一种面向ATE的芯片测试向量转换方法技术

本发明专利技术公开了一种面向ATE的芯片测试向量转换方法，主要包括以下步骤：S100、分析仿真文件格式；S101、分析ATE测试向量格式；S102、确定芯片信号属性；S103、判定芯片信号是否为双向，是，则标明双向信号的控制信号，并执行步骤S104；否，则执行步骤S104等步骤。本发明专利技术本能有效的解决芯片仿真文件与ATE设备测试向量衔接的问题，使ATE设备能够顺利实现芯片测试验证及筛选。及筛选。及筛选。

【技术实现步骤摘要】
一种面向ATE的芯片测试向量转换方法


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，具体是指一种面向ATE的芯片测试向量转换方法。

技术介绍

[0002]目前，集成电路的验证及批量测试筛选大多在ATE(Automatic Test Equipment)自动测试设备上开展，ATE凭借其强大的测试能力及较大的测试覆盖范围，在业界被得到广泛使用。由于集成电路设计人员经常采用的是EDA(Electronic Design Automation)工具通过仿真方式对流片前的芯片进行RTL(Register Transfer Level)或者门级功能验证，用以验证芯片是否符合设计要求，同时采用记录波形方式生成仿真文件，并将这些仿真文件提供给ATE测试开发人员，因此，通常情况下测试开发人员还需要依据这些仿真文件在ATE设备上开发测试程序，并在开发完成后对流片后的芯片进行CP(Chip Probing)及FT(Final Test)测试、验证及筛选。在此过程中，由于测试设备无法直接识别此类仿真文件，因此就需要将此类仿真文件转换成ATE可识别的测试向量后才能使用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种面向ATE的芯片测试向量转换方法，其特征在于，主要包括以下步骤：S100、分析仿真文件格式；S101、分析ATE测试向量格式；S102、确定芯片信号属性；S103、判定芯片信号是否为双向，是，则标明双向信号的控制信号，并执行步骤S104；否，则执行步骤S104；S104、确定向量切割周期时间及起始切割时间点；S105、判定切割周期采用1拍、2拍或4拍是否成功，是，则执行步骤S106；否，则返回步骤S104；S106、向量切割，每个周期遍历所有信号的波形，生成ATE设备AVC向量；S107、提取波形索引，生成ATE设备DVC文件；S108、将步骤S100～S107程序化并形成命令行，通过命令行形式自动生成ATE设备的向量文件。2.根据权利要求1所述的一种面向ATE的芯片测试向量转换方法，其特征在于，步骤S102中所述的确定芯片信号属性是指标明芯片每个信号是输入信号、输出信号还是双向信号。3.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙国强，王萃东，陈元钊，赵健，齐和峰，
申请(专利权)人：江苏七维测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：