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一种基于探针点触测试的多工位集成电路测试仪，属于集成电路测试技术领域，为解决对大批量集成电路进行检测的时候，由于同一块电路板需要进行多次不同位置不同数值的检测，且在检测完成后还需进行筛选，工作效率不够高的问题；本发明通过电机带动第二活动柱位...
该专利属于徐州盛科半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过徐州盛科半导体科技有限公司授权不得商用。

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