一种射频芯片测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种射频芯片测试设备，包括测试设备本体，测试设备本体前面上侧设有测试接口，测试设备本体侧面嵌入安装有触控屏，测试设备本体下端卡接有底座，底座上下两端中部均设有放置槽，测试设备本体与放置槽插接。在携带测试设备本体的时候，可以将缓冲垫朝向使底座与测试设备本体卡接，这样在放下测试设备本体时，通过缓冲垫和滑杆上压缓冲弹簧，可以起到缓冲测试设备本体的作用，这样可以尽量避免测试设备本体内的零件因为测试设备本体与地面接触时产生的震动而松动，另外，可以将牛眼轮朝向使底座与测试设备本体卡接，这样拖动测试设备本体的时候，减少噪音的产生，从而便于移动测试设备本体。从而便于移动测试设备本体。从而便于移动测试设备本体。

【技术实现步骤摘要】
一种射频芯片测试设备


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体为一种射频芯片测试设备。

技术介绍

[0002]射频技术一般用于感应式电子晶片或近接卡、感应卡、非接触卡、电子标签、电子条码，射频技术中最重要的就是射频芯片，在对射频芯片进行测试时，需要用到测试设备，其测试设备是通过谐波测试方法进行测试射频芯片的。
[0003]现有的射频芯片测试设备，一般为了方便携带或者移动，均会在一侧设置个把手用来提着射频芯片测试设备，而在放下射频芯片测试设备的时候，缺少缓冲结构，导致射频芯片测试设备内部零件容易因为测试设备本体与地面接触的时候而松动。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种射频芯片测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]一种射频芯片测试设备，包括测试设备本体，所述测试设备本体前面上侧设有测试接口，所述测试设备本体侧面嵌入安装有触控屏，所述测试设备本体下端卡接有底座，所述底座上下两端中部均设有放置槽，所述测试设备本体与放置槽插接，所述底座上端且位于上侧的所述放置槽四角部位均固定有牛眼轮，所述底座下端且位于下侧的所述放置槽四角部位均设有底槽，所述底槽槽底固定有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧另一端固定连接有滑杆，所述滑杆末端延伸出底槽，所述滑杆末端固定连接有缓冲垫，所述放置槽内壁前后两端均设有插口，前后两个同一水平线的所述插口之间插接有插杆，所述测试设备本体下部前端设有穿口，所述插杆与穿口穿插设置。
[0006]具体的，所述测试设备本体前端下侧设有散热口。
[0007]具体的，所述测试设备本体上端固定连接有把手。
[0008]具体的，所述插杆、穿口以及插口均呈工字型，所述穿口位于所述散热口下方，所述穿口与插口相对应。
[0009]具体的，所述插杆前端固定有固定轴，所述固定轴外部活动贯穿有旋板，所述固定轴呈T型，所述底座前端固定有呈凹字型的卡杆，所述卡杆位于上下的所述插口之间，所述旋板前面与卡杆内端前面相贴。
[0010]有益效果：在携带测试设备本体的时候，可以将缓冲垫朝向使底座与测试设备本体卡接，这样在放下测试设备本体时，通过缓冲垫和滑杆上压缓冲弹簧，可以起到缓冲测试设备本体的作用，这样可以尽量避免测试设备本体内的零件因为测试设备本体与地面接触时产生的震动而松动，另外，可以将牛眼轮朝向使底座与测试设备本体卡接，这样拖动测试设备本体的时候，减少噪音的产生，从而便于移动测试设备本体。
附图说明
[0011]图1为本技术整体示意图；
[0012]图2为本技术测试设备本体与底座拆开示意图；
[0013]图3为本技术底座剖面示意图。
[0014]图中：1
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测试设备本体、2
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触控屏、3
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测试接口、4
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散热口、5
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把手、6
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底座、7
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牛眼轮、8
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插口、9
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卡杆、10
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旋板、11
