【技术实现步骤摘要】
一种基于单目相机的垂直针卡引导方法
[0001]本专利技术涉及基于单目相机的垂直针卡引导方法的
,特别涉及一种基于单目相机的垂直针卡引导方法。
技术介绍
[0002]随着集成电路的高速发展,手机、手表、电脑等消费电子产品需求量激增,芯片尺寸越来越小,功能越来越多,芯片的功能测试成为评价产品合格的重要标准,目前对芯片功能测试一种方式是借助显微镜人工测试,这种芯片测试方式不仅效率低、数据稳定性差并且人工成本高,难以适应现在日益自动化的产线,另一种测试方式是通过飞针测试机对测试芯片多个点逐一检测,测试过程中不能满足多点联合测试的要求,测试效率低,同时目前的飞针测试机使用垂直探针配合视觉组件从上方对测试芯片进行观测测试,由于测试芯片在实际加工过程中存在一点的尺寸误差,自上而下的单一视觉无法准确观测到测试芯片的尺寸误差,使测试时垂直探针落点无效,降低测试落针的有效性,若通过多相机建立垂直探针与产品之间的关系提高扎针精度导致机台设计复杂、成本增加。
技术实现思路
[0003]本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于单目相机的垂直针卡引导方法,其特征在于:它包括检测相机以及调整平台,所述检测相机对所述调整平台和测试产品检测配合并将数据传输至外部数据控制机构,所述调整平台设有若干垂直探针,若干所述垂直探针与产品导通配合,所述调整平台设有三个开孔,该垂直针卡引导方法按以下步骤对测试产品进行定位:步骤S1.通过所述检测相机视觉识别所述调整平台中三个开孔位置与测试产品之间的位置关系,三个开孔分别为A、B、C三点,测试产品与所述调整平台平行的状态下A点和B点形成连线AB穿过产品中心点,A点和C点形成连线AC与连线AB形成一定的角度,所述检测相机识别测试产品预留孔与三个开孔位置关系;步骤S2.所述调整平台根据所述检测相机视觉识别结果转动一定的角度,使若干所述垂直探针与测试产品垂直;步骤S3.若干所述垂直探针的垂直中心到测试产品中心的距离存在偏差,调整平台对产品中心点位置进行校正,测试产品到位后若干所述垂直探针的垂直...
【专利技术属性】
技术研发人员:豆昌军,王建波,彭林,阮昌云,
申请(专利权)人:成都市运泰利自动化设备有限公司,
类型:发明
国别省市:
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