芯片测试方法、系统、设备及介质技术方案

本公开提供了一种芯片测试方法、系统、设备及介质，涉及芯片测试技术领域。所述方法应用于芯片测试系统，芯片测试系统包括测试板，测试板上设有多组相互独立的测试单元，每组测试单元包括至少一个用于向多个待测芯片提供驱动信号的驱动电源，获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态；若获取到一组测试单元内的至少一个驱动电源异常，则控制关闭所述至少一个驱动电源，以及控制关闭所述一组测试单元。本公开提供的芯片测试方法、系统、设备及介质，实时获取驱动电源的状态，当驱动电源异常时，精确关闭异常的驱动电源以及与异常的驱动电源相关的测试单元，提高产能，降低了测试成本。试成本。试成本。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法、系统、设备及介质


[0001]本公开涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试方法、芯片测试系统、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]芯片，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积小，是计算机等电子设备的重要组成部分。由于芯片结构惊喜、制造工艺复杂、流程繁琐，在芯片生产过程中易出现潜在缺陷，使芯片产品无法达到标准要求，在使用过程中出现故障。为了确保芯片质量，通常会对芯片测试，例如，对芯片的电学参数测量和功能测试等多个测试项目，以便区分产品等级。
[0003]在相关技术中，通常采用测试机台对芯片进行自动测试，依据测试结果将芯片划分为良品、次良品和不良品。在测试过程中，测试机会对每个测试板的电流进行监测，当监测到测试板的电流过载异常时，关闭整个测试板上的测试资源，从而保护测试机台。然而，该异常处理方式，大部分正常的芯片受部分异常芯片影响而被认定为不良品，无法完成测试，降低产品良率。
[0004]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本公开提供一种芯片测试方法、芯片测试系统、电子设备及计算机可读存储介质，当驱动电源异常时，能够精确关闭异常的驱动电源以及与异常的驱动电源相关的测试单元，提高产能，降低测试成本，至少在一定程度上克服相关技术中提供的现有芯片测试方法对部分正常芯片无法完成测试、降低产品良率的问题。
[0006]本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。
[0007]根据本公开的一个方面，提供一种芯片测试方法，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括测试板，测试板上设有多组相互独立的测试单元，每组测试单元包括至少一个用于向多个待测芯片提供驱动信号的驱动电源，所述方法包括：
[0008]获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态；
[0009]若获取到一组测试单元内的至少一个驱动电源异常，则控制关闭所述至少一个驱动电源，以及控制关闭所述一组测试单元。
[0010]在本公开的一个实施例中，在所述获取到一组测试单元内的至少一个驱动电源异常之后，所述方法还包括：
[0011]获取所述至少一个异常的驱动电源的驱动方式；
[0012]当所述至少一个异常的驱动电源的驱动方式为第一驱动方式时，执行所述控制关闭所述至少一个驱动电源，以及控制关闭所述一组测试单元的操作。
[0013]在本公开的一个实施例中，所述方法还包括：
[0014]当所述至少一个异常的驱动电源的驱动方式为第二驱动方式时，则控制关闭多组所述测试单元。
[0015]在本公开的一个实施例中，所述驱动电源的驱动方式存储于状态寄存器中，
[0016]所述获取所述至少一个异常的驱动电源的驱动方式，包括：
[0017]从状态寄存器中获取所述异常的驱动电源的驱动方式；或者，接收所述状态寄存器上报的所述异常的驱动电源的驱动方式。
[0018]在本公开的一个实施例中，所述获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态，包括：
[0019]从状态寄存器中周期性获取所述驱动电源的状态。
[0020]在本公开的一个实施例中，所述获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态，包括：
[0021]当状态寄存器中存储的驱动电源的状态为异常状态时，接收状态寄存器上报的驱动电源的异常状态。
[0022]在本公开的一个实施例中，所述方法还包括：
[0023]所述状态寄存器存储有所述驱动电源的状态，其中，所述状态寄存器更新所述驱动电源发生状态变化后的状态。
[0024]在本公开的一个实施例中，在所述获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态之前，所述方法包括：
[0025]在测试过程中，实时监测每组测试单元内的至少一个所述驱动电源输出的电信号；
