检查装置以及夹具制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种检查装置以及夹具，能够容易地组装检查装置且具有高检查精度。电路元件具有朝向Z轴的负方向依次排列的电路元件正主面和电路元件负主面，并且具备位于电路元件负主面的一个以上的外部电极。检查装置具备第一夹具和第二夹具。第一夹具包括支承构件和绝缘构件，该绝缘构件在支承构件上被固定为位于比支承构件靠Z轴的负方向的位置，并且与电路元件正主面接触。第二夹具包括一个以上的端子，该一个以上的端子位于比第一夹具靠Z轴的负方向的位置，并且与一个以上的外部电极接触。第一夹具具有能够相对于第二夹具沿Z轴方向相对地移动的构造。向相对地移动的构造。向相对地移动的构造。

【技术实现步骤摘要】
检查装置以及夹具


[0001]本技术涉及用于检查电路元件的检查装置以及夹具。

技术介绍

[0002]作为以往的关于检查装置的专利技术，例如已知有专利文献1所记载的模块插座。模块插座保持无线模块。于是，模块插座具备基部、插座盖及钩部。基部位于无线模块的下方。插座盖位于无线模块的上方。钩部将基部与插座盖固定。
[0003]在插座盖设置有贯通孔。由无线模块辐射的电磁波从贯通孔向上方向行进。由此，测定器接收电磁波。
[0004]在先技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2015
‑
94741号公报

