一种组装电路板的故障预测与健康管理方法及设备技术

本申请涉及一种组装电路板的故障预测与健康管理方法及设备，方法包括：以预设周期为间隔对组装电路板上的待测试节点进行测试，获取每次测试时的测试值，生成测试值数组；根据预先设定的标准值，确定各次测试值的绝对偏差和相对偏差，并生成绝对偏差数组和相对偏差数组；根据预先设定的允许相对偏差和各相对偏差，确定各相对偏差对应的误差值，并生成误差数组；根据误差数组中相邻两个误差值的差值构建误差趋势数组。然后遍历组装电路板上的全部待测试节点，生成组装电路板的测试值矩阵、绝对偏差矩阵、相对偏差矩阵、误差矩阵和误差趋势矩阵，对组装电路板进行健康状态输出与故障预测输出。预测输出。预测输出。

【技术实现步骤摘要】
一种组装电路板的故障预测与健康管理方法及设备


[0001]本申请涉及电路板分析
，尤其涉及一种组装电路板的故障预测与健康管理方法及设备。

技术介绍

[0002]组装电路板在使用过程中，由于各种原因，会发生故障。一旦故障发生，该电路板就无法正常工作，进而，导致整个相关设备故障，无法正常工作。
[0003]目前对组装电路板的测试只局限于两种测试：一种是对生产出来的“新板”做测试，以确定其是否是“坏板”。另一种是对经过其他测试方法验证为“坏板”或经过使用后发生故障的“坏板”做故障诊断测试。现有技术中对于还在服役中正常使用的组装电路板“好板”，无法进行测试。

