一种测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法技术

技术编号:36071693 阅读:9 留言:0更新日期:2022-12-24 10:41
本发明专利技术提供一种测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法,包括试样制备:抽取废电路板样品,剥离出金属样品并浇铸成铜锭和铜渣,称取预定量的铜渣样品;试样处理:将铜渣样品置于三角烧杯中,对铜渣样品粉碎并筛分,称取铜渣试样;溶解铜渣试样,得到样品溶液;标准试液配制:依次移取预定量的钙、镁、铁、铝标准储备液,混合得到钙镁铁铝混合标准溶液;分别称取多份钙镁铁铝混合标准溶液依次对应置于容量瓶中,得到钙镁铁铝混合标准系列溶液;钙、镁、铁和铝含量测定:将所述样品溶液参照钙镁铁铝混合标准系列溶液利用ICP

【技术实现步骤摘要】
一种测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法


[0001]本专利技术涉及化学分析
,特别涉及一种测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法。

技术介绍

[0002]电路板是各类电子产品的核心部件。废电路板属于废弃电器电子产品的核心部件,富含铜、金、银、铂、钯、铝、铁等有价金属,它们常被用作阻燃剂添加到各种电路板中。
[0003]然而,当前国内市场有关废电路板的相关分析方法标准的缺失导致交易价格往往是通过买卖双方之间的协议来达成,不仅体现不出废电路板的市场价值,而且严重地影响到废电路板的回收、利用及可持续发展。
[0004]随着电子信息工业的迅猛发展,废电路板(WPCB)的数量也急剧增加,废电路板种类多样,各种含量分布变化很大,因此准确测定废旧线路板中的金属物料熔融浇铸所产铜渣中钙、镁、铁和铝等有价元素含量,对指导冶金冶铜排渣、了解废电路板的回收价值和确定回收处理方法非常重要。
[0005]目前,废旧线路板中的金属物料熔融浇铸所产铜渣中钙、镁、铁和铝等有价元素含量同时测定方法探究较少,且在目前的测定方法中,容易出现因铜渣含碳高而导致溶样不完全从而使得测定结果偏低的问题,影响钙、镁、铁和铝含量的测定。

技术实现思路

[0006]基于此,本专利技术的目的是提供一种测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法,以解决上述相关技术中的不足。
[0007]本专利技术提出一种测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法,所述方法包括以下步骤:
[0008]试样制备:按照取样比例抽取废电路板样品,对所述废电路板样品进行破碎处理并剥离出金属样品,将所述金属样品熔融后浇铸成铜锭和铜渣,称取预定量的铜渣样品;
[0009]试样处理:将称取的所述铜渣样品置于三角烧杯中,对所述铜渣样品粉碎并筛分,筛分成筛上样品与筛下样品,按筛上样品与筛下样品筛分后的质量比合称取铜渣试样;往三角烧杯中加1~5mL水润湿所述铜渣试样,继续往三角烧杯中加入第一预设体积逆王水,低温加热至25℃~50℃使所述铜渣试样溶解至小体积,盖上表面皿,往三角烧杯中连续加入M次硝硫混酸,所述硝硫混酸的总体积为第二预设体积,加热溶解所述铜渣试样并蒸发至冒硫酸烟除碳,除碳完毕后往三角烧杯中加入第三预设体积高氯酸,待反应平静后将三角烧杯置于电热板上低温加热至25℃~50℃溶解所述铜渣试样,待反应平静后蒸至小体积,取下,用5~10mL水吹洗三角烧杯的杯壁,将三角烧杯置于电热板上加热微沸第一预设时间,取下,冷却至室温,移入容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀,静置或干过滤,得到样品溶液;
[0010]标准试液配制:依次移取预定量的钙标准储备液、镁标准储备液、铁标准储备液和
铝标准储备液,混合形成钙镁铁铝混合液,置于容量瓶中,加水稀释至容量瓶定容刻度并混匀,得到钙镁铁铝混合标准溶液;分别称取多份不同预定量的所述钙镁铁铝混合标准溶液依次对应置于六个容量瓶中,加水稀释至容量瓶刻度,定容并混匀,得到钙镁铁铝混合标准系列溶液;
[0011]钙、镁、铁和铝含量测定:将试样处理步骤得到的所述样品溶液参照对应的所述钙镁铁铝混合标准系列溶液利用ICP

AES进行钙、镁、铁和铝含量的测定。
[0012]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:通过将废电路板物理分离出金属试样,金属样品熔融后浇铸成铜锭和铜渣,以实现对铜渣中钙、镁、铁和铝含量的测定,使得本方法可以应用于不同的废电路板,适用性广,另外,合理选用混酸溶解试样除碳,在酸液介质中吸收,并用ICP

