芯片的系统测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本申请实施例涉及生产测试技术领域，公开了一种芯片的系统测试方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：为待测试芯片配置测试信息，测试信息至少包括寄存器配置文件和需要进行的测试项；加载并解析寄存器配置文件，生成测试配置列表，并根据测试配置列表和测试项生成测试案例；确定测试案例对应的各第一寄存器，通过各第一寄存器对应的预创建的规范API接口、以及测试配置列表中测试案例下各第一寄存器的配置参数，操作各第一寄存器，以执行测试案例；调用预设的测量仪器对待测试芯片进行测量，根据测量结果生成待测试芯片的测试结果文件，从而高度可视化地将系统测试前移，节约人力成本，大幅提升了芯片的开发进度和测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
芯片的系统测试方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本申请实施例涉及生产测试
，特别涉及一种芯片的系统测试方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]芯片在设计、制造、封装完成后，会进行后期的产品方案开发，如图1所示，芯片封装完成后首先需要进行驱动调试，保证芯片的各模块可以正常工作(图1中的第一阶段)。驱动调试完成后，基带、射频部门会对芯片的各模块进行功能调试，包括模拟调试、数字/射频调试等(图1中的第二阶段)。在基带、射频部门完成对芯片的调试后，便可以由系统部门对芯片进行完整的系统测试(图1中的第三阶段)，上述流程会持续、反复进行，直至达到产品质量要求。而为了提前发现问题、加速项目进展，可以通过直接操作相关寄存器的方式将系统测试前移，在图1中的第二阶段就进行系统测试。常用的系统测试前移方法包括“使用简单工具进行半自动化测试”和“使用专用脚本进行自动化测试”。
[0003]然而，使用简单工具进行半自动化测试时，需要操作的寄存器数量很多，需要进行测试的数据也很多，这耗费了测试人员大量的时间和精力。使用专用脚本进行自本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的系统测试方法，其特征在于，包括：为待测试芯片配置测试信息，所述测试信息至少包括寄存器配置文件和需要进行的测试项；其中，所述测试信息的配置过程可视；加载并解析所述寄存器配置文件，生成测试配置列表，并根据所述测试配置列表和所述测试项生成测试案例；其中，所述测试配置列表中的元素为寄存器的配置列表，所述寄存器的配置列表中包括所述寄存器的配置参数；确定所述测试案例对应的各第一寄存器，通过所述各第一寄存器对应的预创建的规范API接口、以及所述测试配置列表中所述测试案例下所述各第一寄存器的配置参数，操作所述各第一寄存器，以执行所述测试案例；调用预设的测量仪器对所述待测试芯片进行测量，根据测量结果生成所述待测试芯片的测试结果文件。2.根据权利要求1所述的芯片的系统测试方法，其特征在于，所述寄存器配置文件通过以下步骤进行配置：获取各寄存器的信息文件，加载并解析所述各寄存器的信息文件；通过可视的配置界面显示所述各寄存器的信息，所述配置界面支持选择和编辑；获取对所述配置界面的选择和编辑信息，根据所述选择和编辑信息生成所述寄存器配置文件；其中，所述寄存器配置文件中包括以字典形式存储的所述各寄存器的地址信息、数据信息、读写信息、寻址范围信息和预创建的规范API接口的信息。3.根据权利要求2所述的芯片的系统测试方法，其特征在于，所述预创建的规范API接口定义有操作码、地址、寻址范围、值、返回值；所述操作码为READ或WRITE，所述READ表示读操作，所述WRITE表示写操作；所述地址为所述规范API接口对应的寄存器的地址；所述寻址范围为所述规范API接口对应的寄存器的可配置的范围；所述值为所述规范API接口对应的寄存器的当前值；所述返回值包括函数执行结果、上报的数据的数量和上报的数据。4.根据权利要求1至3中任一项所述的芯片的系统测试方法，其特征在于，所述测试案例为若干个，所述执行所述测试案例，包括：按照若干个所述测试案例的顺序，遍历执行若干个所述测试案例；所述调用预设的测量仪器对所述待测试芯片进行测量，根据测量结果生成所述待测试芯片的测试结果文件，包括：若当前测试案例执行失败，则跳过所述当前测试案例，直接执行所述当前测试案例的下一个测试案例；若当前测试案例执行成功，则调用预设的测量仪器对所述待测试芯片进行测量；在若干个所述测试案例遍历完成后，根据执行成功的所述测试案例的测量结果生成所述待测试芯片的测试结果文件。5.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾占杰，郑明成，陈昊，黄雪兵，
申请(专利权)人：芯翼信息科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：