一种检测碳粉纯度的方法技术

发明专利技术特别涉及一种检测碳粉纯度的方法，属于纯度检测技术领域，方法包括：将待测碳粉和负载物进行混合，得到混合物；将所述混合物进行焙烧，得到负载杂质的产物；将所述产物进行纯度检测，得到杂质含量；根据所述杂质含量，得到碳粉纯度；其中，所述负载物的熔点高于所述焙烧温度；在已知纯度的、具有较高熔点的物质中掺杂碳粉，将二者的混合物于高温下焙烧，碳粉中的C燃烧生成CO或CO2气体放出，剩余杂质吸附在氧化铝上，检测氧化铝中的杂质含量即可间接得知碳粉的杂质含量。接得知碳粉的杂质含量。接得知碳粉的杂质含量。

【技术实现步骤摘要】
一种检测碳粉纯度的方法


[0001]本专利技术属于纯度检测
，特别涉及一种检测碳粉纯度的方法。

技术介绍

[0002]一般对于物质中杂质元素含量的检测普遍使用电感耦合等离子体光谱仪即ICP发射光谱仪，该方法操作简便，结果公认可靠。碳粉由于自身的化学性质使其不能直接利用ICP发射光谱仪检测杂质元素含量，其纯度的检测长期以来未有行之有效的统一标准方法。对于以碳粉为原料的粉体制备领域，要求控制产品杂质含量，有效检测碳粉纯度是必要的。

技术实现思路

[0003]本申请的目的在于提供一种检测碳粉纯度的方法，以解决目前碳粉纯度无法检测的问题。
[0004]本专利技术实施例提供了一种检测碳粉纯度的方法，所述方法包括：
[0005]将待测碳粉和负载物进行混合，得到混合物；
[0006]将所述混合物进行焙烧，得到负载杂质的产物；
[0007]将所述产物进行纯度检测，得到杂质含量；
[0008]根据所述杂质含量，得到碳粉纯度；
[0009]其中，所述负载物的熔点高于所述焙烧温度。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测碳粉纯度的方法，其特征在于，所述方法包括：将待测碳粉和负载物进行混合，得到混合物；将所述混合物进行焙烧，得到负载杂质的产物；将所述产物进行纯度检测，得到杂质含量；根据所述杂质含量，得到碳粉纯度；其中，所述负载物的熔点高于所述焙烧温度。2.根据权利要求1所述的检测碳粉纯度的方法，其特征在于，所述负载物的熔点大于1000℃。3.根据权利要求1所述的检测碳粉纯度的方法，其特征在于，所述负载物的熔点大于1500℃。4.根据权利要求1所述的检测碳粉纯度的方法，其特征在于，所述负载物的熔点大于2000℃。5.根据权利要求1所述的检测碳粉纯度的方法，其特征在于，所述负...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜善国，陈凤娇，刘青，王立家，吴春正，王晓燕，孙艳青，魏延美，张雁秋，李洪玉，
申请(专利权)人：中铝山东有限公司，
类型：发明
国别省市：