【技术实现步骤摘要】
半导体封装装置
[0001]本申请涉及半导体封装
,具体涉及一种半导体封装装置。
技术介绍
[0002]倒装芯片(Flip chip)铜柱植球(Cu pillar bump)的直径及间距为影响接合效果的重要因素,较小直径的铜柱沾取的焊料过少导致无法有效连接,而较大直径的铜柱可沾取较多的焊料,但当铜柱的间距较小时,则可能发生桥接问题。而ETS(Embedded trace substrates,中文:埋入线路基板,简称:埋线板)将导电垫埋入基板的介电材料,能藉由介电材料阻止焊料流动而有效避免焊料桥接,但焊料可能在热制程中沿线路(trace)流动,减薄回流焊后的焊料厚度,导致焊料块容易产生裂纹且容易受外力而断裂。
[0003]参考图1A
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1D,图1A
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1D分别是根据目前的一种半导体封装装置在装配前、装配后和断裂后的纵向截面结构示意图及其基板的俯视结构示意图。如图1A
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1D所示,基板800包括介电层801,和埋入介电层801的导电垫802与线路803,导电垫 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体封装装置,其特征在于,包括基板,所述基板包括:介电层,形成有开口朝上的开槽;导电垫,内埋在所述介电层中且位于所述开槽下方;金属垫,在所述介电层中叠置于所述导电垫上,且至少一部分位于所述开槽中;预焊接垫,叠置于所述金属垫上,且顶面为平面。2.根据权利要求1所述的半导体封装装置,其特征在于,所述导电垫连接有线路,所述线路的底面、侧面和顶面都内埋在所述介电层中。3.根据权利要求1所述的半导体封装装置,其特征在于,所述金属垫的直径小于或等于所述导电垫的直径。4.根据权利要求1所述的半导体封装装置,其特征在于,所述金属垫的顶面不高于所述介电层的顶面,所述预焊接垫的顶面不低于所述介电层的顶...
【专利技术属性】
技术研发人员:颜尤龙,博恩,
申请(专利权)人:日月光半导体制造股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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