一种适应大电流的测试探针制造技术

本实用新型专利技术涉及一种适应大电流的测试探针，包括针管，针管的两端均设有针轴，两针轴至少其一可伸缩设置，两针轴的相邻端其一设有插头，另其一设有配合插头插接的插槽，当插头插入插槽时，两针轴相背离的一端的部分均位于针管外，两针轴之间设有将插头与插槽保持呈分离状态的弹性支撑件；本实用新型专利技术整体结构简单，不光避免了传统测试探针过大电流容易烧坏的缺点，而且在测试过程中稳定性的表现效果极佳，使用寿命也得极大的延长。使用寿命也得极大的延长。使用寿命也得极大的延长。

【技术实现步骤摘要】
一种适应大电流的测试探针


[0001]本技术涉及电子元件
，特别涉及一种适应大电流的测试探针。

技术介绍

[0002]测试探针是一种高端精密链接器件，广泛应用于测试PCB线路板、FPC(印刷电路)，其主要作为起连接作用的精密探针使用，目前已广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等

[0003]使用时，测试探针安装于测试治具上，测试探针的一端连接输出端(输出端指电压、频率等)，测试探针的另外一端则连接被测试元件，方可进行测试。测试过程中对测试探针的要求极高，但是现有的探针设计对过电压和频率输出有限，电压增大就会造成测试探针的内部零件烧坏现象，故而，本技术提出一种可适应过大电流的测试探针以解决上述问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种适应大电流的测试探针,该适应大电流的测试探针可以很好地解决上述问题。
[0005]为达到上述要求本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0006]提供一种适应大电流的测试探针，包括针管，所述针管的两端均设有针轴，两所述针轴至少其一可伸缩设置，两所述针轴的相邻端其一设有插头，另其一设有配合所述插头插接的插槽，当所述插头插入所述插槽时，两所述针轴相背离的一端的部分均位于所述针管外，两所述针轴之间设有将所述插头与所述插槽保持呈分离状态的弹性支撑件。
[0007]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，两所述针轴分别可伸缩设置在所述针管的两端。
[0008]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，所述针轴上设有止挡位，所述针管上设有配合所述止挡位防止所述针轴滑脱出所述针管的止挡件。
[0009]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，所述针轴位于所述针管内的一端周向设置有台阶，所述针管的两端分别向内收拢形成阻挡所述台阶的收窄口，所述针管的收拢段形成所述止挡件，所述台阶形成所述止挡位。
[0010]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，所述插头的端面上设有定位凸起，所述插槽的底面上设有配合所述定位凸起的定位凹槽。
[0011]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，所述定位凸起呈圆锥状。
[0012]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，所述弹性支撑件为弹簧，所述弹性支撑件的内径大于或等于所述插头的外径。
[0013]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，所述插头为圆柱体。
[0014]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，所述针管为圆柱体，所述针轴为圆柱体且其位于所述针管外的端面为半球面。
[0015]本技术所述的适应大电流的测试探针，其中，装配到位时，所述弹性支撑件的两端分别与两所述针轴相抵紧。
[0016]本技术的有益效果在于：本技术公开一种适应大电流的测试探针，使用时，两针轴受压收缩入针管内，插头插入插槽进而将两针轴导通，进而将外部输入的大电流分载，减少弹性支撑件的电流负荷，进而避免弹性支撑件因电流过大被烧断，以达到可过大电流的目的，相比较传统两针轴只通过弹性支撑件连接的探针，本技术不光避免了传统测试探针过大电流容易烧坏的缺点，而且在测试过程中稳定性的表现效果极佳，接触不良的情况基本不会发生，保证了测试结果的准确性和平稳性，使用寿命也得到了极大的延长。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，下面描述中的附图仅仅是本技术的部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图：
