本实用新型专利技术提供了一种新型射频芯片测试装置，涉及芯片测试技术领域，射频测试设备前端下方开设有预留槽，且射频测试设备前端并位于预留槽下方铰接有附属板，附属板外壁下方嵌接有把手，且附属板内壁均匀嵌接有若干个夹持环一，附属板内壁且位于夹持环一前端均设有夹持环二，且夹持环二底端固定有嵌入于附属板内部的伸缩轴，夹持环二内壁均匀滚动连接有若干颗滚珠，射频测试设备前端且位于附属板下方紧密粘接有防撞垫板，且把手随附属板的开启而抵住防撞垫板，一组固线结构针对一根线缆进行固线，使得线缆从插接件到被测芯片元件之间的一段位置被定位，线缆之间输出时不易相互缠卷。线缆之间输出时不易相互缠卷。线缆之间输出时不易相互缠卷。
【技术实现步骤摘要】
一种新型射频芯片测试装置
[0001]本技术涉及芯片测试领域，具体为一种新型射频芯片测试装置。
技术介绍
[0002]射频测试是射频电流，它是一种高频交流变化电磁波的简称。传统射频芯片测试设备在进行工作时，需要连接多根测试线缆，线缆数量过多的情况下就容易出现相互缠卷打结的情况，而传统射频芯片测试设备缺少集线固线结构，不利于测试工作。
技术实现思路
[0003]本技术提供了一种新型射频芯片测试装置，解决了线缆数量过多的情况下就容易出现相互缠卷打结的情况的问题。
[0004]为达到以上目的，本技术采取的技术方案是：一种新型射频芯片测试装置，包括射频测试设备和插接件，所述插接件的数量为若干个且均匀嵌接于射频测试设备前端；
[0005]所述射频测试设备前端下方开设有预留槽，且射频测试设备前端并位于预留槽下方铰接有附属板，所述附属板外壁下方嵌接有把手，且附属板内壁均匀嵌接有若干个夹持环一，所述附属板内壁且位于夹持环一前端均设有夹持环二，且夹持环二底端固定有嵌入于附属板内部的伸缩轴，所述夹持环二内壁均匀滚动连接有若干颗滚珠。
[0006]进一步的优选方案：所述射频测试设备前端且位于附属板下方紧密粘接有防撞垫板，且把手随附属板的开启而抵住防撞垫板，把手与防撞垫板均由橡胶材质制成，把手接触防撞垫板时，两者可相互减震。
[0007]进一步的优选方案：所述射频测试设备前端且位于预留槽上方嵌入有吸合磁块，且附属板内壁前端开设有衔接槽，所述衔接槽与吸合磁块相互衔接，附属板由冷轧钢材质制成，附属板的衔接槽可与吸合磁块相吸合。
[0008]进一步的优选方案：所述夹持环一设有若干纵排，且夹持环二分别位于每一纵排所述夹持环一正前端且呈纵向水平排布，通过夹持环一以及夹持环二可起到固线效果。
[0009]进一步的优选方案：所述夹持环二随伸缩轴伸缩而上下移动，且滚珠内端凸出于夹持环二内壁，夹持环二的高度可调，以便调节线缆输出的位置。
[0010]进一步的优选方案：所述夹持环一以及夹持环二均通过附属板闭合于预留槽内。
[0011]本技术的有益效果：
[0012]附属板往下翻转开启，且把手随附属板开启而位移，把手接触防撞垫板时，两者可相互缓冲减震，避免附属板撞击到射频测试设备导致两者受损；
[0013]因为附属板位置较低，为了利于开启附属板，还可直接用脚将把手往下踩，附属板同样能够被开启，此方法不需要弯腰拉动把手，节省劳力；
[0014]一组固线结构针对一根线缆进行固线，线缆由后往前从夹持环二输出，使得线缆从插接件到被测芯片元件之间的一段位置被定位，线缆之间输出时不易相互缠卷，伸缩轴延长后通过弹簧钢珠保持延长状态，夹持环二的位置则上移，使线缆从夹持环二输出位置
的高度变高，且滚珠可沿线缆外壁移动，降低线缆与夹持环二之间的摩擦力；
[0015]使得固线的同时能够调节线缆输出的位置，具有良好实用性。
附图说明
[0016]图1为本技术的整体结构示意图；
[0017]图2为本技术的射频测试设备结构示意图；
[0018]图3为本技术的A处局部放大结构示意图；
[0019]图4为本技术的伸缩轴与夹持环二结构拆分示意图；
[0020]图5为本技术的夹持环二结构内部示意图。
[0021]图中：射频测试设备1、插接件101、预留槽102、吸合磁块2、防撞垫板3、附属板4、把手401、夹持环一402、衔接槽403、伸缩轴5、夹持环二501、滚珠502。
具体实施方式
[0022]请参阅图1
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图5，一种新型射频芯片测试装置，包括射频测试设备1和插接件101，所述插接件101的数量为若干个且均匀嵌接于射频测试设备1前端；
