一种芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种芯片测试治具，它包括：测试组件，所述测试组件包括主底板、固定在所述主底板顶部的测试底板、开设在所述测试底板顶部的手指槽以及设置在所述手指槽内的测试手指；载台组件，所述载台组件包括可移动地设置在所述主底板一侧的载台底板以及开设在所述载台底板顶部的芯片槽；转移组件，所述转移组件包括转移板、固定在所述转移板底部的吸板以及固定在所述吸板底部的吸嘴，所述转移板设置在测试组件和载台组件之间，所述转移板具有平移运动和升降运动，所述吸嘴用吸取芯片槽内的芯片。本实用新型专利技术芯片测试治具结构简单，整个过程不需要人工的投入，节省成本，提高了测试效率以及测试的准确率。测试效率以及测试的准确率。测试效率以及测试的准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试治具


[0001]本技术属于芯片检测
，具体涉及一种芯片测试治具。

技术介绍

[0002]芯片在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，通常应用在新能源、信息通讯和智能电网等领域。芯片包括芯片本体以及一体连接在芯片本体两侧的引脚，芯片在加工完成后，需要对其进行导通测试。
[0003]而在现有的芯片测试中，需要操作工将芯片放置在测试手指上，人工放置无法保证每个引脚都对准测试手指，因而无法保证测试结果的准确率，而且人工操作效率低，投入的成本高。

