一种光学中心偏置的校准治具及校准调整方法技术

技术编号:37143315 阅读:21 留言:0更新日期:2023-04-06 21:52
本发明专利技术公开了一种光学中心偏置的校准治具及校准调整方法;其中,该校准治具包括标记板压板,在标记板压板的一个表面同侧分别固定设置有标记板和立柱,或者在标记板压板的两个相背的异侧表面分别固定设置有标记板和立柱;立柱垂直于所述标记板压板;标记板的一表面中心位置设有标记线,该标记线与立柱同指向设置。该校准治具校准时,标记板即使高度变化,标记线始终在相机的视野范围内,能够简单快捷得到多个坐标变化;同时结合某个高度的偏置,便能拟合得到工作高度范围内的任一高度的光学中心相对劈刀的偏置。中心相对劈刀的偏置。中心相对劈刀的偏置。

【技术实现步骤摘要】
一种光学中心偏置的校准治具及校准调整方法


[0001]本专利技术涉及到半导体封装测试设备领域,尤其涉及一种光学中心相对劈刀中心偏置的校准治具及光学校准调整方法。

技术介绍

[0002]对于焊点在不同高度的产品,目前的光学中心相对劈刀中心偏置校准方法为:在某一高度使用劈刀在材料上打印记,然后将光学中心移动到与印记中心重合的位置进行校准,得到当前高度平面的X、Y方向偏置,其他高度默认偏置一样大。由于机械装配误差,光学中心和邦头旋转平面均与水平面不垂直,因此,现有方法会导致在其他高度的偏置与校准高度的偏置存在偏差。另一种方法为在不同高度用劈刀打印记,该方法需多次打印记和对中,使用起来耗时且不方便。

技术实现思路

[0003]鉴于上述问题,本专利技术所要解决的问题在于提供一种能够在不同高度实现便捷微调的光学中心相对劈刀中心偏置的校准治具及光学校准调整方法。
[0004]本专利技术的技术方案一如下:
[0005]一种光学中心相对劈刀中心偏置的校准治具,包括标记板压板,在所述标记板压板的一个表面同侧分别固定设置有标记板和立柱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学中心偏置的校准治具,其特征在于,所述校准治具包括标记板压板,在所述标记板压板的一个表面同侧分别固定设置有标记板和立柱;所述立柱垂直于所述标记板压板;所述标记板的一表面中心位置设有标记线,该标记线与所述立柱同指向设置;或者,校准治具包括标记板压板,在所述标记板压板的两个相背的异侧表面分别固定设置有标记板和立柱,且所述标记板压板的中心对称位置设置有中通孔;所述立柱垂直于所述标记板压板;所述标记板的一表面中心位置设有标记线,该标记线与所述立柱同指向设置。2.根据权利要求1所述的校准治具,其特征在于,所述校准治具包括标记板滑板及弹性压紧件;其中:所述标记板滑板为板块状且纵截面呈“凹”字构造,包括底板及两个侧板;在所述底板的上表面相对两个侧板方向开设有下凹的滑槽;所述弹性压紧件适配卡入所述标记板滑板的滑槽中并可相对所述标记板滑板移动;所述标记板固定设置在所述弹性压紧件上,且所述标记板的标记线背向所述滑槽设置;所述标记板压板的两端固定设置在所述标记板滑板的两个侧板之间,且所述标记板压板的下表面与所述标记板的标记线适配贴合接触,通过所述标记板压板的中通孔可以观察到所述标记线。3.根据权利要求2所述的校准治具,其特征在于,所述校准治具还包括一微调螺丝杆;相应地,在所述标记板滑板板块的一个所述侧板上设置一螺纹通孔;所述微调螺丝杆适配螺纹旋进所述螺纹通孔并与所述弹性压紧件紧贴接触,且所述微调螺丝杆可推动所述弹性压紧件相对所述标记板滑板移动。4.根据权利要求2所述的校准治具,其特征在于,所述标记板滑板的底板相对两个所述侧板方向开设通孔,所述通孔与滑槽呈阶梯状构造。5.根据权利要求2所述的校准治具,其特征在于,所述标记板滑板的两个侧板内壁开设有内凹槽,所述标记板压板的两端分别适配卡入两个所述内凹槽内并形成紧固连接。6.根据权利要求2所述的校准治具,其特征在于,所述弹性压紧件为一纵截面呈“W”字母状构造的压紧弹片,该压紧弹片中间构成一内...

【专利技术属性】
技术研发人员:经浩黄春茂李峥嵘罗波
申请(专利权)人:深圳市大族封测科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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