一种工件形位公差测量工装制造技术

本实用新型专利技术属于工件测量技术领域，具体的说是一种工件形位公差测量工装，包括垫板和测量装置，垫板的上表面固定连接有多个支撑块，垫板的上表面固定连接有两个侧板；支撑块的表面设有测量装置，测量装置包括放置块，放置块的底端和支撑块上表面固定连接，放置块的内壁滑动连接有滑柱，垫板的表面设有两个清理装置，清理装置包括中空板，中空板位于垫板的侧壁，中空板的侧壁固定连接有连接块，连接块远离中空板的一端固定连接有清理刷；通过设置放置块、滑柱和塞尺能够对工件进行检测，再通过弹簧和卡块能够限制塞尺的位置，从而方便进行检测减少拿取塞尺寻找塞尺的时间，也能够减少塞尺丢失的概率。塞尺丢失的概率。塞尺丢失的概率。

【技术实现步骤摘要】
一种工件形位公差测量工装


[0001]本技术涉及工件测量
，具体是一种工件形位公差测量工装。

技术介绍

[0002]在工件进行批量生产时，通常会需要对工件的公差进行测量，从而调整加工方式增加加工精度。
[0003]工件测量指的是以机床硬件为载体，附以相应的测量工具，对工件进行数据性能测量，适用于最严苛的条件和最短测量时间的大、中型加工中心，测量是按照某种规律，用数据来描述观察到的现象，即对事物作出量化描述。测量是对非量化实物的量化过程。
[0004]在需要对工件进行测量时，需要将工件放在测量工装内，部分工件测量过程中会使用到塞尺，通过塞尺来测量间隙，大部分测量工装上少有自身设置塞尺，在使用时需要单独拿取塞尺再进行测量，在操作过程中会需要浪费拿取时间同时也会出现塞尺丢失的问题；因此，针对上述问题提出一种工件形位公差测量工装。

