【技术实现步骤摘要】
一种适应大电流的测试探针
[0001]本技术涉及电子元件
,特别涉及一种适应大电流的测试探针。
技术介绍
[0002]测试探针是一种高端精密链接器件,广泛应用于测试PCB线路板、FPC(印刷电路),其主要作为起连接作用的精密探针使用,目前已广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等
[0003]使用时,测试探针安装于测试治具上,测试探针的一端连接输出端(输出端指电压、频率等),测试探针的另外一端则连接被测试元件,方可进行测试。测试过程中对测试探针的要求极高,但是现有的探针设计对过电压和频率输出有限,电压增大就会造成测试探针的内部零件烧坏现象,故而,本技术提出一种可适应过大电流的测试探针以解决上述问题。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于针对现有技术的不足,提供一种适应大电流的测试探针,该适应大电流的测试探针可以很好地解决上述问题。
[0005]为达到上述要求本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0006]提供一种适应大电流的测试探针,包括针管,所述针管的两端均设 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种适应大电流的测试探针,其特征在于,包括针管,所述针管的两端均设有针轴,两所述针轴至少其一可伸缩设置,两所述针轴的相邻端其一设有插头,另其一设有配合所述插头插接的插槽,当所述插头插入所述插槽时,两所述针轴相背离的一端的部分均位于所述针管外,两所述针轴之间设有将所述插头与所述插槽保持呈分离状态的弹性支撑件。2.根据权利要求1所述的适应大电流的测试探针,其特征在于,两所述针轴分别可伸缩设置在所述针管的两端。3.根据权利要求1所述的适应大电流的测试探针,其特征在于,所述针轴上设有止挡位,所述针管上设有配合所述止挡位防止所述针轴滑脱出所述针管的止挡件。4.根据权利要求3所述的适应大电流的测试探针,其特征在于,所述针轴位于所述针管内的一端周向设置有台阶,所述针管的两端分别向内收拢形成阻挡所述台阶的收窄口,所述针管的...
【专利技术属性】
技术研发人员:龚坚,李军,
申请(专利权)人:深圳市美锐精密电子有限公司,
类型:新型
国别省市:
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