用于DFN器件的老化测试箱制造技术

本实用新型专利技术公开一种用于DFN器件的老化测试箱，其位于右侧的支撑架沿竖直方向间隔安装在腔体内壁上，位于左侧的安装架进一步包括：安装板、置物板、连接杆，位于该侧腔体内壁且沿竖直方向间隔设置有若干个第一转轴柱，安装板的一端开设有一第一通孔，此安装板通过第一通孔套装在第一转轴柱上，置物板与安装板的侧壁固定连接，连接杆沿长度方向设置有若干个第二通孔，安装板的表面具有一第二转轴柱，该第二转轴柱与相应的第二通孔套装连接，一电动伸缩杆的一端与连接杆连接，另一端固定安装在腔体内壁上。本实用新型专利技术可以实现置物板的收折、打开，在便于对腔体内部器件进行维护、检修的同时，也提高了空间利用率。也提高了空间利用率。也提高了空间利用率。

【技术实现步骤摘要】
用于DFN器件的老化测试箱


[0001]本技术涉及半导体器件检测
，具体为一种用于DFN器件的老化测试箱。

技术介绍

[0002]随着电子产品的发展，例如笔记本电脑、手机、迷你CD、掌上电脑、CPU等消费类电子产品越来越向小型化方向发展。其中，作为核心的DFN微型器件等芯片起到关键的作用。DFN/QFN是一种最新的电子封装工艺。DFN/QFN平台具有多功能性，可以让一个或多个半导体器件在无铅封装内连接。
[0003]目前，一般通过将器件放置在位于测试腔内的承载板上，通过在测试腔内加强模拟自然环境中的老化因素，实现对器件的老化测试。但是，现有技术中的承载板一般为固定设置，且尺寸较大，当需要对腔体内部的器件进行维护检修时，该承载板对人员动作形成阻碍，导致人员操作十分不便。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种用于DFN器件的老化测试箱，该用于DFN器件的老化测试箱可以实现置物板的收折、打开，在便于对腔体内部器件进行维护、检修的同时，也提高了空间利用率。
[0005]为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种用于DFN器件的老化测试箱，包括：箱体，位于箱体内部开设有第一腔体、第二腔体，此第一腔体、第二腔体上、下分布且其开口侧各设置有一保温门板，所述保温门板的一端与箱体转动连接；
[0006]在所述第一腔体、第二腔体内部均设置有安装架、支撑架，位于右侧的支撑架沿竖直方向间隔安装在腔体内壁上；
[0007]位于左侧的安装架进一步包括：安装板、置物板、连接杆，位于该侧腔体的内壁上且沿竖直方向间隔设置有若干个第一转轴柱，所述安装板的一端开设有一第一通孔，此安装板通过第一通孔套装在第一转轴柱上，使得安装板的另一端可绕第一转轴柱转动，所述置物板与安装板的侧壁固定连接；
[0008]所述连接杆沿长度方向设置有若干个第二通孔，所述安装板的表面具有一第二转轴柱，该第二转轴柱与相应的第二通孔套装连接，一电动伸缩杆的一端与连接杆连接，另一端固定安装在腔体内壁上。
[0009]上述技术方案中进一步改进的方案如下：
[0010]1. 上述方案中，所述电动伸缩杆处于伸长状态时，所述置物板处于水平横置状态。
[0011] 2. 上述方案中，所述电动伸缩杆处于收缩状态时，所述置物板处于竖立收折状态。
[0012] 3. 上述方案中，所述支撑架为三角形支撑架。
[0013] 4. 上述方案中，所述箱体的底部且在拐角处设置有支撑座。
[0014]由于上述技术方案的运用，本技术与现有技术相比具有下列优点：
[0015]本技术用于DFN器件的老化测试箱，其置物板与安装板的侧壁固定连接，安装板通过第一通孔套装在第一转轴柱上，使得安装板的另一端可绕第一转轴柱转动，连接杆沿长度方向设置有若干个第二通孔，安装板的表面具有一第二转轴柱，该第二转轴柱与相应的第二通孔套装连接，一电动伸缩杆的一端与连接杆连接，另一端固定安装在腔体内壁上，通过电动伸缩杆带动连接杆移动，从而带动安装板旋转，可以实现置物板的收折，便于对腔体内部器件进行维护、检修，当需要测试多组芯片时，还可以打开置物板，使得置物板水平横置在支撑架上，将腔体分割成多层，便于待测器件的安装，对多组芯片进行测试，提高了测试效率，也提高了空间利用率。
附图说明
[0016]附图1为本技术用于DFN器件的老化测试箱整体结构示意图；
[0017]附图2为本技术老化测试箱的打开状态局部结构示意图；
[0018]附图3为本技术附图2的A处放大图；
[0019]附图4为本技术老化测试箱的收折状态局部结构示意图。