[0023]具体的，射频测试设备1内搭载有各射频测试元件，且射频测试元件分别与插接件101连接，首先通过线缆将外界被测芯片元件与插接件101进行电连接；
[0024]所述射频测试设备1前端下方开设有预留槽102，且射频测试设备1前端并位于预留槽102下方铰接有附属板4，所述附属板4外壁下方嵌接有把手401，且附属板4内壁均匀嵌接有若干个夹持环一402，所述附属板4内壁且位于夹持环一402前端均设有夹持环二501，且夹持环二501底端固定有嵌入于附属板4内部的伸缩轴5，所述夹持环二501内壁均匀滚动连接有若干颗滚珠502；
[0025]所述射频测试设备1前端且位于预留槽102上方嵌入有吸合磁块2，且附属板4内壁前端开设有衔接槽403，所述衔接槽403与吸合磁块2相互衔接；初始状态下附属板4闭合于预留槽102，且夹持环一402以及夹持环二501均通过附属板4闭合于预留槽102内，而吸合磁块2与衔接槽403相互衔接，附属板4由冷轧钢材质制成，与磁铁具有吸合力，衔接槽403与吸合磁块2相吸合，能够保持附属板4的闭合状态；
[0026]所述射频测试设备1前端且位于附属板4下方紧密粘接有防撞垫板3，且把手401随附属板4的开启而抵住防撞垫板3；
[0027]可能有时接线数量较多，为了避免线缆相互缠绕，可进行固线：
[0028]拉动把手401，让附属板4开启，附属板4往下翻转开启，且把手401随附属板4开启而位移，附属板4开启到一定角度后，把手401会抵住防撞垫板3，把手401与防撞垫板3均由橡胶材质制成，把手401接触防撞垫板3时，两者可相互缓冲减震，避免附属板4撞击到射频测试设备1导致两者受损；
[0029]因为附属板4位置较低，为了利于开启附属板4，还可直接用脚将把手401往下踩，附属板4同样能够被开启，此方法不需要弯腰拉动把手401，节省劳力；
[0030]所述夹持环一402设有若干纵排，且夹持环二501分别位于每一纵排所述夹持环一402正前端且呈纵向水平排布；
[0031]把手401抵住防撞垫板3时，附属板4与预留槽102呈105
°
排布，且夹持环一402以及
夹持环二501均朝向于插接件101，可调节连接线缆卡固于夹持环一402以及夹持环二501中，呈同一纵排排布的夹持环一402以及夹持环二501组成一组固线结构，一组固线结构针对一根线缆进行固线，线缆由后往前从夹持环二501输出，使得线缆从插接件101到被测芯片元件之间的一段位置被定位，线缆之间输出时不易相互缠卷；
[0032]所述夹持环二501随伸缩轴5伸缩而上下移动，且滚珠502内端凸出于夹持环二501内壁；
[0033]为了调节线缆从夹持环二501输出位置的高度，可将夹持环二501往上拉，使伸缩轴5延长，伸缩轴5由多节相互套接的轴杆组成，且轴杆之间通过弹簧钢珠定位，伸缩轴5延长后通过弹簧钢珠保持延长状态，夹持环二501的位置则上移，使线缆从夹持环二501输出位置的高度变高，且滚珠502可沿线缆外壁移动，降低线缆与夹持环二501之间的摩擦力；
[0034]使得固线的同时能够本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种新型射频芯片测试装置，包括射频测试设备(1)和插接件(101)，所述插接件(101)的数量为若干个且均匀嵌接于射频测试设备(1)前端，其特征在于：所述射频测试设备(1)前端下方开设有预留槽(102)，且射频测试设备(1)前端并位于预留槽(102)下方铰接有附属板(4)，所述附属板(4)外壁下方嵌接有把手(401)，且附属板(4)内壁均匀嵌接有若干个夹持环一(402)，所述附属板(4)内壁且位于夹持环一(402)前端均设有夹持环二(501)，且夹持环二(501)底端固定有嵌入于附属板(4)内部的伸缩轴(5)，所述夹持环二(501)内壁均匀滚动连接有若干颗滚珠(502)。2.根据权利要求1所述的一种新型射频芯片测试装置，其特征在于：所述射频测试设备(1)前端且位于附属板(4)下方紧密粘接有防撞垫板(3)，且把手(401)随附属板(4)的开启而...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄哲尔，沈义明，韦宗专，
申请(专利权)人：上海凌测电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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