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本发明公开了一种面向ATE的芯片测试向量转换方法，主要包括以下步骤：S100、分析仿真文件格式；S101、分析ATE测试向量格式；S102、确定芯片信号属性；S103、判定芯片信号是否为双向，是，则标明双向信号的控制信号，并执行步骤S104...
该专利属于江苏七维测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏七维测试技术有限公司授权不得商用。

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