【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种半导体装置(1),其特征在于,包括:半导体元件(2);覆盖半导体元件(2)的覆盖部(4);粘接半导体元件(2)和覆盖部(4)的粘接部(5);以及进行半导体元件(2)的信号处理的信号处理部(8),在半导体元件(2)与覆盖部(4)之间形成中空部(9),在粘接部(5)中形成从中空部(9)通到外部的透气路(7),粘接部(5)覆盖整个信号处理部(8)地形成。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:熊田清,藤田和弥,
申请(专利权)人:夏普株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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