一种芯片测试的方法及其电子设备技术

本发明专利技术提供一种芯片测试的方法及其电子设备，该方法包括：响应于测试请求指令，查找待测试芯片的待测试接口的目标工具，所述测试请求指令携带所述待测试芯片的待测试接口信息；基于所述目标工具对所述待测试接口进行测试；响应于测试结果显示请求，显示测试结果；根据所述测试结果确认测试成功。通过针对芯片待测试接口的目标工具进行接口测试，并将测试结果及时显示，降低了芯片排错的时间和人力成本，促进了芯片应用和推广。促进了芯片应用和推广。促进了芯片应用和推广。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试的方法及其电子设备


[0001]本专利技术涉及智能驾驶领域，尤其涉及一种芯片测试的方法及其电子设备。

技术介绍

[0002]随着智能驾驶行业的发展，人们对智能驾驶技术的要求越来越高。智能驾驶功能的汽车是数十个高度复杂系统的集大成者，它将最先进的技术融入电子硬件、传感器、软件等，以满足人们的智能驾驶需求。
[0003]当前，为了满足各种智能驾驶需求，除了软件上的支持，还需要硬件的配合，诸如一些智能驾驶芯片。而对于目前的智能驾驶芯片大多是芯片厂商在研究，芯片从芯片制造厂商到智能汽车制造厂商将芯片结合其他芯片、软件和各种接口连接以实现智能驾驶功能这个过程中，都是靠技术人员手动实现芯片的上市测试，效率低又增加了人力成本。因此，为了加快智能驾驶领域芯片的应用落地，有待提出一套可行的芯片自动测试方案。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种新的芯片测试方法及其电子设备。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术采用以下技术方案：
[0006]第一方面，根据本专利技术实施例的一种芯片测试方法，包括：
[0007]响应于测试请求指令，查找待测试芯片的待测试接口的目标工具，所述待测试芯片为车规级芯片，所述测试请求指令携带所述待测试芯片的待测试接口信息；
[0008]基于所述目标工具对所述待测试接口进行测试；
[0009]响应于测试结果显示请求，显示测试结果；
[0010]根据所述测试结果确认测试成功。
[0011]进一步的，所述方法还包括：
[0012]获取所述待测试芯片的接口信息；
[0013]根据所述接口信息确定与所述接口信息对应的接口功能信息；
[0014]基于所述接口功能信息生成所述接口的目标工具集。
[0015]进一步的，所述响应于测试请求指令，查找所述待测试芯片的待测试接口的目标工具包括：
[0016]根据所述测试请求指令获取测试请求信息，所述测试请求信息携带所述待测试接口信息和所述待测试接口的待测试接口功能信息；
[0017]根据所述待测试接口信息查找所述待测试接口的目标工具集；
[0018]根据所述待测试接口的待测试接口功能信息查找所述待测试接口的目标工具集中的目标工具子集；
[0019]将所述目标工具子集中的目标工具作为所述待测试芯片的待测试接口的目标工具。
[0020]进一步的，所述基于所述目标工具对所述待测试接口进行测试包括：
[0021]获取所述待测试接口的测试样本数据；
[0022]将所述测试样本数据作为参数输入到所述目标工具子集中运行得到运行结果；
[0023]将所述运行结果作为测试结果。
[0024]进一步的，所述响应于测试请求指令，查找所述待测试芯片的待测试接口的目标工具包括：
[0025]当所述待测试接口为通用异步收发传输UART接口时，获取所述测试请求指令，所述测试请求指令携带的所述待测试接口信息包括串口号信息、波特率信息、校验位信息、数据位信息、停止位信息、控制流信息；
[0026]基于所述待测试接口信息确定与所述待测试接口信息对应的待测试接口功能信息，所述待测试接口功能信息包括以所述待测试接口信息的参数要求进行数据的发送和接收；
[0027]根据所述待测试接口功能信息查找到与所述待测试接口功能信息相应的所述目标工具子集，所述目标工具子集包括串口中断接收函数和串口发送函数。
[0028]进一步的，所述方法还包括：
[0029]通过预设路径获取所述UART接口的端口信息；
[0030]根据所述端口信息判断是否需要下载和安装所述端口相应的驱动程序；
[0031]若是，则下载和安装所述驱动程序。
[0032]进一步的，所述响应于测试请求指令，查找所述待测试芯片的待测试接口的目标工具包括：
[0033]当所述待测试接口为CAN/CANFD/LIN接口时，获取所述测试请求指令，所述测试请求指令携带的所述待测试接口信息包括第一待测试引脚信息和第二待测试引脚信息；
[0034]基于所述待测试接口信息确定与所述待测试接口信息对应的待测试接口功能信息，所述待测试接口功能信息包括以所述第一待测试引脚信息和第二待测试引脚信息建立的通路进行数据的发送和接收；
[0035]根据所述待测试接口功能信息查找到与所述待测试接口功能信息相应的所述目标工具子集，所述目标工具子集包括CAN/CANFD/LIN接收函数和CAN/CANFD/LIN发送函数。
[0036]进一步的，所述方法还包括：
[0037]当所述待测试接口为以太网接口时，登录目标芯片；
