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本发明公开了一种可进行尺寸调节的集成电路测试夹具，涉及集成电路夹具技术领域，现如今集成电路在进行测试中，对其进行装夹，经过装夹后的集成电路会在后续的测试中稳定性更加的优异，但是在装夹中集成电路的尺寸存在差异，夹持固定的点位无法对接到合适的位...
该专利属于徐州盛科半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过徐州盛科半导体科技有限公司授权不得商用。

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