/或所述支架的转速可根据所述不同的实验环境参数进行适应性调整。5.如权利要求3所述的电路板运行测试系统，其特征在于，所述屏蔽箱的内底板上设置有吸波材料；所述系统还包括：屏蔽连接线，用于连接所述主控板与所述电路板。6.如权利要求3所述的电路板运行测试系统，其特征在于，所述主控板设有多个接口电路和/或FPGA芯片；所述多个接口电路，用于连接所述电路板、存储设备以及外围设备；所述F...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑睿，何春茂，沈俐，张宇辉，翟亚飞，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：