一种石英晶片测试台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种石英晶片测试台，具体涉及测试台技术领域，包括下托盘和上托盘，所述下托盘和上托盘之间从下至上依次设置有X向调节机构、Y向调节机构和承托机构，所述承托机构包括连接框，所述连接框内部固定安装有第三步进电机，所述连接框内转动安装有支撑杆，所述支撑杆下端一体连接有两块下限位片，所述上托盘固定安装在支撑杆的顶端，并且上托盘内固定安装有多个承接盘。本实用新型专利技术通过设置X向调节机构、Y向调节机构和承托机构，实现了石英晶片的转动、X向移动和Y向移动，在测试的过程中只需调整机械臂上探头在竖直方向上的高度即可，避免了机械臂在移动时引起探头的角度发生变化而影响测试结果。发生变化而影响测试结果。发生变化而影响测试结果。

【技术实现步骤摘要】
一种石英晶片测试台


[0001]本技术涉及测试台
，更具体地说，本技术涉及一种石英晶片测试台。

技术介绍

[0002]石英晶片主要用于各类电子元器件中，是一种非常优良的基础材料。石英晶片在使用前需要对其进行测试，测试合格后才能进行使用。现有的晶片测试装置是将晶片放置于测试台上，将晶片的待测点置于探头的下方，机械臂与探头通过连接件进行连接，机械臂控制探头移动，使得探头与晶片表面接触，通过探头内含有的汞与晶片表面连接完成电路回路，实现测试。
[0003]而探头与半导体晶片的接触面积是测试过程中的重要参数，探头与晶片的接触面保持平行是测试时的理想状态。现有技术中是通过机械臂带动探头进行移动，来使得探头向晶片靠近，从而完成对晶片的测试，但是在机械臂移动的过程中，其角度难免会发生变化，从而造成探头与晶片的接触面不再平行，这就会造成测试结果的不准确。针对上述问题进行研究，专利技术了本装置。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的上述缺陷，本技术提供一种石英晶片测试台，来解决上述
技术介绍
中提出的机械臂带动探头进行移动时，其角度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种石英晶片测试台，包括下托盘（1）和上托盘（2），其特征在于：所述下托盘（1）和上托盘（2）之间从下至上依次设置有X向调节机构（3）、Y向调节机构（4）和承托机构（5），所述承托机构（5）包括连接框（501），所述连接框（501）内部固定安装有第三步进电机（502），所述连接框（501）内转动安装有支撑杆（503），所述支撑杆（503）下端一体连接有两块下限位片（504），所述第三步进电机（502）输出端与支撑杆（503）上均套接有皮带轮（505），并且两个皮带轮（505）之间设置有传动皮带（506），所述上托盘（2）固定安装在支撑杆（503）的顶端，并且上托盘（2）内固定安装有多个承接盘（6）。2.根据权利要求1所述的一种石英晶片测试台，其特征在于：所述X向调节机构（3）包括两个沿X向设置的导向框架一（301），两个所述导向框架一（301）内均转动安装有螺纹杆一（302），并且每根螺纹杆一（302）上均螺纹连接有移动块一（303）。3.根据权利要求2所述的一种石英晶片测试台，其特征在于：两个所述导向框架一（301）前侧均设置有第一步进电机（304），两个所述第一步进电机（304）的输出端分别与两根螺纹杆一（30...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹鹏，
申请(专利权)人：南京禄宪自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：