本申请涉及IC烧录技术领域，具体公开了一种IC烧录机的运输装置，包括安装座以及依次设置在安装座上的轨道机构、限位机构和检测窗口，轨道机构沿倾斜方向设置，便于IC芯片向下运动；限位机构包括驱动部件、第一限位部件和第二限位部件，驱动部件与安装座相连接，第一限位部件和第二限位部件均与驱动部件相连接；检测窗口检测IC芯片时，第一限位部件限制轨道机构上IC芯片的运动，检测窗口的IC芯片检测完成后，驱动部件驱动第一限位部件向上运动，第二限位部件向下运动，第一限位部件与第二限位部件之间的IC芯片向下运动至检测窗口处进行外观检测，从而实现了单个IC芯片的外观检测，提升了检测的精准度。本申请具有提升检测精确度的效果。度的效果。度的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种IC烧录机的运输装置
[0001]本申请涉及IC烧录
，尤其是涉及一种IC烧录机的运输装置。
技术介绍
[0002]IC芯片的资料区处于空白状态，根据所需的功能，通过IC烧录机对IC芯片进行信息数据的输入，再输出收料进行使用。现阶段的IC烧录的设备往往自动化程度不高，功能单一。
[0003]相关技术中的烧录机在烧录完成后，在重力的作用下，IC芯片向下运动至检测机构进行检测，但是相关技术中输送机构在输送IC芯片至检测机构时，由于IC芯片连续不断的运动至检测机构，导致IC芯片的检测不准确。
[0004]因此上述技术方案中烧录机在输送IC芯片时，存在有检测不准确的缺陷。
技术实现思路
[0005]为了提升IC芯片检测的准确度，本申请提供一种IC烧录机的输送装置。
[0006]本申请提供的一种IC烧录机的运输装置采用如下的技术方案：
[0007]一种IC烧录机的运输装置，包括：
[0008]安装座；
[0009]轨道机构，设置在所述安装座上，所述轨道机构沿倾斜方向设置，所述轨道机构用于输送IC芯片；
[0010]限位机构，设置在所述安装座上，包括驱动部件、第一限位部件和第二限位部件，所述驱动部件与所述安装座相连接，所述第一限位部件和所述第二限位部件均与所述驱动部件相连接，所述驱动部件用于驱动所述第一限位部件和所述第二限位部件朝向或远离所述轨道机构运动，所述驱动部件驱动所述第一限位部件和所述第二限位部件运动时，所述第一限位部件和所述第二限位部件反向运动；
[0011]检测窗口，设置在所述安装架上，用于对IC芯片的外观进行检测。
[0012]基于上述技术方案，轨道机构沿倾斜方向设置，在重力的作用下，IC芯片向下运动，在检测窗口处有IC芯片进行检测时，第一限位部件限制轨道机构上IC芯片的运动，在检测窗口的IC芯片检测完成后，驱动部件驱动第一限位部件向上运动，同时第二限位部件向下运动，第一限位部件与第二限位部件之间的IC芯片向下运动至检测窗口处进行外观检测，从而实现了单个IC芯片的外观检测，提升了检测的精准度。
[0013]优选的，所述驱动部件包括连接板和气动手指，所述连接板与所述安装座固定连接，所述第一限位部件和所述第二限位部件均与所述气动手指相连接，所述气动手指与所述连接板固定连接，以使所述第一限位部件和所述第二限位部件相对所述安装座滑移。
[0014]基于上述技术方案，气动手指安装在连接板上，使得与气动手指相连接的第一限位部件和第二限位部件与轨道机构在竖直方向上存在一定的距离，使得第一限位部件和第二限位部件既可阻挡IC芯片运动，也可使IC芯片通过轨道机构进行输送。
[0015]优选的，所述轨道机构包括安装板和安装盖，所述安装板与所述安装座固定连接，所述安装盖与所述安装板相连接，所述安装板上设置有第一导轨，所述安装盖上开设有凹槽，所述第一导轨与所述凹槽相对设置。
[0016]基于上述技术方案，第一导轨和凹槽相对设置，使得安装包和安装盖之间存在可供IC芯片运动的轨道空间，便于IC芯片运动，同时避免在运动过程中IC芯片从第一导轨上滑出。
[0017]优选的，所述安装盖上开设有第一通孔，所述第一导轨上开设有第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔相对设置，所述第一限位部件包括档杆，所述档杆相对所述第一通孔设置，所述气动手指用于驱动所述档杆朝向或远离所述第二通孔运动，以使IC芯片停滞在所述第一导轨上或通过所述第一导轨。
[0018]基于上述技术方案，第一通孔与第二通孔相对设置，使得第一限位部件通过第一通孔运动至第二通孔内，限制IC芯片的运动，第二限位部件可通过第一气孔与IC芯片相抵接，限制IC芯片的运动，实现单个IC芯片的运输检测。
[0019]优选的，所述第二限位部件包括限位杆，所述气动手指用于驱动所述限位杆穿过所述第一通孔朝向或远离IC芯片运动，所述限位杆为柔性材料。
[0020]基于上述技术方案，限位杆为柔性材料，在限位杆与IC芯片相抵接时，减少对IC芯片的磨损。
[0021]优选的，所述检测窗口包括检测台和检测盖板，所述检测台上设置有第二导轨，所述第一导轨与所述第二导轨相抵接，所述检测盖板与所述检测台相连接。
