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本申请实施例涉及生产测试技术领域，公开了一种芯片的系统测试方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：为待测试芯片配置测试信息，测试信息至少包括寄存器配置文件和需要进行的测试项；加载并解析寄存器配置文件，生成测试配置列表，并根据测试配置列表...
该专利属于芯翼信息科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯翼信息科技（上海）有限公司授权不得商用。

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