[0038]根据所述待测试芯片的IP地址信息获取所述待测试芯片与所述目标芯片的通信信息；
[0039]根据所述通信信息确认测试成功。
[0040]进一步的，所述登录目标芯片包括：
[0041]设置所述目标芯片的地址为目标网段地址；
[0042]将所述待测试芯片的网段设置为所述目标网段；
[0043]通过远程连接工具SSH登录所述目标芯片。
[0044]第二方面，根据本专利技术实施例的一种电子设备，包括：处理器；和存储器，在所述存储器中存储有计算机程序指令，其中，在所述计算机程序指令被所述处理器运行时，使得所述处理器执行如前所述的方法。
[0045]本申请提出的芯片测试方法，通过针对车规级芯片待测试接口的目标工具进行接
口测试，并将测试结果及时显示，降低了芯片排错的时间和人力成本，促进了芯片应用和推广。
附图说明
[0046]图1为本专利技术一个实施例提供的芯片测试方法的实施环境示意图；
[0047]图2为本专利技术实施例提供的芯片测试方法的一种流程示意图；
[0048]图3为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的目标工具生成方法的流程示意图；
[0049]图4为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的查找目标工具的方法的流程示意图；
[0050]图5为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的芯片和目标工具关系的示意图；
[0051]图6为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的基于目标工具进行测试的方法的流程示意图；
[0052]图7为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的另一种查找目标工具的方法的流程示意图；
[0053]图8为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的安装驱动程序的方法的流程示意图；
[0054]图9为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的另一种查找目标工具的方法的流程示意图；
[0055]图10为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的以太网接口的测试方法的流程示意图；
[0056]图11为本专利技术实施例提供的芯片测试方法中的目标芯片登录方法的流程示意图；
[0057]图12为本专利技术实施例提供的芯片测试装置的结构示意图；
[0058]图13为本专利技术实施例提供的电子设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试的方法，其特征在于，所述方法包括：响应于测试请求指令，查找待测试芯片的待测试接口的目标工具，所述待测试芯片为车规级芯片，所述测试请求指令携带所述待测试芯片的待测试接口信息；基于所述目标工具对所述待测试接口进行测试，得到测试结果；响应于测试结果显示请求，显示所述测试结果；根据所述测试结果确认测试成功。2.如权利要求1所述的芯片测试的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述待测试芯片的接口信息；根据所述接口信息确定与所述接口信息对应的接口功能信息；基于所述接口功能信息生成所述接口的目标工具集。3.如权利要求2所述的芯片测试的方法，其特征在于，所述响应于测试请求指令，查找所述待测试芯片的待测试接口的目标工具包括：根据所述测试请求指令获取测试请求信息，所述测试请求信息携带所述待测试接口信息和所述待测试接口的待测试接口功能信息；根据所述待测试接口信息查找所述待测试接口的目标工具集；根据所述待测试接口的待测试接口功能信息查找所述待测试接口的目标工具集中的目标工具子集；将所述目标工具子集中的目标工具作为所述待测试芯片的待测试接口的目标工具。4.如权利要求3所述的芯片测试的方法，其特征在于，所述基于所述目标工具对所述待测试接口进行测试包括：获取所述待测试接口的测试样本数据；将所述测试样本数据作为参数输入到所述目标工具子集中运行得到运行结果；将所述运行结果作为测试结果。5.如权利要求2或3所述的芯片测试的方法，其特征在于，所述响应于测试请求指令，查找所述待测试芯片的待测试接口的目标工具包括：当所述待测试接口为通用异步收发传输UART接口时，获取所述测试请求指令，所述测试请求指令携带的所述待测试接口信息包括串口号信息、波特率信息、校验位信息、数据位信息、停止位信息、控制流信息；基于所述待测试接口信息确定与所述待测试接口信息对应的待测试接口功能信息，所述待测试接口功能信息包括以所述待测试接口信息的参数要求进行数据的发送和接收；根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：何雨阳，郭长江，周强，汪晓晖，顾问，郭宁宁，孙见，曹葵康，刘军传，徐一华，
申请(专利权)人：苏州天准科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：