一种阵列产品自适应电性测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种阵列产品自适应电性测试装置，包括主框体和基板，所述主框体的底部固定连接有测试电路板，所述测试电路板上电性连接有多个伸缩探针，所述伸缩探针的顶部贯穿主框体并向上延伸，所述基板的顶部固连接有下压面板，所述基板的底部设有多个焊盘，所述主框体的内壁上设有与下压面板对应的滑槽，所述滑槽的内壁上滑动插设有挡杆，所述挡杆的一端贯穿主框体的内壁并向外延伸。本实用新型专利技术通过自适应探针组装的测试装置可以有效使阵列产品所有焊盘都能与测试探针有效接触，且不会损坏产品内部结构。会损坏产品内部结构。会损坏产品内部结构。

【技术实现步骤摘要】
一种阵列产品自适应电性测试装置


[0001]本技术涉及电路板测试
，尤其涉及一种阵列产品自适应电性测试装置。

技术介绍

[0002]随着电子产品往小型化、高速化方向的发展，电路板也从单面电路板、双面电路板往多层高密度电路板方向发展。多层高密度电路板是指具有多层导电线路的电路板，其具有较多的布线面积、较高互连密度，因而得到广泛的应用。
[0003]电特性的测试是将电子部件搭载于电特性测试基板，并将电特性测试基板与测试装置进行连接而实施。对于电特性测试基板，一般的构成是：在用于安装电子部件的输出端子的部件搭载电极和用于与测试装置连接的连接器之间用特定阻抗的共面线进行连接。
[0004]但是现有阵列电路板存在多组焊盘，基板会有一定翘曲，因此测试过程中，需要测试针接触到每个焊盘，且不可使翘曲的产品受到过大的应力，防止产品损伤。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是为了解决现有技术中阵列电路板存在多组焊盘，基板会有一定翘曲，因此测试过程中，需要测试针接触到每个焊盘的问题，而提出的一种阵列产品自适应电性测试装置。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0007]一种阵列产品自适应电性测试装置，包括主框体和基板，所述主框体的底部固定连接有测试电路板，所述测试电路板上电性连接有多个伸缩探针，所述伸缩探针的顶部贯穿主框体并向上延伸，所述基板的顶部固连接有下压面板，所述基板的底部设有多个焊盘，所述主框体的内壁上设有与下压面板对应的滑槽，所述滑槽的内壁上滑动插设有挡杆，所述挡杆的一端贯穿主框体的内壁并向外延伸，所述主框体的外壁上设有固定槽，所述固定槽内固定连接有与挡杆对应的固定机构。
[0008]优选地，所述伸缩探针的底部固定套接有支撑套，所述支撑套的一侧与主框体的内壁相抵。
[0009]优选地，所述挡杆位于主框体内的一端固定连接有挡块，所述主框体的内壁上设有与挡块对应的插槽。
[0010]优选地，所述挡杆远离伸缩探针的一端固定连接有限位块。
[0011]优选地，所述固定机构包括固定杆，所述固定杆上滑动套接有L型卡杆，所述挡杆上设有与L型卡杆对应的多个卡槽。
[0012]优选地，所述固定杆上套设有弹簧，所述弹簧的两端分别与L型卡杆和固定槽内壁固定连接。
[0013]有益效果：
[0014]1.本技术中，已知产品翘曲后所受应力需＜x.Pa，于测试电路板装上带有伸
缩性且伸缩弹力规格＜x.Pa的伸缩探针，且测试装置外围带有限位功能，限位高度即为伸缩探针伸缩高度；当放入产品后，向下按压，使每个测试焊盘都能与伸缩探针有效接触，此时所受外力均<x.Pa，当下压面板下降到限位点时，装置将无法继续施压，可保护产品不会受到>x.Pa的力，由挡杆固定产品，从而使产品即可有效得到测试且不会损伤产品；
[0015]2.本技术中，通过自适应探针组装的测试装置可以有效使阵列产品所有焊盘都能与测试探针有效接触，且不会损坏产品内部结构。
