一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪制造技术

一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪，属于集成电路测试技术领域，为解决对大批量集成电路进行检测的时候，由于同一块电路板需要进行多次不同位置不同数值的检测，且在检测完成后还需进行筛选，工作效率不够高的问题；本发明专利技术通过电机带动第二活动柱位于最左侧位置的时候，壳体位于电路板上方，负压泵使得壳体内部产生负压将电路板吸附，当第二活动柱移动至最右侧的时候，此时探针板与集成电路参数测试仪电路接通并对电路板进行测试，单项数据检测完毕的电路板在第二活动柱左右运动配合吸附组件的作用下向右移动，直至所有数据检测完毕后，整体检测效率高，并实现了在检测过程中根据不同的异常数据进行筛分。过程中根据不同的异常数据进行筛分。过程中根据不同的异常数据进行筛分。

【技术实现步骤摘要】
一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，特别涉及一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪。

技术介绍

[0002]集成电路在生产完成后一般利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等，通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值和电流值是否正常。
[0003]在进行检测的时候需要使用不同的探针接触不同的触点进行多次检测，再检测完成后对其不良品进行筛选，当需要对大批量集成电路进行检测的时候，由于同一块电路板需要进行多次不同位置不同数值的检测，且在检测完成后还需进行筛选，工作效率不够高。
[0004]为解决上述问题。为此，提出一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪，解决了
技术介绍
中对大批量集成电路进行检测的时候，由于同一块电路板需要进行多次不同位置不同数值的检测，且在检测完成后还需进行筛选，工作效率不够高的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪，包括检测台(1)和设置在检测台(1)上的检测机构(2)和输送机构(3)，其特征在于：检测台(1)包括工作台(11)以及设置在工作台(11)上的集成电路参数测试仪(14)和控制器(15)，工作台(11)的一侧均匀分布有不良品回收箱(16)；检测机构(2)包括翻转组件(21)、探针板(22)和弹性组件(23)，翻转组件(21)包括固定连接在工作台(11)顶部的转动轴(211)，转动轴(211)上转动连接有翻转板(212)，翻转板(212)对应不良品回收箱(16)设置有多组，翻转板(212)的顶部边缘固定连接有第一挡板(213)和第二挡板(214)，且第一挡板(213)分布在翻转板(212)的顶部三个边的边缘，探针板(22)安装在翻转板(212)的顶部中间位于翻转板(212)和第一挡板(213)内侧，翻转组件(21)还包括嵌合设置在工作台(11)顶部的伸缩气缸(215)，翻转板(212)的一侧固定连接有与伸缩气缸(215)相对应的固定板(216)。2.如权利要求1所述的一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪，其特征在于：弹性组件(23)设置有四组，且分布在翻转板(212)的四角处，弹性组件(23)包括设置在翻转板(212)内部的限位槽(231)，翻转板(212)上位于限位槽(231)上方滑动连接有限位杆(232)。3.如权利要求2所述的一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪，其特征在于：限位杆(232)的底部延伸至限位槽(231)内部并固定连接有第二限位片(235)，第二限位片(235)起到限位的作用，限位杆(232)上固定连接有第一限位片(233)，限位槽(231)上套装有弹簧(234)，且弹簧(234)位于第一限位片(233)下方与翻转板(212)顶部之间。4.如权利要求1所述的一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪，其特征在于：检测台(1)还包括设置在工作台(11)顶部一侧的第一输送带(12)以及工作台(11)顶部另一侧的第二输送带(13)，第一输送带(12)的上方设置有进料箱(121)，工作台(11)的一侧固定连接有与第二输送带(13)相对应的良品箱(131)。5.如权利要求1所述的一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪，其特征在于：输送机构(3)包括驱动组件(31)、导向组件(32)、吸附组件(33)和传动组件(34)，导向组件(32)和传动组件(34)对应翻转板(212)设置有多组，驱动组件(31)包括固定连接在工作台(11)上方的支撑板(311)，支撑板(311)后方外壁安装有电机(312)和第一固定座(313)，...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍秉国，吴龙军，廖广兰，
申请(专利权)人：徐州盛科半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：