技术实现思路

[0005]为了弥补现有技术的不足，解决了在需要对工件进行测量时，需要将工件放在测量工装内，部分工件测量过程中会使用到塞尺，通过塞尺来测量间隙，大部分测量工装上少有自身设置塞尺，在使用时需要单独拿取塞尺再进行测量，在操作过程中会需要浪费拿取时间同时也会出现塞尺丢失的问题，本技术提出一种工件形位公差测量工装。
[0006]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：本技术所述的一种工件形位公差测量工装，包括垫板和测量装置，所述垫板的上表面固定连接有多个支撑块，所述垫板的上表面固定连接有两个侧板；所述支撑块的表面设有测量装置，所述测量装置包括放置块，所述放置块的底端和支撑块上表面固定连接，所述放置块的内壁滑动连接有滑柱，所述滑柱的表面转动连接有塞尺，所述放置块的内壁固定连接有两个限位块，所述限位块的外表面和滑柱内壁滑动连接，在塞尺移动到合适位置后转动塞尺让塞尺转动到侧板表面，放置块、滑柱和塞尺能够方便对工件公差进行检测。
[0007]优选的，所述放置块的侧壁固定连接有收纳块，所述收纳块的内壁滑动连接有卡块，所述卡块位于塞尺的表面，在选择好尺寸的塞尺后，推动卡块让卡块在收纳块内壁滑动，卡块滑动塞尺表面，卡块能够在一定程度上限制塞尺位置。
[0008]优选的，所述收纳块的上表面固定连接有顶块，所述顶块和卡块的表面固定连接有弹簧，松开卡块弹簧会进行回弹，弹簧带动卡块滑动，卡块滑动到塞尺表面，弹簧能够驱动卡块移动，同时限制卡块位置。
[0009]优选的，所述卡块的侧壁固定连接有拉块，所述收纳块的表面开设有滑孔，所述收纳块的滑孔内壁和卡块外表面滑动连接，在移动卡块时，拽动拉块让拉块带动卡块滑动，拉块能够方便卡块滑动。
[0010]优选的，所述垫板的表面设有两个清理装置，所述清理装置包括中空板，所述中空
板位于垫板的侧壁，所述中空板的侧壁固定连接有连接块，所述连接块远离中空板的一端固定连接有清理刷，所述清理刷位于侧板的侧壁，在对侧板进行清理时，拽动连接块让连接块带动中空板和清理刷滑动，清理刷在侧板表面滑动，清理刷能够对侧板表面进行清理。
[0011]优选的，所述垫板侧壁靠近中空板的位置固定连接有固定块，所述中空板的表面开设有滑槽，所述固定块外表面和中空板的滑槽内壁滑动连接，在中空板滑动时会通过滑槽在固定块表面滑动，固定块能够在一定程度上限制中空板位置。
[0012]本技术的有益之处在于：
[0013]1.本技术在需要对工件进行检测时，把工件放进垫板内，用合适的轴穿过支撑块和工件的孔，推动工件靠紧侧板，然后推动滑柱让滑柱在放置块内壁滑动，滑柱滑动时会在限位块表面滑动，滑柱滑动到合适位置后，拽动拉块让拉块带动卡块滑动，卡块在收纳块内壁滑动，卡块带动顶块表面的弹簧收缩，卡块滑动到合适位置后，选择合适的塞尺，然后松开拉块弹簧进行回弹，弹簧带动卡块滑动，卡块滑动到塞尺表面，通过设置放置块、滑柱和塞尺能够对工件进行检测，再通过弹簧和卡块能够限制塞尺的位置，从而方便进行检测减少拿取塞尺寻找塞尺的时间，也能够减少塞尺丢失的概率。
[0014]2.本技术在需要对侧板进行清理时，拽动连接块让连接块带动中空板和清理刷滑动，清理刷在侧板表面滑动，中空板通过滑槽在固定块表面滑动，在使用侧板时让清理刷远离侧板，然后放置工件，通过设置清理刷能够对侧板表面的脏东西进行清理，同时在测量时不妨碍工件检测。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0016]图1为实施例一中垫板的立体结构示意图；
[0017]图2为实施例一中图1的A处结构示意图；
[0018]图3为实施例一中垫板的侧视结构示意图；
[0019]图4为实施例一中图3的B处结构示意图。
[0020]图中：1、垫板；2、支撑块；3、侧板；4、测量装置；41、放置块；42、滑柱；43、塞尺；44、限位块；45、收纳块；46、卡块；47、顶块；48、弹簧；49、拉块；5、清理装置；51、中空板；52、连接块；53、清理刷；54、固定块；55、滑槽。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]实施例一
[0023]请参阅图1
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4所示，一种工件形位公差测量工装，包括垫板1和测量装置4，所述垫
板1的上表面固定连接有多个支撑块2，所述垫板1的上表面固定连接有两个侧板3；所述支撑块2的表面设有测量装置4，所述测量装置4包括放置块41，所述放置块41的底端和支撑块2上表面固定连接，所述放置块41的内壁滑动连接有滑柱42，所述滑柱42的表面转动连接有塞尺43，所述放置块41的内壁固定连接有两个限位块44，所述限位块44的外表面和滑柱42内壁滑动连接；工作时，在使用塞尺43时，推动滑柱42让滑柱42在放置块41内壁滑动，滑柱42也会在限位块44外表面滑动，滑柱42滑动时带动塞尺43移动，在塞尺43移动到合适位置后转动塞尺43让塞尺43转动到侧板3表面，放置块41、滑柱42和塞尺43能够方便对工件公差进行检测。
[0024]所述放置块41的侧壁固定连接有收纳块45，所述收纳块45的内壁滑动连接有卡块46，所述卡块46位于塞尺43的表面；工作时，在选择好尺寸的塞尺43后，推动卡块46让卡块46在收纳块45内壁滑动，卡块46滑动塞尺43表面，卡块46能够在一定程度上限制塞尺43位置。
[0025]所述收纳块45的上表面固定连接有顶块47，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工件形位公差测量工装，包括垫板(1)和测量装置(4)，所述垫板(1)的上表面固定连接有多个支撑块(2)，所述垫板(1)的上表面固定连接有两个侧板(3)；其特征在于：所述支撑块(2)的表面设有测量装置(4)，所述测量装置(4)包括放置块(41)，所述放置块(41)的底端和支撑块(2)上表面固定连接，所述放置块(41)的内壁滑动连接有滑柱(42)，所述滑柱(42)的表面转动连接有塞尺(43)，所述放置块(41)的内壁固定连接有两个限位块(44)，所述限位块(44)的外表面和滑柱(42)内壁滑动连接。2.根据权利要求1所述的一种工件形位公差测量工装，其特征在于：所述放置块(41)的侧壁固定连接有收纳块(45)，所述收纳块(45)的内壁滑动连接有卡块(46)，所述卡块(46)位于塞尺(43)的表面。3.根据权利要求2所述的一种工件形位公差测量工装，其特征在于：所述收纳块(45)的上表面固定连接有顶块(47)，所述顶块(47)和卡...

【专利技术属性】
技术研发人员：王庆东，王连营，杨士亮，郑泉，
申请(专利权)人：山东宝鑫科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：