[0022]基于上述技术方案，检测盖板与检测台相连接，从而限制IC芯片的运动轨迹，避免IC芯片的位置发生偏移。
[0023]优选的，所述检测台的一侧设置有喷吹机构，所述喷吹机构包括喷气管，所述喷气管上开设有喷气孔，所述喷气孔对应所述检测台上的IC芯片设置。
[0024]基于上述技术方案，喷气孔对IC芯片进行喷吹，从而加快IC芯片的运动速度，提升工作效率。
[0025]优选的，所述安装板上设置有喷气通道，所述喷气通道的出气端设置在所述档杆和所述限位杆之间，且对应所述第一导轨上的IC芯片设置。
[0026]基于上述技术方案，喷气通道对限位杆与档杆之间的IC芯片进行喷吹，加快IC芯片的运动速度，使得IC芯片加速运动至检测窗口处进行检测，提升了工作效率。
[0027]优选的，所述安装座上设置有挡料机构，所述挡料机构包括气缸和挡料板，所述气缸与所述安装座固定连接，所述挡料板与所述气缸的活塞杆固定连接，所述气缸用于驱动所述挡料板朝向或远离所述第二导轨运动。
[0028]基于上述技术方案，气缸驱动挡料板向下运动，使得挡料板与第二导轨相抵接，使得IC芯片停滞在检测台上进行检测，检测完成后，气缸驱动挡料板向上运动，以便于IC芯片通过。
[0029]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
[0030]1.在检测窗口处有IC芯片进行检测时，第一限位部件限制轨道机构上IC芯片的运动，在检测窗口的IC芯片检测完成后，驱动部件驱动第一限位部件向上运动，同时第二限位部件向下运动，第一限位部件与第二限位部件之间的IC芯片向下运动至检测窗口处进行外
观检测，从而实现了单个IC芯片的外观检测，提升了检测的精准度；
[0031]2.喷气孔对检测台上的IC芯片进行喷吹，加快IC芯片的运动速度，提升工作效率；
[0032]3.喷气通道对限位杆与档杆之间的IC芯片进行喷吹，加快IC芯片的运动速度，使得IC芯片加速运动至检测窗口处进行检测，提升了工作效率。
附图说明
[0033]图1绘示了本申请实施例的IC烧录机的运输装置的整体结构示意图；
[0034]图2绘示了图1不同视角的结构示意图，主要用于体现轨道机构的内部结构；
[0035]图3绘示了图2中A部分的放大图；
[0036]图4绘示了本申请实施例的IC烧录机的运输装置的正面结构示意图；
[0037]图5绘示了图4的部分结构示意图，主要用于体现限位机构对IC芯片的限位；
[0038]图6绘示了图2相反视角的结构示意图，主要用于体现喷吹机构和检测窗口的结构；
[0039]图7绘示了图6中B部分的放大图。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种IC烧录机的运输装置，其特征在于，包括：安装座(10)；轨道机构(20)，设置在所述安装座(10)上，所述轨道机构(20)沿倾斜方向设置，所述轨道机构(20)用于输送IC芯片(70)；限位机构(30)，设置在所述安装座(10)上，包括驱动部件(31)、第一限位部件(32)和第二限位部件(33)，所述驱动部件(31)与所述安装座(10)相连接，所述第一限位部件(32)和所述第二限位部件(33)均与所述驱动部件(31)相连接，所述驱动部件(31)用于驱动所述第一限位部件(32)和所述第二限位部件(33)朝向或远离所述轨道机构(20)运动，所述驱动部件(31)驱动所述第一限位部件(32)和所述第二限位部件(33)运动时，所述第一限位部件(32)和所述第二限位部件(33)反向运动；检测窗口(40)，设置在所述安装座(10)上，用于对IC芯片(70)的外观进行检测。2.根据权利要求1所述的IC烧录机的运输装置，其特征在于，所述驱动部件(31)包括连接板(311)和气动手指(312)，所述连接板(311)与所述安装座(10)固定连接，所述第一限位部件(32)和所述第二限位部件(33)均与所述气动手指(312)相连接，所述气动手指(312)与所述连接板(311)固定连接，以使所述第一限位部件(32)和所述第二限位部件(33)相对所述安装座(10)滑移。3.根据权利要求2所述的IC烧录机的运输装置，其特征在于，所述轨道机构(20)包括安装板(21)和安装盖(22)，所述安装板(21)与所述安装座(10)固定连接，所述安装盖(22)与所述安装板(21)相连接，所述安装板(21)上设置有第一导轨(211)，所述安装盖(22)上开设有凹槽(221)，所述第一导轨(211)与所述凹槽(221)相对设置。4.根据权利要求3所述的IC烧录机的运输装置，其特征在于，所述安装盖(22)上开设有第一通孔(222)，所述第一导轨(211)上开设有第二通孔(212)，所述第一通...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓伍群，
申请(专利权)人：深圳市华力宇电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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