技术实现思路

[0004]本技术目的是为了克服现有技术的不足而提供一种芯片测试治具。
[0005]为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种芯片测试治具，它包括：
[0006]测试组件，所述测试组件包括主底板、固定在所述主底板顶部的测试底板、开设在所述测试底板顶部的手指槽以及设置在所述手指槽内的测试手指；
[0007]载台组件，所述载台组件包括可移动地设置在所述主底板一侧的载台底板以及开设在所述载台底板顶部的芯片槽；
[0008]转移组件，所述转移组件包括转移板、固定在所述转移板底部的吸板以及固定在所述吸板底部的吸嘴，所述转移板设置在测试组件和载台组件之间，所述转移板具有平移运动和升降运动，所述吸嘴用吸取芯片槽内的芯片。
[0009]优化地，所述测试组件还包括开设在所述主底板顶部的测试槽、开设在所述测试槽底部的通槽、固定在所述主底板顶部的测试盖板以及贯穿所述测试盖板的避让槽，所述测试底板固定在所述测试槽内。
[0010]优化地，所述测试组件还包括固定在所述测试盖板顶部的第一定位柱、一体连接在所述测试底板顶部的凸块以及设置在所述凸块相向一侧的避让面，所述凸块置于避让槽内。
[0011]优化地，所述载台组件还包括设置在所述芯片槽四周的斜面以及固定在所述载台底板顶部的第二定位柱。
[0012]优化地，所述转移组件还包括固定在所述转移板底部的定位板以及贯穿所述定位板的定位孔，所述定位孔分别与第一定位柱和第二定位柱相配合。
[0013]优化地，所述吸嘴包括固定在所述吸板底部的固定部、一体连接在所述固定部底部的吸嘴本体、贯穿所述吸板和吸嘴本体的气流通道、一体连接在所述吸嘴本体底部的引脚撑板以及开设在相邻引脚撑板之间的凹槽。
[0014]优化地，所述定位孔的直径等于第一定位柱和第二定位柱的直径。
[0015]优化地，所述引脚撑板的宽度等于所述手指槽的宽度。
[0016]由于上述技术方案的运用，本技术与现有技术相比具有下列优点：
[0017]本技术芯片测试治具结构简单，通过载台组件中转芯片，由转移组件将芯片从载台组件取至测试组件处，完成测试，通过定位孔与第一定位柱和第二定位柱的配合，确保芯片取放位置的准确，通过凹槽与凸块的配合，确保芯片引脚准确地放置在测试手指上，整个过程不需要人工的投入，节省成本，提高了测试效率以及测试的准确率。
附图说明
[0018]图1为本技术待测芯片的结构示意图；
[0019]图2为本技术测试组件的结构示意图；
[0020]图3为本技术主底板的结构示意图；
[0021]图4为本技术测试底板的结构示意图；
[0022]图5为本技术测试底板的俯视图；
[0023]图6为本技术主底板和测试底板的位置关系图；
[0024]图7为本技术测试底板的剖视图；
[0025]图8为本技术芯片放置在测试底板上的剖视图；
[0026]图9为本技术测试盖板的结构示意图；
[0027]图10为本技术载台组件的结构示意图；
[0028]图11为本技术载台组件的俯视图；
[0029]图12为本技术测试组件和转移组件的位置关系图；
[0030]图13为本技术转移组件的结构示意图；
[0031]图14为本技术吸嘴的结构示意图；
[0032]图15为本技术吸嘴吸取芯片后的结构示意图；
[0033]图16为本技术吸嘴吸取芯片后的剖视图；
[0034]图17为本技术测试组件、载台组件和转移组件三者位置关系的结构示意简图；
[0035]图18为本技术凸块与凹槽的位置关系图；
[0036]图19为本技术图18的剖视图；
[0037]附图标记说明：
[0038]1、测试组件；101、主底板；102、测试槽；103、通槽；104、测试底板；105、手指槽；106、测试手指；107、凸块；108、避让面；109、测试盖板；110、避让槽；111、第一定位柱；
[0039]2、载台组件；201、载台底板；202、芯片槽；203、斜面；204、第二定位柱；
[0040]3、转移组件；301、转移板；302、定位板；303、定位孔；304、吸板；305、吸嘴；3051、固定部；3052、吸嘴本体；3053、引脚撑板；3054、气流通道；3055、凹槽。
具体实施方式
[0041]下面结合附图所示的实施例对本技术作进一步描述。
[0042]本技术芯片测试治具通常固定在自动化机台上，用于对芯片进行导通测试(如图1所示，为待测芯片的结构示意图，芯片包括芯片本体以及一体连接在芯片本体侧边
的引脚)，它包括测试组件1、载台组件2和转移组件3。
[0043]如图2所示，为测试组件1的结构示意图，测试组件1包括主底板101、测试底板104和测试盖板109。如图3所示，为主底板101的结构示意图，主底板101为金属材质的矩形板，通过螺丝紧固的方式固定在自动化机台上。测试槽102开设在主底板101的顶部(测试槽102用于固定测试底板104，图3中示出了两组测试槽102，在具体情况下，可根据实际要求增加测试槽102的数量)。通槽103开设在测试槽102的底部，测试手指106的上端部用于检测芯片，测试手指106的底部穿过通槽103而与显示屏相连，用于实时显示测试结果，因此通槽103用于为测试手指106的底部提供容置空间(测试手指106选用市面上常规的芯片测试手指即可)。
[0044]如图6所示，测试底板104固定在测试槽102的底部，每组测试槽102内固定有四组测试底板104，因此本技术芯片测试治具可同时完成八组芯片的检测(在实际生产中，可适当加长测试槽102的长度，以满足更多芯片的同步测试)。如图4、5所示，为测试底板104的结构示意图。手指槽105开设在测试底板104的顶部，测试手指106设置在手指槽105内，用于检测芯片的导通(手指槽105呈“十”字形，测试手指106的上端部位于手指槽105内，测试手指106的下端部穿过测试底板104而置于通槽103内，且测试手指106的数量与芯片的引脚数量相同；如图1所示，芯片的四条侧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试治具，所述芯片包括芯片本体以及一体连接在所述芯片本体侧边的引脚，其特征在于，它包括：测试组件(1)，所述测试组件(1)包括主底板(101)、固定在所述主底板(101)顶部的测试底板(104)、开设在所述测试底板(104)顶部的手指槽(105)以及设置在所述手指槽(105)内的测试手指(106)；载台组件(2)，所述载台组件(2)包括可移动地设置在所述主底板(101)一侧的载台底板(201)以及开设在所述载台底板(201)顶部的芯片槽(202)；转移组件(3)，所述转移组件(3)包括转移板(301)、固定在所述转移板(301)底部的吸板(304)以及固定在所述吸板(304)底部的吸嘴(305)，所述转移板(301)设置在测试组件(1)和载台组件(2)之间，所述转移板(301)具有平移运动和升降运动，所述吸嘴(305)用吸取芯片槽(202)内的芯片。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述测试组件(1)还包括开设在所述主底板(101)顶部的测试槽(102)、开设在所述测试槽(102)底部的通槽(103)、固定在所述主底板(101)顶部的测试盖板(109)以及贯穿所述测试盖板(109)的避让槽(110)，所述测试底板(104)固定在所述测试槽(102)内。3.根据权利要求2所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述测试组件(1)还包括固定在所述测试盖板(109)顶部的第一定位柱(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：蓝习麟，
申请(专利权)人：无锡市华宇光微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：