AES法连续测定废电路板剥离树脂粉末中钙、镁、铁和铝含量,突出解决了铜渣含碳高而溶样不完全而使结果偏低的问题,避免了元素损失的同时不影响钙、镁、铁和铝含量的测定。
[0013]在其中一些实施例中,在所述试样处理步骤中,所述铜渣试样的重量为0.0970g~0.3001g,所述铜渣试样按0.0001g标准称取。
[0014]在其中一些实施例中,在所述试样处理步骤中,所述铜渣样品粉碎后过 0.425mm标准筛进行筛分。
[0015]在其中一些实施例中,在所述试样处理步骤中,M为3~4,即往三角烧杯中连续加入3~4次硝硫混酸,所述硝硫混酸的总体积为第二预设体积,所述第二预设体积为6.0mL~10.0mL。
[0016]在其中一些实施例中,在所述试样处理步骤中,第一预设体积为15.0mL ~40.0mL,第三预设体积为2.0mL~5.0mL。
[0017]在其中一些实施例中,在所述试样处理过程中,第一预设时间为6min ~10min。
[0018]在其中一些实施例中,在所述标准试液配制步骤中,所述钙标准储备液、镁标准储备液、铁标准储备液和铝标准储备液浓度均为2000ug/mL,所述钙镁铁铝混合标准溶液中,钙、镁、铁、铝质量浓度各为200ug/mL。
[0019]在其中一些实施例中,在所述标准溶液配制过程中,分别称取0mL、2.5mL、 5.00mL、10.00mL、20.00mL和25.00mL的所述钙镁铁铝混合标准溶液依次对应置于六个100mL容量瓶中,加入5.00mL盐酸、15.00mL硝酸溶液稀释至容量瓶刻度,定容并混匀,得到钙镁铁铝混合标准系列溶液。
附图说明
[0020]图1为本专利技术提供的测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法流程简图;
[0021]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0022]为了便于理解本专利技术,下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的若干实施例。但是,本专利技术可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容更加透彻全面。
[0023]需要说明的是,当元件被称为“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0024]除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0025]实施例一
[0026]请参阅图1,所示为本专利技术第一实施例提供的测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法,具体包括以下步骤:
[0027]试样制备:按照取样比例抽取废电路板样品,对所述废电路板样品进行破碎处理并剥离出金属样品,将所述金属样品熔融后浇铸成铜锭和铜渣,称取预定量的铜渣样品。
[0028]试样处理:将称取的所述铜渣样品置于三角烧杯中,对所述铜渣样品粉碎并筛分,筛分成筛上样品与筛下样品,按筛上样品本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测定废电路板熔融浇铸所产铜渣中钙镁铁铝的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:试样制备:按照取样比例抽取废电路板样品,对所述废电路板样品进行破碎处理并剥离出金属样品,将所述金属样品熔融后浇铸成铜锭和铜渣,称取预定量的铜渣样品;试样处理:将称取的所述铜渣样品置于三角烧杯中,对所述铜渣样品粉碎并筛分,筛分成筛上样品与筛下样品,按筛上样品与筛下样品筛分后的质量比合称取铜渣试样;往三角烧杯中加1.0mL~5.0mL水润湿所述铜渣试样,继续往三角烧杯中加入第一预设体积逆王水,低温加热至25℃~50℃使所述铜渣试样溶解至小体积,盖上表面皿,往三角烧杯中连续加入M次硝硫混酸,所述硝硫混酸的总体积为第二预设体积,加热溶解所述铜渣试样并蒸发至冒硫酸烟除碳,除碳完毕后往三角烧杯中加入第三预设体积高氯酸,待反应平静后将三角烧杯置于电热板上低温加热至25℃~50℃溶解所述铜渣试样,待反应平静后蒸至小体积,取下,用5.0mL~10.0mL水吹洗三角烧杯的杯壁,将三角烧杯置于电热板上加热微沸第一预设时间,取下,冷却至室温,移入容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀,静置或干过滤,得到样品溶液;标准试液配制:依次移取预定量的钙标准储备液、镁标准储备液、铁标准储备液和铝标准储备液,混合形成钙镁铁铝混合液,置于容量瓶中,加水稀释至容量瓶定容刻度并混匀,得到钙镁铁铝混合标准溶液;分别称取多份不同预定量的所述钙镁铁铝混合标准溶液依次对应置于六个容量瓶中,加水稀释至容量瓶刻度,定容并混匀,得到钙镁铁铝混合标准系列溶液;钙、镁、铁和铝含量测定:将试样处理步骤得到的所述样品溶液参照对应的所述钙镁铁铝混合标准系列溶液利用ICP

AES进行钙、镁、铁和铝含量的测定。2.根据权利要求1所述的测定废电路板熔融浇铸所...

【专利技术属性】
技术研发人员:于乐韩强强汪恒袁鹏程刘名红
申请(专利权)人:江西华赣瑞林稀贵金属科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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