[0020]以上附图中：1、箱体；21、第一腔体；22、第二腔体；3、保温门板；4、安装架；401、安装板；402、置物板；403、连接杆；5、支撑架；6、第一转轴柱；7、第一通孔；8、第二通孔；9、第二转轴柱；10、电动伸缩杆；11、支撑座。
实施方式
[0021]通过下面给出的具体实施例可以进一步清楚地了解本专利，但它们不是对本专利的限定：
[0022]实施例1：一种用于DFN器件的老化测试箱，包括：箱体1，位于箱体1内部开设有第一腔体21、第二腔体22，此第一腔体21、第二腔体22上、下分布且其开口侧各设置有一保温门板3，所述保温门板3的一端与箱体1转动连接；
[0023]在所述第一腔体21、第二腔体22内部均设置有安装架4、支撑架5，位于右侧的支撑架5沿竖直方向间隔安装在第一腔体21、第二腔体22内壁上；
[0024]位于左侧的安装架4进一步包括：安装板401、置物板402、连接杆403，位于该侧第一腔体21、第二腔体22的内壁上且沿竖直方向间隔设置有3个第一转轴柱6，所述安装板401的一端开设有一第一通孔7，此安装板401通过第一通孔7套装在第一转轴柱6上，使得安装板401的另一端可绕第一转轴柱6转动，所述置物板402与安装板401的侧壁固定连接；
[0025]所述连接杆403沿长度方向设置有3个第二通孔8，所述安装板401的表面具有一第二转轴柱9，该第二转轴柱9与相应的第二通孔8套装连接，一电动伸缩杆10的一端与连接杆403连接，另一端固定安装在第一腔体21、第二腔体22内壁上。
[0026]上述电动伸缩杆10处于伸长状态时，上述置物板402处于水平横置状态。
[0027]上述电动伸缩杆10处于收缩状态时，上述置物板402处于竖立收折状态。
[0028]通过控制电动伸缩杆10伸长，带动连接杆403向上移动，而连接杆403与上、下分布的若干个安装板401上的第二转轴柱9套装连接，且安装板401转动套装在第一转轴柱6上，
使得安装板401绕第一转轴柱6顺时针旋转，直至置物板402水平横置在支撑架5的顶部，将腔体分割成多层，便于人员安装待测器件，对多组芯片进行测试，提高了测试效率，也提高了空间利用率，从而便于人员安装待测器件；
[0029]通过控制电动伸缩杆10收缩，带动连接杆403向下移动，使得安装板401绕第一转轴柱6逆时针旋转，直至置物板402竖直收折，从而便于人员对第一腔体21、第二腔体22内部器件进行维护、检修，大大提高了人员操作的便捷性。
[0030]实施例2：一种用于DFN器件的老化测试箱，包括：箱体1，位于箱体1内部开设有第一腔体21、第二腔体22，此第一腔体21、第二腔体22上、下分布且其开口侧各设置有一保温门板3，所述保温门板3的一端与箱体1转动连接；
[0031]在所述第一腔体21、第二腔体22内部均设置有安装架4、支撑架5，位于右侧的支撑架5沿竖直方向间隔安装在第一腔体21、第二腔体22内壁上；
[0032]位于左侧的安装架4进一步包括：安装板401、置物板402、连接杆403，位于该侧第一腔体21、第二腔体22的内壁上且沿竖直方向间隔设置有若干个第一转轴柱6，该置物板402用于放置待测器件；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于DFN器件的老化测试箱，包括：箱体（1），其特征在于：位于箱体（1）内部开设有第一腔体（21）、第二腔体（22），此第一腔体（21）、第二腔体（22）上、下分布且其开口侧各设置有一保温门板（3），所述保温门板（3）的一端与箱体（1）转动连接；在所述第一腔体（21）、第二腔体（22）内部均设置有安装架（4）、支撑架（5），位于右侧的支撑架（5）沿竖直方向间隔安装在腔体（21，22）内壁上；位于左侧的安装架（4）进一步包括：安装板（401）、置物板（402）、连接杆（403），位于该侧腔体（21，22）的内壁上且沿竖直方向间隔设置有若干个第一转轴柱（6），所述安装板（401）的一端开设有一第一通孔（7），此安装板（401）通过第一通孔（7）套装在第一转轴柱（6）上，使得安装板（401）的另一端可绕第一转轴柱（6）转动，所述置物板（402）与安装板（401）...

【专利技术属性】
技术研发人员：马磊，狄锋斌，党鹏，杨光，彭小虎，王新刚，庞朋涛，任斌，
申请(专利权)人：西安航思半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：