[0018]图1是本技术适应大电流的测试探针的整体结构剖视图。
[0019]图2是图1中A处的放大图。
具体实施方式
[0020]为了使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本技术的部分实施例，而不是全部实施例。基于本技术的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术的保护范围。
[0021]本技术较佳实施例的适应大电流的测试探针，如图1
‑
2所示，包括针管1，针管1的两端均设有针轴2，两针轴2至少其一可伸缩设置，两针轴2的相邻端其一设有插头3，另其一设有配合插头3插接的插槽4，当插头3插入插槽4时，两针轴2相背离的一端的部分均位于针管1外，以保证针轴2可与外设正常接触，两针轴2之间设有将插头3与插槽4保持呈分离状态的弹性支撑件5；使用时，两针轴2受压收缩入针管1内，插头3插入插槽4进而将两针轴2导通，进而将外部输入的大电流分载，减少弹性支撑件5的电流负荷，进而避免弹性支撑件5因电流过大被烧断，以达到可过大电流的目的，相比较传统两针轴2只通过弹性支撑件5连接的探针，本技术不光避免了传统测试探针过大电流容易烧坏的缺点，而且在测试过程中稳定性的表现效果极佳，接触不良的情况基本不会发生，保证了测试结果的准确性和平稳性，使用寿命也得到了极大的延长。
[0022]此外，本技术所述的探针还可以用于承载小电流的测试环境，可根据不同的测试要求选择不同的功能，灵活多变，适应性强。
[0023]优选的，两针轴2分别可伸缩设置在针管1的两端，两针轴2均可用于与外设测试器件接触的接触端，以满足生产需要。
[0024]优选的，针轴2上设有止挡位6，针管1上设有配合止挡位6防止针轴2滑脱出针管1的止挡件7。
[0025]优选的，针轴2位于针管1内的一端周向设置有环形的台阶，针管1的两端分别向内收拢形成阻挡台阶的收窄口，针管1的收拢段10形成止挡件7，台阶形成止挡位6，进而起到防止针轴2滑脱掉落的作用。
[0026]额外的，针管的收窄口的内壁11呈光滑圆弧状，以避免棱刺刮伤针轴的侧壁，进而影响测试的稳定性。
[0027]优选的，插头3的端面上设有定位凸起8，插槽4的底面上设有配合定位凸起8的定位凹槽9，以进一步保证当插头3插入插槽4时的稳定性，防止两针轴2发生相对移动。
[0028]优选的，定位凸起8呈圆锥状，一般的，将定位凸起的尖端切掉，形成锥台状，避免插头3在插槽4内径向移动，以起到更好的定位效果，同时还可以起到对插头进行导向定能为，方便插头插入插槽，此外，插槽的内壁呈敞口状，进一步方便插头插入；在测试探针领域，经常出现也是最让测试员头疼的情况便是探针过大电流时容易被烧坏，主要是因为探针两端的针轴2是通过一个设置在针管1内部的弹簧来实现连接，而弹簧由于其横截面小，电流阻力大，当探针过大电流时，其内部的零件也就是弹簧便会立刻被烧断，又由于探针本身的特殊构造导致制造弹簧的钢丝直径不能过粗，这就导致了探针无法过大电流，这个生产矛盾已困扰行业多时，而本技术提供的方案不光很好的解决了弹簧容易被烧坏的情况，而且本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适应大电流的测试探针，其特征在于，包括针管，所述针管的两端均设有针轴，两所述针轴至少其一可伸缩设置，两所述针轴的相邻端其一设有插头，另其一设有配合所述插头插接的插槽，当所述插头插入所述插槽时，两所述针轴相背离的一端的部分均位于所述针管外，两所述针轴之间设有将所述插头与所述插槽保持呈分离状态的弹性支撑件。2.根据权利要求1所述的适应大电流的测试探针，其特征在于，两所述针轴分别可伸缩设置在所述针管的两端。3.根据权利要求1所述的适应大电流的测试探针，其特征在于，所述针轴上设有止挡位，所述针管上设有配合所述止挡位防止所述针轴滑脱出所述针管的止挡件。4.根据权利要求3所述的适应大电流的测试探针，其特征在于，所述针轴位于所述针管内的一端周向设置有台阶，所述针管的两端分别向内收拢形成阻挡所述台阶的收窄口，所述针管的...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚坚，李军，
申请(专利权)人：深圳市美锐精密电子有限公司，
类型：新型
国别省市：