[0026]当所述驱动电源输出的电信号满足预设过载保护条件时，判定所述驱动电源异常。
[0027]在本公开的一个实施例中，所述方法还包括：
[0028]当所述驱动电源输出的电信号不满足所述预设过载保护条件时，判定所述驱动电源正常。
[0029]在本公开的一个实施例中，在所述控制关闭所述一组测试单元之前，所述方法还包括：
[0030]获取对应关系表，其中，所述对应关系表用于指示至少一个所述驱动电源与所述每组测试单元之间的对应关系；
[0031]根据所述对应关系表，查找与异常状态的所述至少一个驱动电源对应的测试单元；
[0032]其中，所述控制关闭所述一组测试单元，包括：
[0033]控制查找得到的所述测试单元关闭。
[0034]在本公开的一个实施例中，在所述获取对应关系表之前，所述方法还包括：
[0035]构建对应关系表，其中，所述对应关系表用于指示至少一个所述驱动电源与所述每组测试单元之间的对应关系。
[0036]根据本公开的另一个方面，提供了一种芯片测试系统，包括测试板和控制模块，所述测试板上设有多组相互独立的测试单元，每组测试单元包括至少一个用于向多个待测芯
片提供驱动信号的驱动电源；
[0037]所述控制模块，用于获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态；若获取到一组测试单元内的至少一个驱动电源异常，则控制关闭所述至少一个驱动电源，以及控制关闭所述一组测试单元。
[0038]在本公开的一个实施例中，所述每组测试单元内的一个驱动电源通过继电器电连接多个待测芯片，所述继电器与所述控制模块电连接。
[0039]根据本公开的另一个方面，提供了一种电子设备，包括：处理器；以及存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行上述的芯片测试方法。
[0040]根据本公开的另一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的芯片测试方法。
[0041]根据本公开的另一个方面，提供了一种计算机程序产品，包括可执行指令，该可执行指令存储在计算机可读存储介质中，电子设备的处理器从计算机可读存储介质读取该可执行指令，处理器执行该可执行指令，使得该电子设备执行上述实施例中任一所述的芯片测试方法。
[0042]本公开提供了一种芯片测试方法、系统、设备及介质，通过将测试板上设置多组相互独立的测试单元，每组测试单元内设置至少一个驱动电源，实时获取驱动电源的状态，当获取到驱动电源处于异常状态时，精确关闭异常的驱动电源以及与异常的驱动电源相关的测试单元，与相关技术相比，能够有效筛选未受到异常的驱动电源影响的正常芯片，从而继续对上述正常芯片进行后续测试，以提高产能，降低了测试成本。
[0043]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括测试板，测试板上设有多组相互独立的测试单元，每组测试单元包括至少一个用于向多个待测芯片提供驱动信号的驱动电源，所述方法包括：获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态；若获取到一组测试单元内的至少一个驱动电源异常，则控制关闭所述至少一个驱动电源，以及控制关闭所述一组测试单元。2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述获取到一组测试单元内的至少一个驱动电源异常之后，所述方法还包括：获取至少一个异常的驱动电源的驱动方式；当至少一个异常的驱动电源的驱动方式为第一驱动方式时，执行所述控制关闭所述至少一个驱动电源，以及控制关闭所述一组测试单元的操作。3.根据权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当至少一个异常的驱动电源的驱动方式为第二驱动方式时，则控制关闭多组所述测试单元。4.根据权利要求2或3所述的芯片测试方法，其特征在于，所述驱动电源的驱动方式存储于状态寄存器中，所述获取至少一个异常的驱动电源的驱动方式，包括：从状态寄存器中获取所述异常的驱动电源的驱动方式；或者，接收所述状态寄存器上报的所述异常的驱动电源的驱动方式。5.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态，包括：从状态寄存器中周期性获取所述驱动电源的状态。6.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态，包括：当状态寄存器中存储的驱动电源的状态为异常状态时，接收状态寄存器上报的驱动电源的异常状态。7.根据权利要求5或6所述的芯片测试方法，其特征在于，所述方法还包括：所述状态寄存器存储有所述驱动电源的状态，其中，所述状态寄存器更新所述驱动电源发生状态变化后的状态。8.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述获取每组测试单元内的至少一个所述驱动电源的状态之前，所述方法包括：在测试过程中，实时监测每...

【专利技术属性】
技术研发人员：屈志，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：