技术实现思路

[0007]技术要解决的问题
[0008]然而，在专利文献1所记载的模块插座中，存在想要使模块插座的组装变得容易并实现无线模块的检查精度的提高这样的期望。
[0009]于是，本技术的目的在于，提供一种能够容易地组装检查装置并且具有较高的检查精度的检查装置以及夹具。
[0010]用于解决问题的手段
[0011]本技术的一方式的检查装置是电路元件的检查装置，其特征在于，
[0012]所述电路元件具有朝向Z轴的负方向依次排列的电路元件正主面和电路元件负主面，并且具备位于所述电路元件负主面的一个以上的外部电极，
[0013]所述检查装置具备第一夹具和第二夹具，
[0014]所述第一夹具包括：
[0015]支承构件；以及
[0016]绝缘构件，其在所述支承构件上被固定为位于比所述支承构件靠所述Z轴的负方向的位置，并且与所述电路元件正主面接触，
[0017]所述第二夹具包括一个以上的端子，该一个以上的端子位于比所述第一夹具靠所述Z轴的负方向的位置，并且与所述一个以上的外部电极接触，
[0018]所述第一夹具具有能够相对于所述第二夹具沿Z轴方向相对地移动的构造。
[0019]本技术的一方式的夹具用于电路元件的检查装置，其特征在于，
[0020]所述电路元件具有朝向Z轴的负方向依次排列的电路元件正主面和电路元件负主面，并且具备位于所述电路元件负主面的一个以上的外部电极，
[0021]所述夹具具备：
[0022]绝缘构件，其与所述电路元件爪主面接触；
[0023]第一电磁波吸收构件，其覆盖所述绝缘构件的位于与所述Z轴正交的方向的侧面；以及
[0024]第二电磁波吸收构件，其位于所述绝缘构件的所述Z轴的正方向。
[0025]技术效果
[0026]根据本技术的检查装置以及夹具，能够容易地组装检查装置，并且能够实现检查精度的提高。
附图说明
[0027]图1是检查装置10的主视图。
[0028]图2是绝缘构件16和电磁波吸收构件17的立体图。
[0029]图3是绝缘构件16的立体图。
[0030]图4是电路元件50和第二夹具14的剖视图。
[0031]图5是母电路元件50M的俯视图、电路元件50的俯视图及电路元件50的仰视图。
[0032]图6是绝缘构件16和母电路元件50M的俯视图。
[0033]图7是检查装置10a的绝缘构件16和电磁波吸收构件17的立体图。
[0034]图8是电路元件50和第二夹具14的剖视图。
[0035]图9是绝缘构件16和母电路元件50M的俯视图。
[0036]图10是检查装置10b的主视图。
[0037]附图标记说明
[0038]10、10a、10b：检查装置；
[0039]12：第一夹具；
[0040]14：第二夹具；
[0041]16：绝缘构件；
[0042]16a：平板部；
[0043]16b：圆柱部；
[0044]16c：突起部；
[0045]17、20：电磁波吸收构件；
[0046]18：支承构件；
[0047]22：金属箔；
[0048]24：保持构件；
[0049]25b～25f：端子；
[0050]26：夹具基板；
[0051]26a：基板主体；
[0052]26b～26f、50b～50f：外部电极；
[0053]50：电路元件；
[0054]50M：母电路元件；
[0055]50a：主体；
[0056]50g、50h：天线；
[0057]250、260：筒部；
[0058]252、262：下销；
[0059]254、264：上销；
[0060]256、266：弹簧；
[0061]268：筒体；
[0062]270：下绝缘构件；
[0063]272：上绝缘构件；
[0064]A2：基准区域；
[0065]C0：中心；
[0066]C1：基准圆；
[0067]G：凹陷；
[0068]h：贯通孔；
[0069]H0：孔；
[0070]M：位置标记；
[0071]S1：上主面；
[0072]S2：下主面；
[0073]Sp：空洞。
具体实施方式
[0074](实施方式)
[0075][检查装置的构造][0076]以下，参照附图对本技术的实施方式的检查装置10进行说明。图1是检查装置10的主视图。需要说明的是，在图1中，仅支承构件18示出了剖面。图2是绝缘构件16和电磁波吸收构件17的立体图。图3是绝缘构件16的立体图。图4是电路元件50和第二夹具14的剖视图。图5是母电路元件50M的俯视图、电路元件50的俯视图及电路元件50的仰视图。图6是绝缘构件16和母电路元件50M的俯视图。
[0077]以下，将电路元件50的上主面S1(电路元件正主面)和下主面S2(电路元件负主面)排列的方向定义为上下方向。上方向与Z轴的正方向一致。下方向与Z轴的负方向一致。另外，将与上下方向正交的方向定义为前后方向和左右方向。前后方向与左右方向正交。但是，上下方向、左右方向及前后方向是为了方便说明而定义的方向。因此，上下方向、左右方向及前后方向也可以与使用检查装置10时的上下方向、左右方向及前后方向不一致。
[0078]检查装置10进行电路元件50的检查。具体而言，检查装置10使高频信号输入到电路元件50，进行电路元件50的动作确认。高频信号的频率例如为20GHz以上。如图1所示，检查装置10具备第一夹具12和第二夹具14。
[0079]第一夹具12包括绝缘构件16、电磁波吸收构件17、20、支承构件18及金属箔22。支承构件18是金属构件。在本实施方式中，支承构件18是具有上主面和下主面的金属板。但是，在支承构件18的下主面设置有凹陷G。支承构件18的材料例如是SUS(Steel Use Stainless，不锈钢)。
[0080]绝缘构件16在支承构件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查装置，是电路元件的检查装置，其特征在于，所述电路元件具有朝向Z轴的负方向依次排列的电路元件正主面和电路元件负主面，并且具备位于所述电路元件负主面的一个以上的外部电极，所述检查装置具备第一夹具和第二夹具，所述第一夹具包括：支承构件；以及绝缘构件，其在所述支承构件上被固定为位于比所述支承构件靠所述Z轴的负方向的位置，并且与所述电路元件正主面接触，所述第二夹具包括一个以上的端子，该一个以上的端子位于比所述第一夹具靠所述Z轴的负方向的位置，并且与所述一个以上的外部电极接触，所述第一夹具具有能够相对于所述第二夹具沿Z轴方向相对地移动的构造。2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，将用在所述电路元件内传输的信号的波长除以2π而得到的值定义为基准距离，在所述绝缘构件与所述电路元件正主面相接的状态下，所述电路元件与所述支承构件的所述Z轴方向上的距离比所述基准距离长。3.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，将用在所述电路元件内传输的信号的波长除以2π而得到的值定义为基准距离，将以所述基准距离为半径且在沿所述Z轴方向观察时以所述电路元件的中心为中心的圆定义为基准圆，在所述绝缘构件与所述电路元件正主面相接的状态下，在沿所述Z轴方向观察时，所述基准圆落入所述绝缘构件的外缘内。4.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，将用在所述电路元件内传输的信号的波长除以2π而得到的值定义为基准距离，将由以下的线包围的区域定义为基准区域，该线在沿所述Z轴方向观察时位于从所述电路元件的外缘与所述电路元件分离了所述基准距离的方向，在所述绝缘构件与所述电路元件正主面相接的状态下，在沿所述Z轴方向观察时，所述基准区域落入所述绝缘构件的外缘内。5.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：大岛启吾，多胡茂，富桝胜仁，
申请(专利权)人：株式会社村田制作所，
类型：新型
国别省市：