一种半导体测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体测试治具，涉及半导体制造技术领域，包括冶具座，所述冶具座内部设置有左右两活动座，所述活动座左右滑动于冶具座内部，所述活动座内设置有前后两夹紧块，前后两所述夹紧块之间设置有左右两弹性片。本实用新型专利技术设置的半导体测试冶具座结构，在开关盒盖的过程中，能够传动内部活动座结构的活动，在打开过程中，活动座外移，内部前后夹紧块结构露出，方便放置芯片的同时，方便了芯片的取出，在关闭过程中，活动座回复，前后夹紧块配合两侧弹性片结构，对中间芯片进行稳定，保证芯片测试工作的正常进行，前后滑动的夹紧块配合两侧一定弹力的弹性片结构，可对一定范围大小的芯片进行良好的稳定。围大小的芯片进行良好的稳定。围大小的芯片进行良好的稳定。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试治具


[0001]本技术涉及半导体制造
，尤其涉及一种半导体测试治具。

技术介绍

[0002]半导体芯片：在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件，治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作的一种工具。半导体生产过程中需要对其进行性能及功能测试，为方便测试，一般配备有对应测试芯片的冶具，冶具内有匹配芯片的凹槽，用于稳定芯片，但是测试完后，则不方便其芯片的取出。因此本实用提出了一种半导体测试治具，以解决上述
技术介绍
中提到的问题。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体测试治具。
[0004]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0005]一种半导体测试治具，包括冶具座，所述冶具座内部设置有左右两活动座，所述活动座左右滑动于冶具座内部，所述活动座内设置有前后两夹紧块，前后两所述夹紧块之间设置有左右两弹性片，所述弹性片固定于活动座内部，所述冶具座上侧设置有盒盖，所述盒盖后侧固定连接有转杆一，所述转杆一转动连接于冶具座后侧，所述转杆一与冶具座内部两活动座传动连接。
[0006]优选地，所述冶具座内部转动连接有左右两转杆二，转杆二两端均固定有齿轮三，活动座两侧均开设有对应齿轮三的齿槽。
[0007]优选地，所述转杆一中间周侧固定有齿轮一，齿轮一内侧设置与其啮合的齿条，齿条上下滑动于冶具座后侧。
[0008]优选地，所述齿条左右两侧均设置有与其啮合的齿轮二，两齿轮二分别与冶具座内部的两转杆二固定连接。
[0009]优选地，所述夹紧块后侧两端均设置有滑槽块，夹紧块前后滑动于两滑槽块之间，且滑槽块内部设置有对应夹紧块的弹簧一。
[0010]优选地，所述活动座内部上侧设置有贯穿滑槽块的若干滑柱，夹紧块通过两侧滑槽块和滑柱上下滑动于活动座内，且滑柱周侧套设有弹簧二。
[0011]优选地，所述夹紧块下侧固定有斜块，冶具座内部两侧前后均设置有对应斜块的斜面块。
[0012]相比现有技术，本技术的有益效果为：
[0013]1、本技术设置的半导体测试冶具座结构，在开关盒盖的过程中，能够传动内部活动座结构的活动，在打开过程中，活动座外移，内部前后夹紧块结构露出，方便放置芯片的同时，方便了芯片的取出，在关闭过程中，活动座回复，前后夹紧块配合两侧弹性片结
构，对中间芯片进行稳定，保证芯片测试工作的正常进行；
[0014]2、本技术设置的活动座内部稳定结构，前后滑动的夹紧块配合两侧一定弹力的弹性片结构，其具备一定的适用范围，可对一定范围大小的芯片进行良好的稳定，改变传统固定放置槽的固定方式，提高了本冶具座结构测试芯片的适用面。
附图说明
[0015]图1为本技术提出的一种半导体测试治具的结构示意图一；
[0016]图2为本技术提出的一种半导体测试治具的结构示意图二；
[0017]图3为本技术提出的一种半导体测试治具中冶具盒的内部结构示意图；
[0018]图4为本技术提出的一种半导体测试治具中夹紧块的连接结构示意图；
[0019]图5为本技术提出的一种半导体测试治具中活动座的内部结构示意图。
[0020]图中：1、冶具座；2、盒盖；3、齿轮一；4、齿轮二；5、齿条；6、活动座；7、转杆一；8、齿轮三；9、夹紧块；10、转杆二；11、斜面块；12、滑槽块；13、弹簧一；14、弹簧二；15、斜块；16、弹性片；17、滑柱。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0022]参照图1