附图说明
[0016]图1为本技术提出的一种阵列产品自适应电性测试装置的结构示意图；
[0017]图2为本技术提出的一种阵列产品自适应电性测试装置中产品下压时的结构示意图。
[0018]图中：1主框体、2基板、3测试电路板、4伸缩探针、5下压面板、6焊盘、7挡杆、8支撑套、9挡块、10限位块、11固定杆、12L型卡杆、13弹簧。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0020]参照图1
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2，一种阵列产品自适应电性测试装置，包括主框体1和基板2，主框体1的底部固定连接有测试电路板3，用于对产品进行电性测试，测试电路板3上电性连接有多个伸缩探针4，伸缩探针4的底部固定套接有支撑套8，用于支撑伸缩探针4，支撑套8的一侧与主框体1的内壁相抵，伸缩探针4的顶部贯穿主框体1并向上延伸；
[0021]本实施例中，基板2的顶部固连接有下压面板5，用于带动基板2向下移动，基板2的底部设有多个焊盘6，主框体1的内壁上设有与下压面板5对应的滑槽，滑槽的内壁上滑动插设有挡杆7，用于对下压面板5进行固定限位，挡杆7的一端贯穿主框体1的内壁并向外延伸，主框体1的外壁上设有固定槽；
[0022]本实施例中，固定槽内固定连接有与挡杆7对应的固定机构，固定机构包括固定杆11，固定杆11上滑动套接有L型卡杆12，用于固定挡杆7，挡杆7上设有与L型卡杆12对应的多个卡槽，固定杆11上套设有弹簧13，弹簧13的两端分别与L型卡杆12和固定槽内壁固定连接，对L型卡杆12起到一定弹性支撑；
[0023]本实施例中，挡杆7位于主框体1内的一端固定连接有挡块9，主框体1的内壁上设有与挡块9对应的插槽，挡杆7远离伸缩探针4的一端固定连接有限位块10，对挡杆7起到一定限位作用。
[0024]本实施例中，已知产品翘曲后所受应力需＜x.Pa，于测试电路板3装上带有伸缩性且伸缩弹力规格＜x.Pa的伸缩探针4，且测试装置外围带有限位功能，限位高度即为伸缩探针4伸缩高度；当放入产品后，向下按压，使每个测试焊盘6都能与伸缩探针4有效接触，此时所受外力均<x.Pa，当下压面板下降到限位点时，装置将无法继续施压，可保护产品不会受到>x.Pa的力，由挡杆7固定产品，从而使产品即可有效得到测试且不会损伤产品。
[0025]本实施例中，通过自适应探针组装的测试装置可以有效使阵列产品所有焊盘都能
与测试探针有效接触，且不会损坏产品内部结构。
[0026]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阵列产品自适应电性测试装置，包括主框体(1)和基板(2)，其特征在于：所述主框体(1)的底部固定连接有测试电路板(3)，所述测试电路板(3)上电性连接有多个伸缩探针(4)，所述伸缩探针(4)的顶部贯穿主框体(1)并向上延伸，所述基板(2)的顶部固连接有下压面板(5)，所述基板(2)的底部设有多个焊盘(6)，所述主框体(1)的内壁上设有与下压面板(5)对应的滑槽，所述滑槽的内壁上滑动插设有挡杆(7)，所述挡杆(7)的一端贯穿主框体(1)的内壁并向外延伸，所述主框体(1)的外壁上设有固定槽，所述固定槽内固定连接有与挡杆(7)对应的固定机构。2.根据权利要求1所述的一种阵列产品自适应电性测试装置，其特征在于：所述伸缩探针(4)的底部固定套接有支撑套(8)，所述支撑套(8)的一侧与主框体(1)的内壁...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，
申请(专利权)人：芯晟捷创光电科技常州有限公司，
类型：新型
国别省市：