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固定轴、12
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放置槽、13
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插杆、14
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底槽、15
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缓冲弹簧、16
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滑杆、17
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缓冲垫。
具体实施方式
[0015]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。
[0016]如图1至图3所示，一种射频芯片测试设备，包括测试设备本体1，所述测试设备本体1前面上侧设有测试接口3，所述测试设备本体1侧面嵌入安装有触控屏2，所述测试设备本体1前端下侧设有散热口4，通过测试接口3连接测试组件，可以通过测试组件进行测试射频芯片，而通过散热口4，则可以利于测试设备本体1内部热量散出；
[0017]所述测试设备本体1下端卡接有底座6，所述底座6上下两端中部均设有放置槽12，所述测试设备本体1与放置槽12插接，所述底座6上端且位于上侧的所述放置槽12四角部位均固定有牛眼轮7，所述底座6下端且位于下侧的所述放置槽12四角部位均设有底槽14，所述底槽14槽底固定有缓冲弹簧15，所述缓冲弹簧15另一端固定连接有滑杆16，所述滑杆16末端延伸出底槽14，所述滑杆16末端固定连接有缓冲垫17，所述放置槽12内壁前后两端均设有插口8，前后两个同一水平线的所述插口8之间插接有插杆13，所述测试设备本体1下部前端设有穿口，所述插杆13与穿口穿插设置，所述插杆13、穿口以及插口8均呈工字型，所述穿口位于所述散热口4下方，所述穿口与插口8相对应，所述测试设备本体1上端固定连接有把手5，在握住把手5提着测试设备本体1移动前，可以将缓冲垫17朝向下方，再将测试设备本体1底部插入底座6上方的放置槽12内部，之后将插杆13沿着前侧的插口8穿过测试设备本体1的穿口，这样可以将测试设备本体1与底座6卡接，之后提着测试设备本体1移动至下放时，首先缓冲垫17与地面接触起到初步缓冲，之后滑杆16会往底槽14内部滑入并挤压缓冲弹簧15，此时再次起到缓冲的作用，这样可以尽量避免测试设备本体1内的零件因为测试设备本体1与地面接触时产生的震动而松动；
[0018]另一方面，在将测试设备本体1放在地面上后，通过往前拔出插杆13，再翻转底座6一百八十度角，使牛眼轮7朝向下方，之后将测试设备本体1插入底座6上的放置槽12，然后再将插杆13沿着前侧的插口8穿过测试设备本体1的穿口，这样拖动测试设备本体1的时候，通过牛眼轮7与地面滚动，可以减少噪音的产生，从而便于移动测试设备本体1；
[0019]所述插杆13前端固定有固定轴11，所述固定轴11外部活动贯穿有旋板10，所述固定轴11呈T型，所述底座6前端固定有呈凹字型的卡杆9，所述卡杆9位于上下的所述插口8之间，所述旋板10前面与卡杆9内端前面相贴，在将插杆13插入前侧的插口8内部至旋板10后端面与底座6前端面相贴时，旋转旋板10，使旋板10在固定轴11外部旋转九十度角，这样可将旋板10的一端旋入卡杆9内侧与卡杆9内侧前端相贴，且旋板10呈长方形，此时卡杆9起到卡住旋板10的作用，增加插杆13插在插口8内的稳定性；
[0020]另外，再旋转旋板10九十度角后，可使旋板10的一端旋出卡杆9内侧，再往前抽动旋板10，就可将插杆13从前侧的插口8拔出，这样操作方便。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频芯片测试设备，包括测试设备本体(1)，所述测试设备本体(1)前面上侧设有测试接口(3)，所述测试设备本体(1)侧面嵌入安装有触控屏(2)，其特征在于：所述测试设备本体(1)下端卡接有底座(6)，所述底座(6)上下两端中部均设有放置槽(12)，所述测试设备本体(1)与放置槽(12)插接，所述底座(6)上端且位于上侧的所述放置槽(12)四角部位均固定有牛眼轮(7)，所述底座(6)下端且位于下侧的所述放置槽(12)四角部位均设有底槽(14)，所述底槽(14)槽底固定有缓冲弹簧(15)，所述缓冲弹簧(15)另一端固定连接有滑杆(16)，所述滑杆(16)末端延伸出底槽(14)，所述滑杆(16)末端固定连接有缓冲垫(17)，所述放置槽(12)内壁前后两端均设有插口(8)，前后两个同一水平线的所述插口(8)之间插接有插杆(13)，所述测试设备本...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄哲尔，沈义明，韦宗专，
申请(专利权)人：上海凌测电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：