【技术实现步骤摘要】
一种测温芯片、芯片结构及制造方法
[0001]本专利技术涉及芯片测试
,特别涉及一种测温芯片、芯片结构及制造方法。
技术介绍
[0002]目前,对于芯片测温一般是在芯片旁放置热敏电阻,或者直接在芯片表面贴合热电偶电极,然后用导电胶固定通过热电偶电极温度变化表征芯片温度。
[0003]相关技术中,常规热敏电阻精度虽然高,但是它放置在离芯片较远的位置,因此表征的温度是距离芯片较远的位置的温度,和芯片本身的真实温度差别较大;热电偶精度高,响应快,但其的最大缺陷在于:非常依赖人员将热电偶电极贴合到芯片表面的技术水平;电极金属和芯片表面贴合度高,则测温准,响应快,若热电偶电极和芯片贴合角度大,表面空隙较大,则测温响应慢,误差大,效果较差。
[0004]因此,有必要设计一种新的测温芯片、芯片结构及制造方法,以克服上述问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术实施例提供一种测温芯片、芯片结构及制造方法,以解决相关技术中使用热敏电阻测温差别较大,且热电偶较依赖人员贴合的技术水平的问题。
[00 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测温芯片,其特征在于,其包括:传热基板(1),所述传热基板(1)的一侧设置有与所述传热基板(1)接触的热敏元件(2),所述热敏元件(2)用于将温度信号转换为电信号;金属电极(3),所述金属电极(3)固设于所述传热基板(1),且所述金属电极(3)与所述热敏元件(2)电性连接。2.如权利要求1所述的测温芯片,其特征在于:所述传热基板(1)的材料为金刚石。3.如权利要求1所述的测温芯片,其特征在于:所述热敏元件(2)为热敏电阻或者热敏PN结。4.如权利要求1所述的测温芯片,其特征在于:所述热敏元件(2)远离所述传热基板(1)的一侧设置有钝化层(5);且所述金属电极(3)远离所述热敏元件(2)的一侧设置有钝化层(5)。5.一种芯片结构,其特征在于,其包括:被测芯片,所述被测芯片的一侧贴合有测温芯片,所述测温芯片包括:传热基板(1),所述传热基板(1)的一侧设置有与所述传热基板(1)接触的热敏元件(2),所述热敏元件(2)用于将温度信号转换为电信号;金属电极(3),所述金属电极(3)固设于所述传热基板(1),且所述金属电极(3)与所述热敏元件(2)电性连接。6.如权利要求5所述的芯片结构,其特征在于:所述传热基板(1)通过加压焊接或加压烧结的方式贴合至所述被测芯片。7.一种测温芯片的制造方法,其特征在于,其包括以下步骤:在传热基板(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:王民,余辰将,黄利志,舒军,焦双凤,聂朝轩,牛春草,刘洛宁,张鲲,余明,吴应秋,高峰,
申请(专利权)人:智新半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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