测试装置及测试系统制造方法及图纸

技术编号:38402896 阅读:10 留言:0更新日期:2023-08-07 11:13
本公开是关于一种测试装置及测试系统,测试装置应用于测试板的误测检测,包括:监测板、模数转化器以及微处理器。监测板与测试板可拆卸连接;模数转化器设置于监测板,用于采集测试板的电压变化信号;以及微处理器设置于监测板,与模数转化器连接,用于发送采集到的电压变化信号;其中,当测试板与监测板连接时,微处理器接收监测板经模数转化器发送的电压变化信号,微处理器并发送采集到的电压变化信号。本公开实现了在出问题时即可确认问题是否为一次不良的问题,无需在问题发生后再进行分析定位,解决了操作难度大,效率低的问题。能够确保排除因测试装置原因带来的一次不良问题,提升了研发和生产效率。升了研发和生产效率。升了研发和生产效率。

【技术实现步骤摘要】
测试装置及测试系统


[0001]本公开涉及测试及分析检测
,尤其涉及一种测试装置及测试系统。

技术介绍

[0002]电子产品在生产加工过程中需要对所制造的产品或组件进行相应的测试,以保证所制造的产品或组件的各项指标参数或功能符合使用要求。测试过程中会拦截出问题产品。但是有一种问题产品存在因测试装置原因带来的一次不良问题,即有一次测试不通过,复测又能通过。
[0003]当前在对测试板进行测试过程中,对于存在一次不良的问题测试板往往难以定位,在出问题时没办法确认问题是否为一次不良的问题。只能在问题发生后再进行分析定位,操作难度大,效率低,造成耗费大量的时间精力,无法对生产出的产品进行测试验证确保正常。