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5，一种半导体测试治具，包括冶具座1，冶具座1内部设置有左右两活动座6，活动座6左右滑动于冶具座1内部，冶具座1内部转动连接有左右两转杆二10，转杆一7中间周侧固定有齿轮一3，齿轮一3内侧设置与其啮合的齿条5，齿条5上下滑动于冶具座1后侧，齿条5左右两侧均设置有与其啮合的齿轮二4，两齿轮二4分别与冶具座1内部的两转杆二10固定连接；
[0023]进一步的是，冶具座1上侧设置有盒盖2，盒盖2后侧固定连接有转杆一7，转杆一7转动连接于冶具座1后侧，转杆一7与冶具座1内部两活动座6传动连接,当需要装置半导体芯片时，需先将本冶具座1打开，翻开盒盖2，放置半导体芯片,盒盖2在翻开过程中，其周侧转杆一7周侧齿轮一3与齿条5发生啮合传动，使得齿条5被传动上滑，在齿条5上移过程中，齿条5与两侧齿轮二4发生啮合传动，使得两侧齿轮二4转动，两转动的齿轮二4带动冶具座1内部连接的两转杆二10转动,转杆二10两端均固定有齿轮三8，活动座6两侧均开设有对应齿轮三8的齿槽,转动的转杆二10带动内部两端的齿轮三8转动，齿轮三8传动上侧啮合的活动座6结构，使得冶具座1内部两活动座6，在盒盖2转动竖直的过程中，向两外侧滑动平移，进而展开活动座6；
[0024]更进一步的是，活动座6内设置有前后两夹紧块9,夹紧块9后侧两端均设置有滑槽块12,活动座6内部上侧设置有贯穿滑槽块12的若干滑柱17，夹紧块9通过两侧滑槽块12和滑柱17上下滑动于活动座6内，且滑柱17周侧套设有弹簧二14，夹紧块9下侧固定有斜块15，冶具座1内部两侧前后均设置有对应斜块15的斜面块11，上述活动座6在外移过程中，夹紧块9下侧斜块15与冶具座1内底部的斜面块11接触，使得斜块15带动其上侧的夹紧块9结构上滑，夹紧块9通过后侧两滑槽块12结构在两滑柱17之间上滑，随着滑槽块12的上移，位于
滑柱17周侧弹簧二14也被压紧，而活动座6内部的前后夹紧块9结构也露出活动座6内部；
[0025]更进一步的是，前后两夹紧块9之间设置有左右两弹性片16，弹性片16固定于活动座6内部，夹紧块9前后滑动于两滑槽块12之间，且滑槽块12内部设置有对应夹紧块9的弹簧一13,将半导体芯片置于前后两露出的夹紧块9之间，半导体芯片受前后夹紧块9的弹簧一13弹力作用，对中间半导体芯片结构进行夹紧固定，而后重新盖上盒盖2，同上传动步骤，反向推导，冶具座1内两侧活动座6回复到初始位置,夹紧块9下侧斜块15不再与斜面块11结构接触，受滑柱17周侧弹簧二14弹力作用下移，将中间夹紧的半导体芯片带动下移，在此过程中，活动座6内部左右的弹性片16结构被压迫内转，同时保持有向外推动的力，因此左右两弹性片16结构，配合前后夹紧块9结构，对深入活动座6内的半导体芯片进行稳定。
[0026]本技术具体工作原理如下：
[0027]在使用本半导体测试治具，当需要装置半导体芯片时，需先将本冶具座1打开，翻开盒盖2，放置半导体芯片；
[0028]盒盖2在翻开过程中，其周侧转杆一7周侧齿轮一3与齿条5发生啮合传动，使得本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试治具，包括冶具座(1)，其特征在于，所述冶具座(1)内部设置有左右两活动座(6)，所述活动座(6)左右滑动于冶具座(1)内部，所述活动座(6)内设置有前后两夹紧块(9)，前后两所述夹紧块(9)之间设置有左右两弹性片(16)，所述弹性片(16)固定于活动座(6)内部，所述冶具座(1)上侧设置有盒盖(2)，所述盒盖(2)后侧固定连接有转杆一(7)，所述转杆一(7)转动连接于冶具座(1)后侧，所述转杆一(7)与冶具座(1)内部两活动座(6)传动连接。2.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述冶具座(1)内部转动连接有左右两转杆二(10)，转杆二(10)两端均固定有齿轮三(8)，活动座(6)两侧均开设有对应齿轮三(8)的齿槽。3.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述转杆一(7)中间周侧固定有齿轮一(3)，齿轮一(3)内侧设置与其啮合的齿条(5)，齿条(5)上下...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐守彬，
申请(专利权)人：上海凌测电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：