技术实现思路

[0004]为至少在一定程度上克服相关技术中对组装电路板的测试只局限于“新板”和“坏板”的测试，对于正常使用的电路板，无法进行测试的问题，本申请提供一种组装电路板的故障预测与健康管理方法及设备。
[0005]本申请的方案如下：
[0006]根据本申请实施例的第一方面，提供一种组装电路板的故障预测与健康管理方法，包括：
[0007]以预设周期为间隔对组装电路板上的待测试节点进行测试，获取每次测试时的测试值，生成测试值数组；
[0008]根据预先设定的标准值，确定各次测试值的绝对偏差和相对偏差，并生成绝对偏差数组和相对偏差数组；
[0009]根据预先设定的允许相对偏差和各相对偏差，确定各相对偏差对应的误差值，并生成误差数组；
[0010]根据所述误差数组中相邻两个误差值的差值构建误差趋势数组；
[0011]遍历组装电路板上的全部待测试节点，根据全部待测试节点的测试值数组、绝对偏差数组、相对偏差数组、误差数组和误差趋势数组，生成组装电路板的测试值矩阵、绝对偏差矩阵、相对偏差矩阵、误差矩阵和误差趋势矩阵；
[0012]根据组装电路板的测试值矩阵、绝对偏差矩阵、相对偏差矩阵、误差矩阵和误差趋势矩阵，对组装电路板进行健康状态输出与故障预测输出。
[0013]优选地，测试值的绝对偏差为所述测试值与所述标准值之差；
[0014]测试值的相对偏差为测试值的绝对偏差与所述标准值的比值；
[0015]相对偏差对应的误差值为相对偏差的绝对值与允许相对偏差之差。
[0016]优选地，若误差值大于0,则判断待测试节点在允许误差之外；
[0017]若误差值小于0,则判断待测试节点在允许误差之内。
[0018]优选地，对组装电路板进行健康状态输出，包括：
[0019]若误差矩阵中的元素大于0，输出组装电路板存在健康隐患；
[0020]若误差矩阵中的元素小于0，输出组装电路板不存在健康隐患。
[0021]优选地，对组装电路板进行故障预测输出，包括：
[0022]根据误差趋势矩阵生成组装电路板的老化趋势图，根据所述老化趋势图对组装电路板进行故障预测。
[0023]优选地，待测试节点的测试值数组、绝对偏差数组、相对偏差数组、误差数组和误差趋势数组中的各数值按照测试时间进行排序。
[0024]优选地，所述标准值是对标准组装电路板上的待测试节点进行测试后得到的。
[0025]优选地，所述允许相对偏差大于0。
[0026]优选地，所述预设周期为一年。
[0027]根据本申请实施例的第二方面，提供一种组装电路板的故障预测与健康管理设备，包括：
[0028]处理器和存储器；
[0029]所述处理器与存储器通过通信总线相连接：
[0030]其中，所述处理器，用于调用并执行所述存储器中存储的程序；
[0031]所述存储器，用于存储程序，所述程序至少用于执行如以上任一项所述的一种对组装电路板的故障预测与健康管理方法。
[0032]本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：本申请中的组装电路板的故障预测与健康管理方法，包括：以预设周期为间隔对组装电路板上的待测试节点进行测试，获取每次测试时的测试值，生成测试值数组；根据预先设定的标准值，确定各次测试值的绝对偏差和相对偏差，并生成绝对偏差数组和相对偏差数组；根据预先设定的允许相对偏差和各相对偏差，确定各相对偏差对应的误差值，并生成误差数组；根据误差数组中相邻两个误差值的差值构建误差趋势数组。然后遍历组装电路板上的全部待测试节点，根据全部待测试节点的测试值数组、绝对偏差数组、相对偏差数组、误差数组和误差趋势数组，生成组装电路板的测试值矩阵、绝对偏差矩阵、相对偏差矩阵、误差矩阵和误差趋势矩阵。最后根据组装电路板的测试值矩阵、绝对偏差矩阵、相对偏差矩阵、误差矩阵和误差趋势矩阵，对组装电路板进行健康状态输出与故障预测输出。本申请的技术方案中，在组装电路板还正常工作的情况下，通过以预设周期为间隔的检测，得出该组装电路板可能存在的隐患和问题，以便用户及时更换隐患器件、修补潜在问题，避免事故发生。
[0033]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
附图说明
[0034]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
[0035]图1是本申请一个实施例提供的一种组装电路板的故障预测与健康管理方法的流程示意图；
[0036]图2是本申请一个实施例提供的一种组装电路板的故障预测与健康管理设备的示
意框图。
[0037]附图标记：处理器
‑
21；存储器
‑
22。
具体实施方式
[0038]这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0039]实施例一
[0040]图1是本申请一个实施例提供的一种组装电路板的故障预测与健康管理方法的流程示意图，参照图1，一种组装电路板的故障预测与健康管理方法，包括：
[0041]S11：以预设周期为间隔对组装电路板上的待测试节点进行测试，获取每次测试时的测试值，生成测试值数组；
[0042]S12：根据预先设定的标准值，确定各次测试值的绝对偏差和相对偏差，并生成绝对偏差数组和相对偏差数组；
[0043]S13：根据预先设定的允许相对偏差和各相对偏差，确定各相对偏差对应的误差值，并生成误差数组；
[0044]S14：根据误差数组中相邻两个误差值的差值构建误差趋势数组；
[0045]S15：遍历组装电路板上的全部待测试节点，根据全部待测试节点的测试值数组、绝对偏差数组、相对偏差数组、误差数组和误差趋势数组，生成组装电路板的测试值矩阵、绝对偏差矩阵、相对偏差矩阵、误差矩阵和误差趋势矩阵；
[0046]S16：根据组装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种组装电路板的故障预测与健康管理方法，其特征在于，包括：以预设周期为间隔对组装电路板上的待测试节点进行测试，获取每次测试时的测试值，生成测试值数组；根据预先设定的标准值，确定各次测试值的绝对偏差和相对偏差，并生成绝对偏差数组和相对偏差数组；根据预先设定的允许相对偏差和各相对偏差，确定各相对偏差对应的误差值，并生成误差数组；根据所述误差数组中相邻两个误差值的差值构建误差趋势数组；遍历组装电路板上的全部待测试节点，根据全部待测试节点的测试值数组、绝对偏差数组、相对偏差数组、误差数组和误差趋势数组，生成组装电路板的测试值矩阵、绝对偏差矩阵、相对偏差矩阵、误差矩阵和误差趋势矩阵；根据组装电路板的测试值矩阵、绝对偏差矩阵、相对偏差矩阵、误差矩阵和误差趋势矩阵，对组装电路板进行健康状态输出与故障预测输出。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试值的绝对偏差为所述测试值与所述标准值之差；测试值的相对偏差为测试值的绝对偏差与所述标准值的比值；相对偏差对应的误差值为相对偏差的绝对值与允许相对偏差之差。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若误差值大于0,则判断待测试节点在允许误差之外；若误差值小于0,则判断待测试节点在允许误差之内。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏铮，
申请(专利权)人：北京世迈腾科技有限公司，
类型：发明
国别省市：