一种归属位置寄存器的测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种归属位置寄存器的测试装置，包括：一模拟驱动模块，用于设置所述归属位置寄存器接口上的测试流程来模拟仿真一个或多个网元，并完成对该测试流程的驱动；一消息编辑模块，用于对该测试流程涉及的协议消息进行编辑和参数设置；一消息处理模块，用于对所述测试流程涉及的协议消息进行处理，并协同所述模拟驱动模块完成对该测试流程的驱动。相应地，本发明专利技术还提供一种归属位置寄存器的测试方法。本发明专利技术不仅测试成本低，而且测试环境搭建简单、易于维护，极大的提高了工作效率；另外，本发明专利技术可根据业务需要在ＨＬＲ接口上灵活设置测试流程和消息参数，从而提升了测试过程的灵活性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种归属位置寄存器的测试装置，其特征在于，包括：　　　　一模拟驱动模块，用于设置所述归属位置寄存器接口上的测试流程来模拟仿真一个或多个网元，并完成对该测试流程的驱动；　　　　一消息编辑模块，用于对该测试流程涉及的协议消息进行编辑和参数设置；　　　　一消息处理模块，用于对所述测试流程涉及的协议消息进行处理，并协同所述模拟驱动模块完成对该测试流程的驱动。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：鞠炜刚，陆卫斌，丁国营，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]