一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具制造技术

本发明专利技术公开了一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具，涉及集成电路夹具技术领域，现如今集成电路在进行测试中，对其进行装夹，经过装夹后的集成电路会在后续的测试中稳定性更加的优异，但是在装夹中集成电路的尺寸存在差异，夹持固定的点位无法对接到合适的位置，强行夹持将会导致集成电路的边角位置出现崩裂，本发明专利技术通过设置有滑动槽、铰接调节杆以及夹持头、传动杆和限位条，在对集成电路进行装夹时，通过夹持头角度的偏转使得夹持头不断靠近在集成电路的边缘，能适用于不同规格集成电路的夹持测试，且装夹的力度能够通过配重块进行精确的调节，保证了稳定的夹持也能避免夹持出现脱落，加大对集成电路的保护。加大对集成电路的保护。加大对集成电路的保护。

【技术实现步骤摘要】
一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具


[0001]本专利技术涉及集成电路夹具
，具体为一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，在集成电路的生产中，需要对集成电路进行测试，其中测试主要测试集成电路工作状态以及数值参数。
[0003]对此，中国申请专利号：CN204903576U，公开了一种集成电路测试夹具，包括矩形柱体，所述矩形柱体两侧设有夹片，两所述夹片的下部分别与矩形柱体铰接，两所述夹片的上部与矩形柱体间夹设弹簧，两所述夹片底部与所述矩形柱体的底部围成矩形槽，所述夹片和矩形柱体的顶部均连接转接板，所述转接板设有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口，所述转接口连接有桥接转板的输出接口，所述桥接转板设有用于连接集成电路引脚的输入接口，所述的输入接口和输出接口传输相同信号的引脚在所述桥接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具，包括测试工装(1)，其特征在于：所述测试工装(1)包括底盘(110)，所述底盘(110)的上端连接有底板(120)；所述底板(120)的上端连接有调控组件(2)，所述调控组件(2)包括滑动槽(210)，所述底板(120)的上端连接有滑动槽(210)，所述滑动槽(210)的上端开设有通槽(230)，所述通槽(230)的内部嵌入连接有铰接调节杆(220)，所述铰接调节杆(220)的上端连接有联动杆(240)；所述联动杆(240)的上端连接有夹持组件(4)，所述夹持组件(4)包括驱动杆(450)，所述联动杆(240)的上端连接有驱动杆(450)，所述驱动杆(450)的顶端连接有传动杆(430)，所述传动杆(430)的上端连接有夹持头(410)，所述夹持头(410)的上端连接有衔接杆(420)。2.根据权利要求1所述的一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具，其特征在于：所述底板(120)的顶端连接有定位杆(130)，所述定位杆(130)的上端嵌入连接有衔接杆(420)，所述衔接杆(420)贯穿夹持头(410)的内部。3.根据权利要求1所述的一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具，其特征在于：所述铰接调节杆(220)的顶端连接有测试台(140)，所述测试台(140)的上端安装有数据接线(150)，所述测试台(140)的顶端连接有集成电路测试板(160)。4.根据权利要求3所述的一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具，其特征在于：所述测试台(140)设置为框体结构，所述测试台(140)的顶端分布有金属薄片，所述集成电路测试板(160)的金属连接端位于金属薄片的上端。5.根据权利要求1所述的一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具，其特征在于：所述铰接调节杆(220)之间通过铰接轴相连接，所述铰接调节杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍秉国，吴龙军，廖广兰，
申请(专利权)人：徐州盛科半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：