一种芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片技术

本申请实施例公开芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片。芯片测试与引脚复用单元，应用于芯片，芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和芯片测试与引脚复用单元，芯片功能单元和引脚一一对应；芯片测试与引脚复用单元包括芯片测试模块、引脚复用模块、M个第一开关模块和M个第二开关模块，M的取值为大于1的整数，N的取值为M的取值的2倍，从而通过复用芯片已有芯片功能单元所对应引脚以实现芯片测试，无需额外为芯片测试新增独立的引脚，从而有利于减少芯片在设计、封装和集成等环节上的引脚，进而有利于减小芯片的体积，以及降低芯片在设计、集成和封装上的成本。集成和封装上的成本。集成和封装上的成本。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片


[0001]本申请涉及集成电路测试领域，具体涉及芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片。

技术介绍

[0002]在芯片量产之前，芯片需要进入各类芯片测试的测试模式。在测试模式下，该芯片可以通过内置的测试电路对其进行芯片测试。然后，在完成测试之后，该芯片由测试模式进入到正常芯片功能的工作模式，并通过内置的芯片功能电路执行相关的芯片功能，从而保证芯片的出片和运行的质量。
[0003]然而，目前芯片的测试模式往往都是利用单独的引脚(PIN脚)进行。这就造成在芯片设计、芯片集成和芯片封装等环节上需要额外新增PIN脚以用于芯片测试，从而导致芯片的体积增大，以及增加芯片在设计、集成和封装上的成本等。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种芯片测试与引脚复用单元和相关方法和相关芯片，以期望通过复用芯片已有芯片功能单元所对应的引脚以实现芯片测试，而无需额外为芯片测试新增独立的引脚，从而有利于减少芯片在设计、封装和集成等环节上的引脚，进而有利于减小芯片的体积，以及降低芯片在设计、集成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试与引脚复用单元，其特征在于，应用于芯片，所述芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和所述芯片测试与引脚复用单元，所述芯片功能单元和所述引脚一一对应；所述芯片测试与引脚复用单元包括芯片测试电路、引脚复用电路、M个第一开关电路和M个第二开关电路，M的取值为大于1的整数；所述芯片测试电路通过M个所述第一开关电路和所述引脚复用电路连接M个所述引脚；所述芯片功能单元各自通过一个所述第二开关电路和所述引脚复用电路连接所述芯片功能单元所对应的一个所述引脚；所述引脚复用电路分别连接M个所述引脚、M个所述第一开关电路和M个所述第二开关电路；所述芯片测试电路，用于通过复用M个所述芯片功能单元各自所对应的所述引脚以对所述芯片进行芯片测试；所述芯片功能单元，用于执行所述芯片功能单元所具备的芯片功能；所述引脚复用电路，用于通过控制M个所述第一开关电路和M个所述第二开关电路以使得所述芯片测试电路复用M个所述芯片功能单元各自所对应的所述引脚。2.根据权利要求1所述的芯片测试与引脚复用单元，其特征在于，所述引脚复用电路，具体用于通过M个所述引脚检测第一信号；所述第一信号用于触发所述引脚复用电路通过控制M个所述第一开关电路和M个所述第二开关电路以将M个所述引脚分配给所述芯片测试电路或者M个所述芯片功能单元使用。3.根据权利要求2所述的芯片测试与引脚复用单元，其特征在于，所述第一信号包括上拉电压信号或者下拉电压信号。4.根据权利要求1至3任意一项所述的芯片测试与引脚复用单元，其特征在于，所述引脚复用电路，具体用于通过M个所述引脚在预设时间内检测是否存在第二信号；所述第二信号用于触发所述引脚复用电路通过控制M个所述第一开关电路和M个所述第二开关电路以将M个所述引脚分配给所述芯片测试电路使用；其中，若在所述预设时间内检测到所述第二信号，则所述引脚复用电路将M个所述引脚分配给所述芯片测试电路使用；若在所述预设时间内未检测到所述第二信号，则所述引脚复用电路将M个所述引脚分配给M个所述芯片功能单元使用。5.根据权利要求1至4任意一项所述的芯片测试与引脚复用单元，其特征在于，所述芯片测试电路，具体用于在M个所述引脚分配给所述芯片测试电路使用下，通过M个所述引脚检测第三信号；其中，所述第三信号用于触发所述芯片测试电路向所述引脚复用电路发送第四信号；所述第四信号用于触发所述引脚复用电路通过控制M个所述第一开关电路和M个所述第二开关电路以将M个所述引脚分配给M个所述芯片功能单元使用。6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑文杰，
申请(专利权)人：深圳英集芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：