技术实现思路

[0004]为克服相关技术中存在的问题,本公开提供一种测试装置及测试系统。
[0005]根据本公开实施例的第一方面,提供一种测试装置,应用于测试板的误测检测,包括:
[0006]监测板,与所述测试板可拆卸连接;
[0007]模数转化器,设置于所述监测板,用于采集所述测试板的电压变化信号;以及
[0008]微处理器,设置于所述监测板,与所述模数转化器连接,用于发送采集到的所述电压变化信号;
[0009]其中,当所述测试板与所述监测板连接时,所述微处理器接收所述监测板经所述模数转化器发送的所述电压变化信号,所述微处理器并发送采集到的所述电压变化信号。
[0010]在一些实施例中,所述监测板与所述测试板扣合连接。
[0011]在一些实施例中,所述监测板安装有第一连接器,所述第一连接器与所述模数转化器连接;所述测试板安装有第二连接器,所述第二连接器与所述第一连接器可拆卸连接。
[0012]在一些实施例中,所述第二连接器包括测试点,所述测试点与所述第一连接器配合连接。
[0013]在一些实施例中,所述第二连接器包括插针,所述插针与所述第一连接器配合连接。
[0014]在一些实施例中,所述模数转化器包括多个,多个所述模数转化器安装于所述监测板,用于采集所述测试板的电压变化信号。
[0015]根据本公开实施例的第二方面,提供一种测试系统,包括:
[0016]如上述第一方面中任一实施例所述的测试装置;
[0017]测试板,所述测试板与所述测试装置可拆卸连接,用于对所述测试板进行测试;以及
[0018]上位机,与所述测试装置信号连接,对接收到的所述信号进行同步分析。
[0019]在一些实施例中,所述测试板包括开关器件,所述开关器件设置于所述测试板并与所述第二连接器连接,所述开关器件用于切换不同的测试项目。
[0020]在一些实施例中,所述开关器件包括多个,多个所述开关器件与所述多个模数转化器一一对应。
[0021]在一些实施例中,所述微处理器通过串口协议或者USB协议发送所述电压变化信号至所述上位机。
[0022]本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:本公开通过监测板与测试板可拆卸连接,监测板通过模数转化器采集测试板的电压变化信号,监测板通过微处理器发送采集到的电压变化信号。当测试板与监测板连接时,微处理器接收监测板经模数转化器发送的电压变化信号,微处理器并发送采集到的电压变化信号,实现了在出问题时即可确认问题是否为一次不良的问题,无需在问题发生后再进行分析定位,解决了操作难度大,效率低的问题。能够确保排除因测试装置原因带来的一次不良问题,提升了研发和生产效率。
[0023]应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
[0024]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。
[0025]图1是根据一示例性实施例示出的一种测试装置的结构示意图。
[0026]图2是根据一示例性实施例示出的一种待测板的结构示意图。
[0027]图3是根据一示例性实施例示出的一种测试装置与待测板连接的结构示意图。
[0028]图4是根据一示例性实施例示出的一种测试系统的结构示意图。
具体实施方式
[0029]这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0030]在电子产品的生产测试场景中,需要测试装置对所制造的产品或组件进行相应的测试,以保证所制造的产品或组件的各项指标参数或功能符合使用要求。测试过程中会拦截出问题产品。但是有一种问题产品存在因测试装置原因带来的一次不良问题,即有一次测试不通过,复测又能通过。
[0031]当前自动化测试通常是利用开关器件进行切换,自动执行不同测试项目。测试装置原因包括开关器件的开关动作执行不到位从而造成一次不良,这种不良却没有有效的定位手段。
[0032]相关技术中,只能在问题发生后从测试板上焊接飞线,用示波器抓取信号进行分析定位,操作难度大,效率低,条件要求高,在出问题时没办法确认问题原因。只能在问题发
生后再进行分析定位,操作难度大,效率低,造成耗费大量的时间精力,无法对生产出的产品进行测试验证确保正常。
[0033]为了解决上述问题,本公开提供一种测试装置。如图1和图2所示,图1是根据一示例性实施例示出的一种测试装置的结构示意图。图2是根据一示例性实施例示出的一种待测板的结构示意图。测试装置应用于测试板20的误测检测,测试装置包括:监测板10、模数转化器30以及微处理器40。
[0034]监测板10与测试板20可拆卸连接。模数转化器30设置于监测板10,用于采集测试板20的电压变化信号。微处理器40设置于监测板10,与模数转化器30连接,用于发送采集到的电压变化信号。
[0035]其中,当测试板20与监测板10连接时,微处理器40接收监测板10经模数转化器30发送的电压变化信号,微处理器40并发送采集到的电压变化信号。
[0036]监测板10可以为长方形板结构,也可以为圆形板结构,还可以为五边形结构,又可以为其他结构,本公开对此不做具体限定。测试板20可以为长方形板结构,也可以为圆形板结构,还可以为五边形结构,又可以为其他结构,本公开对此不做具体限定。监测板10的形状与测试板20的形状可以相同,也可以不相同。
[0037]模数转化器30也称为A/D转换器,Analog

to

Digital Converter,简称ADC。A/D转换器是把连续的模拟信号转变为离散的数字信号的器件。
[0038]微处理器40,Micro Controller Unit,简称MCU。微处理器40能完成取指令、执行指令,以及与外本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置,其特征在于,应用于测试板的误测检测,包括:监测板,与所述测试板可拆卸连接;模数转化器,设置于所述监测板,用于采集所述测试板的电压变化信号;以及微处理器,设置于所述监测板,与所述模数转化器连接,用于发送采集到的所述电压变化信号;其中,当所述测试板与所述监测板连接时,所述微处理器接收所述监测板经所述模数转化器发送的所述电压变化信号,所述微处理器并发送采集到的所述电压变化信号。2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述监测板与所述测试板扣合连接。3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述监测板安装有第一连接器,所述第一连接器与所述模数转化器连接;所述测试板安装有第二连接器,所述第二连接器与所述第一连接器可拆卸连接。4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述第二连接器包括测试点,所述测试点与所述第一连接器配合连接。5.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述第二连接器包括插...

【专利技术属性】
技术研发人员:宁鹏钢
申请(专利权)人:北京小米移动软件有限公司
类型:新型
国别省市:

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